- Áreas de investigación
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- Humanidades y Ciencias Sociales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Barrido
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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SERVICIO DE MICROCOPÍA ELECTRÓNICA Y ÓPTICA ICM - Barcelona |
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SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA ICMS - Sevilla |
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA ICTP - Madrid |
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LABORATORIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS IH - Madrid |
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Unidad de apoyo a la investigación II: estructura y espectroscopía ICP - Madrid |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
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Servicio de Análisis Térmico - SEM INCAR - Oviedo |
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SERVICIO DE ANALISIS Y CARACTERIZACION ICB - Zaragoza |
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Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y AFM ICV - Madrid |
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Laboratorio de Microscopía Aplicada/Visión Artificial IGME - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE MICROCOPÍA ELECTRÓNICA Y ÓPTICA
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIAS DEL MAR
- Localidad: Barcelona (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.cmima.csic.es/serveis/micro/
Equipos: dos microscopios electrónicos de barrido, uno de Emisión de Campo (FESEM) HITACHI SU8600, y otro de presión variable (VPSEM), HITACHI S-3500N. El SU8600, está equipado con los siguientes detectores: 2 de electrones secundarios, dos de retrodispersados y dos de rayos X por dispersión de energías (EDS, BRUKER QUANTAX XFlash 7) para la realización de microanálisis. Un detector STEM para campo claro y campo oscuro. El S-3500N dispone de un detector de secundarios, uno de retrodispersados, de un espectrómetro EDS (BRUKER QUANTAX 200 y detector XFlash 6/30) y de un crio-SEM (QUORUM PP3000T) para el estudio de muestras crio-fijadas. Preparación de muestras: secado por punto crítico (LEICA EM CPD300), metalización por sputtering con cromo, iridio u oro y evaporación de carbón (QUORUM Q150T Plus). 8 Microscopios Ópticos (OLYMPUS- BX40F4, OLYMPUS-BX61, LEITZ-DM IL, 2 NIKON-DIAPHOT-200, ZEISS-AXIOVERT, LEICA-DM IRB S8F, ZEISS-Colibri), la mayoría equipados con epifluorescencia.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
El análisis químico en el microscopio electrónico de barrido se realiza midiendo la energía y la intensidad de los rayos X generados al enfocar un haz de electrones sobre la superficie de la muestra. El espectrómetro de dispersión de energía (EDS) Bruker Quantax tiene un detector XFlash 7 SDD con un área activa de 30 mm2 y una resolución de energía <123 eV. Es ideal para análisis de elementos ligeros y de baja energía y para micro y nanoanálisis. El software Esprit permite realizar análisis cualitativos y cuantitativos.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Microanálisis de Rayos X (VPSEM-EDX) | hora | 50.88 € | 62.99 € |
| Microanálisis de Rayos X (FESEM-EDX) | hora | 58.04 € | 71.85 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización morfológica y análisis de organismos marinos y terrestres: Microscopía Electrónica de barrido (SEM) y microanálisis (EDS)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de barrido (SEM): Presión variable (Low vacuum LV)
- Tratamiento muestra: Metalización (Sputtering)
- Tratamiento muestra: Secado
- Preparación de muestras
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Localidad: Sevilla (Sevilla)
- Web del servicio: http://www.icms.us-csic.es/es/electrones
El servicio comprende la microscopía electrónica de barrido (SEM), junto con un laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM. --El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales. El equipo disponible es un SEM-FEG Hitachi-S4800 (0.5-30 kV), con analizador EDX Bruker-X Flash-4010 (resolución 133 eV en el MnKα) y un detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM). --El laboratorio de preparación de muestras dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco y ultrasónica, pulidora, “disc-grinder”, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
Microscopía electrónica de barrido (SEM): EDS (Espectroscopia de rayos-X por energía dispersiva). El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo, SEM-FEG, tiene acoplado un detector EDS para analizar la emisión de rayos-X por dispersión de energías. Este equipo permite realizar análisis elementales de áreas seleccionadas, análisis puntuales y en línea. Igualmente se pueden realizar mapas elementales para elementos seleccionados que se pueden superponer para hacer mapas composicionales. La resolución en energía del analizador son 133 eV en la línea MnK¿ y se pueden detectar elementos ligeros a partir del Boro.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 71.18 € | 88.13 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DE POLIMEROS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ictp.csic.es/
El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE ALTA RESOLUCIÓN. Hitachi: Modelo S-8000 con filamento de emisión de campo.El microscopio está equipado con 4 detectores, lo que permite realizar imágenes de electrones transmitidos (en campo claro y campo oscuro), de electrones secundarios y de electrones retrodispersados; así como también, combinaciones de éstos dos últimos. El microscopio está equipado con 4 detectores, lo que permite realizar imágenes de electrones transmitidos (en campo claro y campo oscuro), de electrones secundarios y de electrones retrodispersados; así como también, combinaciones de éstos dos últimoTambién dispone de un sistema de microanálisis por energías dispersivas de rayos X marca Bruker modelo Quantax 200.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General. FE-SEM | euro / hora | 135.85 € | 148.79 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización molecular: UV
- Espectroscopía micro-Raman
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Espectroscopía: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - IRTF)
- Tratamiento muestra: Corte
- Tratamiento muestra: Prensado
- Caracterización dieléctrica
- Resistencia a la tracción/compresión
- Resonancia Magnética Nuclear de Sólidos
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Análisis de propiedades mecanodinámicas de materiales
- Extrusión de materiales
- Elaboración de informes técnicos (peritajes, tasaciones)
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS
- Instituto: INSTITUTO DE HISTORIA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ih.csic.es/
Estudio arqueológico y caracterización microscopica de materiales, preparción de muestras mediante metalización (Carbon y Au-Pd) y microanálisis mediante espectroscopia por energía dispersiva de rayos X (SEM-EDX)
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
El microscopio electrónico de barrido ¿Scanning Electron Microscope- (MEB/SEM) permite la observación y caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos mediante el estudio de su superficie, empleando como fuente un haz de electrones de alta energía. La técnica se basa en el barrido controlado de la superficie de la muestra y en el aprovechamiento de las diferentes señales emitidas durante los procesos de interacción que tienen lugar entre los átomos que la constituyen y el haz. Para generar información sobre la topografía, se aprovecha principalmente la emisión de electrones secundarios -Secondary Electrons- (SE). La emisión de electrones retrodispersados -Backscatered electrons- (BSE) aporta información sobre las diferentes fases de composición, en función de las diferencias existentes en el peso atómico (Z) de los elementos constituyentes. La emisión de Rayos X característicos permite realizar análisis de composición cuantitativos o cualitativos de la muestra. En el microanálisis por energía dispersiva de rayos X (EDX) se estudia la energía de la radiación de Rayos X característicos emitidos por la muestra como resultado del bombardeo con el haz de electrones, que proporciona información sobre la composición elemental del total de la muestra, o de zonas concretas de la misma| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 58.93 € | 64.54 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Unidad de apoyo a la investigación II: estructura y espectroscopía
- Instituto: INSTITUTO DE CATALISIS Y PETROLEOQUIMICA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icp.csic.es/tecnicas-instrumentales.php?lang=1
La Unidad de Apoyo a la Investigación nació en el año 1990 con la finalidad de centralizar las técnicas instrumentales de caracterización de materiales del ICP en una Unidad, optimizando recursos técnicos y humanos. Durante estos años la UA ha ido mejorando de forma progresiva dichos recursos, adquiriendo una sólida experiencia en el área de la caracterización de materiales. El objetivo de la Unidad de Apoyo a la Investigación II del ICP es servir de apoyo analítico a la actividad investigadora que se desarrolla en el centro y para ello cuenta con técnicas de caracterización de materiales: difracción de RX (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), espectroscopía UV-Vis-NIR, porosimetría de mercurio (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), picnometría de helio, y SEM que dan servicio a las diversas líneas de investigación del ICP. La Unidad de Apoyo a la Investigación II también presta sus servicios a investigadores externos al ICP procedentes de empresas privadas y OPIs
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
Objetivo Dar apoyo a la investigación científica tanto interna (del ICP) como externa (de otros centros del CSIC, OPIs, universidades y empresas) mediante la técnica de Microscopía de Electrónica de Barrido (SEM). El equipo Se dispone de un microscopio electrónico de barrido de sobremesa de la marca Hitachi y modelo TM-1000, que incluye un sistema de microanálisis mediante un espectrómetro de rayos X de energía dispersiva (EDS). Características y prestaciones generales del equipo TM-1000: ¿ Mínimo-máximo número de aumentos: 25 - 10000 ¿ Amplia versatilidad en tamaño y naturaleza de las muestras: en polvo o voluminosas (insectos, plantas, membranas, monolitos catalíticos, etc.) ¿ Detector de electrones retrodispersados (backscattering) para generar imágenes ¿ No requiere recubrimiento metálico de la superficie de la muestra para hacerla conductora ¿ Detector de rayos X (EDS) para análisis químico, ya sea general o puntual ¿ Manejo sencillo. Guía de servicio Usuarios internos (del ICP) El personal del Instituto de Catálisis y Petroleoquímica puede optar por un servicio con o sin técnico. La sencillez en el manejo del equipo en general estimula a que cada usuario estudie sus propias muestras. A pesar de su sencillez en el manejo y de que las instrucciones están disponibles en el propio laboratorio, se recomienda encarecidamente que la primera vez que se use se haga bajo la supervisión del responsable técnico (Manuel Sánchez, manuel.sanchez@icp.csic.es; Tel. 114795), quien impartirá un curso de aprendizaje, normalmente inferior a una hora. De la misma forma, se recomienda que todo usuario que no haya usado el equipo en los últimos meses, haga una sesión de reciclaje con el responsable técnico. Se recomienda que usuarios muy esporádicos opten por la opción de estudiar sus muestras a través del responsable técnico. El uso del equipo (con o sin técnico) es gratuito para todo el personal del centro, y queda sujeto a la disponibilidad del equipo. Se lleva un registro de usuarios a través del sistema de reservas de SOPRUS. El usuario está obligado a registrar las horas de uso con antelación mediante la aplicación SOPRUS. El equipo está ubicado en el laboratorio S04, en el sótano del edificio principal. Las horas de uso del equipo se limitan a 4 por día y 10 por semana, a menos que el equipo esté libre, lo que no exime al usuario de registrar el correspondiente turno. Todo usuario del equipo está obligado a informar al responsable técnico (Manuel Sánchez, manuel.sanchez@icp.csic.es; Tel. 114795) de cualquier anomalía o incidencia, mensaje de error inhabitual o no subsanable fácilmente, material deteriorado, deficiencia de prestaciones, etc. que detecte en cualquiera de los componentes del equipo o de cualquier accesorio durante el tiempo de uso del microscopio, preferiblemente en el mismo momento de producirse. Usuarios externos Los usuarios ajenos al Instituto de Catálisis y Petroleoquímca están obligados a contactar con el responsable técnico (Manuel Sánchez, manuel.sanchez@icp.csic.es; Tel. 915854795) antes de cada uso. Salvo permiso especial, no están autorizados a usar el equipo en ausencia del responsable técnico. Todos los turnos se reservarán a través del responsable técnico, y quedan sujetos a la disponibilidad del equipo, pues los usuarios internos tienen preferencia en su uso. Para los usuarios externos, también existe la posibilidad de solicitar análisis por SEM sin necesidad de que ningún miembro del equipo de investigador solicitante esté presente. Tipos de servicio Las medidas que se pueden llevar a cabo son: 1. Registro de imágenes: Detector de electrones retrodispersados (backscattering), sensible a la composición de las muestras. 2. Análisis químico general de la muestra por EDS, tanto general como local. Se dispone de un pequeño laboratorio de preparación de muestras básico, que cuenta con espátula, pinzas, cinta adhesiva de doble cara, y los portas correspondientes.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Con técnico | euro / hora | 82.18 € | 90.01 € |
| Sin técnico | € / hora | 62.82 € | 71.79 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización molecular: UV
- Densidad
- Porosidad
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
-El microscopio electrónico de barrido es un instrumento que permite la observación y caracterización de materiales inorgánicos y orgánicos mediante el estudio de superficies. A partir del chorro de electrones que incide sobre la muestra se generan distintos tipos de señal desde la muestra (electrones secundarios, retrodispersados, rayos X, etc) que se utilizan para examinar muchas de sus características (topografía, densidad de los distintos componentes). El laboratorio cuenta con dos microscopios electrónicos equipados con grandes cámaras para muestras grandes, y que incluye tanto el detector de electrones secundarios y un detector de electrones retrodispersados. Ambos microscopios cuentan con sonda EDS (Espectroscopia de Energía Dispersiva) -El analizador por dispersión de energía de rayos X (EDS) es una técnica de análisis no destructiva donde la radiación utilizada son los rayos X característicos que emite la muestra como resultado del bombardeo de electrones. El análisis de esta radiación proporciona una información analítica sobre la composición del total o de zonas de la muestra de hasta unas cuantas micras de diámetro. Estos análisis pueden efectuarse sobre muestras biológicas no metalizadas proporcionando un espectro de composición elemental porcentual. Los resultados en muestras biológicas no metalizadas son satisfactorios. No obstante, los valores son mas resolutivos si las muestras están pulidas y si las muestras biológicas son previamente metalizadas. Tanto el QUANTA 200 como el Inspect S están dotados de detectores EDS. El iNSPECT de FEI COMPANY trabaja en bajo y alto vacío y el Quanta 200 de FEI COMPANY con alto vacío, bajo vacío y modo ambiental. Las sesiones serán siempre asistidas por personal técnico especializado, y reservadas con antelación por vía telefónica o por email. La duración de las mismas será de 9:30 a 13:00 horas y de 14:30 a 16:00 horas.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 113.04 € | 123.8 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Servicio de Análisis Térmico - SEM
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DEL CARBONO
- Localidad: Oviedo (Asturias)
- Web del servicio: http://www.incar.csic.es/
El servicio de Análisis Térmico-SEM es una unidad que combina técnicas avanzadas para la caracterización térmica, microestructural y composicional de materiales. Esta unidad está equipada con una amplia gama de instrumentos que trabajan de manera complementaria para proporcionar datos precisos y detallados. Cuenta con equipos como: • Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (TG-DSC): para estudiar cambios de masa y transiciones térmicas. • Termogravimetría acoplada a un espectrómetro de masas (TGA-DSC-MS): combina el análisis termogravimétrico con espectrometría de masas, permitiendo la identificación de gases liberados durante los procesos térmicos. • Horno de alta temperatura: permite el tratamiento térmico de muestras a altas temperaturas (1500-2800 °C) en atmósferas controladas (argón, nitrógeno o vacío). • Cajas secas: permiten manipulación y conservación de muestras y materiales en atmósferas inertes y secas. • Difusividad térmica: mide condu
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
Se dispone de un microscopio electrónico de barrido (SEM) de emisión de campo Quanta FEG 650, un equipo de alta gama que combina resolución nanométrica con una gran versatilidad para la caracterización avanzada de materiales. Este microscopio está equipado con un analizador de energía dispersiva de rayos X (EDX) que facilita la identificación y mapeo elemental de las muestras con alta precisión, proporcionando información detallada sobre su composición química. El Quanta FEG 650 destaca por su capacidad para operar en tres modos distintos, adaptándose a las necesidades específicas de cada tipo de muestra: ¿ Alto vacío: adecuado para muestras conductoras o recubiertas con una capa metálica, ideal para obtener imágenes de alta resolución. ¿ Bajo vacío: permite analizar muestras no conductoras sin necesidad de recubrimiento, ampliando su aplicabilidad a materiales aislantes o sensibles. ¿ ESEM (Environmental Scanning Electron Microscopy): posibilita el estudio de muestras húmedas, biológicas o sensibles al vacío en condiciones de humedad controlada, preservando su estado natural y evitando alteraciones. Además, el equipo cuenta con una amplia variedad de detectores: everhart-Thornley, de electrones retrodispersados (Backscattered electron), large field y de microscopia electronica de transmision de barrido (STEM).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 132.78 € | 170.71 € |
| Metalizado muestra | € / muestra | 6.03 € | 7.23 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE ANALISIS Y CARACTERIZACION
- Instituto: INSTITUTO DE CARBOQUIMICA
- Localidad: Zaragoza (Zaragoza)
- Web del servicio: http://www.icb.csic.es/
El Servicio de Análisis y Caracterización del Instituto de Carboquímica es una unidad de apoyo a la investigación que engloba una amplia variedad de técnicas analíticas e instrumentales para la caracterización de todo tipo de materiales. En la actualidad, el servicio ofrece numerosas prestaciones en su catálogo de servicios, entre las que se incluyen la caracterización de combustibles (análisis elemental, inmediato y poder calorífico), cromatografía iónica, análisis químico mediante ICP-OES, espectroscopías (XPS, Raman, FTIR), difracción de rayos X, microscopia electrónica de barrido (SEM), caracterización textural (fisisorción, porosimetría de mercurio, densidad) y distribución de tamaño de partícula. El laboratorio presta sus servicios tanto a los investigadores del ICB como a los investigadores de otros OPIS y Universidades, así como a empresas y particulares que lo requieran.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
El microscopio electrónico de barrido (SEM) se fundamenta en la interacciónn de un haz primario de electrones con el objeto que se pretende estudiar. Se trata de un haz muy fino, intenso y estable que, explorando la superficie de la muestra, origina señales diversas que permiten obtener información tanto morfológica como esctructural y microanalítica. El Servicio de Análisis del ICB dispone de un microscopio SEM EDX Hitachi S-3400N de presión variable hasta 270 Pa con analizador EDX Rontec XFlash de Si (Li). Asímismo, dispone de un equipo de preparación de muestras que incluye el corte, pulido y recubrimiento con oro (sputtering) con espesor controlado.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Microscopia electrónica de barrido (SEM-EDX) | euro/hora | 77.57 € | 88.15 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis cenizas: Alta T
- Análisis elemental CHSN
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis humedad
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Análisis TOC
- Análisis volátiles
- Aniones
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización molecular: FT-IR
- Densidad
- Diseño mediante CAD de piezas 2D o 3D
- Espectroscopía micro-Raman
- Poder calorífico
- Porosidad
- Prototipado rápido de piezas por depósito de plástico
- Spectroscopy: X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
- Superficie específica
- Espectrometría de masas acoplada a DSC/ATD/TG para análisis de gases efluentes
- Preparación de muestras
- Fabricación de piezas mediante procedimiento de arranque de viruta
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y AFM
- Instituto: INSTITUTO DE CERAMICA Y VIDRIO
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icv.csic.es/
Caracterización morfológica y microanalítica de materiales orgánicos e inorgánicos mediante imágenes electrónicas y microanálisis de rayos X por dispersión de energía. Dependiendo de los detectores que tengan los diferentes microscopios es posible obtener imágenes de electrones secundarios, retrodispersados, transmitidos, etc. imágenes que proporcionan información morfológica y composicional. Mediante el detector de rayos X acoplado al SEM, al cual le llegan los rayos X generados en la muestra por interacción del haz de electrones, se obtiene información microanalítica cualitativa o cuantitativa de las diferentes áreas de observación.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
Caracterización morfológica y microanalítica de materiales orgánicos e inorgánicos mediante imágenes electrónicas y microanálisis de rayos X por dispersión de energía. Dependiendo de los detectores que tengan los diferentes microscopios es posible obtener imágenes de electrones secundarios, retrodispersados, transmitidos, etc. imágenes que proporcionan información morfológica y composicional. Mediante el detector de rayos X acoplado al SEM, al cual le llegan los rayos X generados en la muestra por interacción del haz de electrones, se obtiene información microanalítica cualitativa o cuantitativa de las diferentes áreas de observación.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General. FE-SEM | euro / hora | 54.24 € | 83.11 € |
Otras prestaciones de servicio
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Microscopía Aplicada/Visión Artificial
- Instituto: INSTITUTO GEOLOGICO Y MINERO DE ESPAÑA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: https://www.igme.es/servicio/
Este laboratorio presta ayuda cientifico-técnica en la caracterización microscópica y microanalítica de los materiales que se estudian en los Proyectos y Contratos de Investigación que se llevan a cabo en el IGME, en otros Institutos del CSIC y otros OPIs. Así mismo se realizan trabajos de apoyo técnico a la empresa privada. El laboratorio cuenta con un microscopio electrónico de barrido modelo JEOL JSM-6010 PLUS/LA, con filamento termoiónico de W, con presión de vacío variable. Está equipado con detectores de electrones secundarios, retrodispersados y un sistema de microanálisis EDS (energías dispersivas). También se cuenta con un recubridor de carbono modelo Cressington 108carbon/A, lupa binocular para montaje de muestras y estufa, para secado de muestras.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Descripción de la prestación
Preparación de la muestra: Secado de la muestra en estufa. Metalizado de las muestras con recubridor de carbono modelo Cressington 108carbon/A. Para el montaje se utiliza portaobjetos de aluminio y cinta de carbono conductora. Observación previa de la muestra (si es necesaria): Con estereomicroscopio Estudio por microscopía electrónica de barrido (scanning electron microscopy, SEM): Se utiliza un equipo JEOL modelo JSM-6010 PLUS/LA, con una fuente termoiónica de wolframio.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Sesión supervisada | €/ hora | 104.62 € | 114.58 € |
| Envío de resultados | €/ sesión | 49.68 € | 54.42 € |
| Metalizado muestra | € / proceso | 5.82 € | 6.37 € |
| Sesión sin supervisión | €/ hora | 60.11 € | 65.83 € |
| Sesión supervisada parcialmente | € / hora | 80.43 € | 88.09 € |
Otras prestaciones de servicio
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad