- Áreas de investigación
-
- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
-
- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
-
- Barrido
Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
|
SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
|||
|
MICROSCOPIA OPTICA Y ELECTRONICA GEO3BCN - Barcelona |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
Descripción de la prestación
- Microscopio Electrónico de Barrido FEI QUANTA 200 que opera con tres modos de vacío (alto vacío, bajo vacío y modo ambiental) con detectores de electrones secundarios y retrodispersados para todos los modos de vacío, el Microscopio dispone de un sistema de Análisis integrado OXFORD INSTRUMENTS Analytical-Inca con dos detectores de Rayos X que se pueden usar simultanea y alternativamente, uno EDS (Energía Dispersiva) y otro WDS (Longitud de Onda Dispersiva). Dispone de un peltier de 0ºC a 20 ºC que permite variar las condiciones de Temperatura y presión de la muestra dentro de la cámara. - Microscopio Electrónico de Barrido FEI INSPECT con detector de electrones secundarios y retrodispersados, opera en modo alto vacío y bajo vacío. El microscopio dispone de un sistema de análisis integrado OXFORD INSTRUMENTS analytical-INCA. Este microscopio dispone de un detector de CATODOLUMINISCENCIA con sistema de refrigeración con N2 líquido y ampliación espectral hasta el Infrarrojo Modelo GATAN Mono CL3. -Cuando se trabaja en modo ambiental y en modo bajo vaciío, la muestra conserva su estado natural y no es necesaria una preparación de muestra estandar.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Microscopía electrónica | euro / hora | 113.04 € | 123.8 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: MICROSCOPIA OPTICA Y ELECTRONICA
- Instituto: GEOCIENCIAS BARCELONA
- Localidad: Barcelona (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.geo3bcn.csic.es/
El Servicio de Microscopia Óptica y Electrónica es un servicio general del instituto que da apoyo a diversas líneas de investigación que se desarrollan tanto dentro como fuera del del centro, que incluyen, entre otras: paleoecología, paleoclimatología y cambio climático, arqueología, volcanología, petrología, recursos geológicos, riesgos geológicos, etc. Principalmente, todas aquellas líneas de investigación que requieran de caracterización física de materiales ya sean naturales o sintéticos dispondrán con este nuevo servicio de la instrumentación necesaria para poder realizar con éxito tareas de caracterización física y química de materiales a diferentes escalas microscópicas
Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
Descripción de la prestación
Caracterización textural de muestras de rocas y minerales mediante microscopía electrónica.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Microscopía electrónica | euro / hora | 83.75 € | 91.73 € |