XRD (Difracción de Rayos X) Láminas delgadas

Descripción del servicio

Siemens D-5000 (Equipo A): Este equipo es un difractómetro convencional con una fuente de rayos-X estándar de cobre. El D5000 se utiliza para la mayoría de trabajos de caracterización básicos . Las medidas mas características son la difracción de rayos-X en modo convencional, reflectometría, difracción de rayos-X en incidencia rasante y medidas "out-of-plane " en capas delgadas. Bruker D8 Advance (Equipo B): Este instrumento es el más versátil del laboratorio, incluye un detector bidimensional que permite medidas de alta precisión y bastante más rápidas que en los detectores convencionales. Las prestaciones más comunes son medidas de textura de capas delgadas con detector bidimensional, determinación de la distribución de orientación de los cristales en muestras magnéticas y superconductoras, evaluación de reacciones químicas en capas delgadas , medidas de la tensión en capas delgadas epitaxiales y diagramas de estrés residual en capas policristalinas. Otras medidas que se realizan en este equipo son diagramas en modo microdifracción de muestras de poco volumen o poco tamaño o de pequeñas áreas. Por último, en este difractómetro también se adquieren diagramas realizados en muestras en capilar. D8 Discover (Equipo C): Difractómetro de alta resolución para aplicaciones para capas delgadas. Está equipado por un goniómetro motorizado de 4 ángulos para realizar las medidas de reflectometría, medidas rocking curves, mapas del espacio recíproco e identificación de fases.