Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad

Descripción del servicio

La Difracción de Rayos X es una técnica muy útil para la caracterización estructural de materiales que presentan cierto grado de cristalinidad. El difractograma de RX de polvo nos proporciona la posición, la intensidad y el perfil de los picos en función del ángulo 2theta. Con esta información es posible la identificación y cuantificación de fases cristalinas, la determinación del tamaño del cristal y su simetría, de la celda unidad, y con unos conocimientos suficientes de cristalografía, la resolución de la estructura de materiales policristalinos, es decir, la determinación de la posición de cada uno de sus átomos. Equipamiento Difractómetro de Rayos X Policristal X Pert Pro PANalytical con una configuración theta -2theta. El equipo permite realizar análisis cualitativo, cuantitativo y ángulo bajo, empleando radiación CuKalfa (lambda = 1,5406 Å, 45 kV, 40 mA). El equipo dispone de un detector rápido X Celerator y un cargador de muestras de 15 posiciones que permiten el análisis de un gran número de muestras en tiempos más cortos comparados con los detectores tradicionales. Cámara de reacción (Anton Paar XRK900): permite realizar análisis de difracción de Rayos X modificando la temperatura y empleando distintos gases (aire, N2 y vacío).