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Análisis por microfluorescencia de rayos X
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
|
CENIM - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE RAYOS X
- Instituto: CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIONES METALURGICAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.cenim.csic.es/
El laboratorio de Rayos X está dotado de los siguientes equipos: - Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con un sistema analizador por dispersión de longitud de onda de rayos X (WDX) Bruker S8 tiger - Equipo de microfluorescencia de Rayos X Fischerscope XUV con detector de dispersión de energías de rayos X (EDX). - Difractómetro de rayos X Siemens D5000, equipado con un anillo central de Euler abierto - Difractómetro de rayos X de alta precisión Bruker AXS D8 advance, con anillo central de Euler abierto, equipado con un sistema de detector lineal y un puntero láser controlado por vídeo cámara para asegurar la correcta colocación de la muestra y alineado del haz. En el laboratorio se realizan, entre otros, los siguientes ensayos a) Análisis por fluorescencia y microfluorescencia de rayos X (FRD y µFRD) b) Caracterización estructural por difracción de rayos X (XRD). Para una descripción más detallada de los ensayos, vease el apartado "Prestaciones" en el Menu principal.
Análisis por microfluorescencia de rayos X
Descripción de la prestación
El análisis por microfluorescencia de rayos X permite el análisis químico elemental de regiones de reducidas dimensiones, entre 100 y 3000 micras. Posee una cámara con sistema de vacío por lo que se pueden analizar elementos ligeros a partir de Z=11 (Na). También dispone de una mesa XYZ motorizada y videocámara para el posicionamiento exacto de las muestras. Se pueden llevar a cabo medida de espesores de recubrimiento.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | € / muestra | 67.34 € | 73.75 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- XRD (Difracción de Rayos X) : Medida de los parámetros de la celda cristalina
- XRD (Difracción de Rayos X) Láminas delgadas
- Determinación de tensiones residuales