Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad

El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)

La Unidad de Apoyo a la Investigación nació en el año 1990 con la finalidad de centralizar las técnicas instrumentales de caracterización de materiales del ICP en una Unidad, optimizando recursos técnicos y humanos. Durante estos años la UA ha ido mejorando de forma progresiva dichos recursos, adquiriendo una sólida experiencia en el área de la caracterización de materiales. El objetivo de la Unidad de Apoyo a la Investigación II del ICP es servir de apoyo analítico a la actividad investigadora que se desarrolla en el centro y para ello cuenta con técnicas de caracterización de materiales: difracción de RX (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), espectroscopía UV-Vis-NIR, porosimetría de mercurio (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), picnometría de helio, y SEM que dan servicio a las diversas líneas de investigación del ICP. La Unidad de Apoyo a la Investigación II también presta sus servicios a investigadores externos al ICP procedentes de empresas privadas y OPIs

El laboratorio de Rayos X está dotado de los siguientes equipos: - Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con un sistema analizador por dispersión de longitud de onda de rayos X (WDX) Bruker S8 tiger - Equipo de microfluorescencia de Rayos X Fischerscope XUV con detector de dispersión de energías de rayos X (EDX). - Difractómetro de rayos X Siemens D5000, equipado con un anillo central de Euler abierto - Difractómetro de rayos X de alta precisión Bruker AXS D8 advance, con anillo central de Euler abierto, equipado con un sistema de detector lineal y un puntero láser controlado por vídeo cámara para asegurar la correcta colocación de la muestra y alineado del haz. En el laboratorio se realizan, entre otros, los siguientes ensayos a) Análisis por fluorescencia y microfluorescencia de rayos X (FRD y µFRD) b) Caracterización estructural por difracción de rayos X (XRD). Para una descripción más detallada de los ensayos, vease el apartado "Prestaciones" en el Menu principal.

En ciencia de materiales, el conocimiento de la estructura y composición de los materiales estudiados es un requisito clave para la comprensión de sus propiedades. Basándonos en el fenómeno de la difracción de rayos-X podemos adquirir una gran información tanto estructural como microestructural de los materiales cristalinos. El laboratorio está dotado de tres difractómetros, un difractómetro convencional de polvo (Siemens D-5000), un difractómetro de polvo con ánodo giratorio (Rigaku) y un difractómetro provisto de un goniómetro de cuatro ángulos (Bruker D8 Advance) con un detector 2D (Sistema GADDS). El objetivo del Servicio es atender las necesidades de los diferentes departamentos del centro así como a los usuarios externos solicitantes ofreciendo en todos los casos las máximas prestaciones posibles. La función más frecuente del Servicio son los análisis cualitativos y cuantitativos de fases cristalinas, así como la determinación estructural y microestructural en capes delgadas.