- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subagrupación
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- Caracterización Textural
Perfilometría
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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ICMAB - Cerdanyola del Vallès |
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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Servicio de Micro y Nanofabricación (MiNa) IMN-CNM - Tres Cantos |
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Laboratorio de Caracterización Superficial ICV - Madrid |
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Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas ICMM - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: PLATAFORMA NANOQUIM
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.icmab.csic.es
Cinco laboratorios de Sala Blanca clase 10.000 (ISO7): Lab. de litografía óptica Avanzada, Lab. de Caracterización de materiales funcionales en la nanoescala, Lab. de caracterización físico-química y Nanofabricacion, Lab. de síntesis Química y Laboratorio de alto control de humedad, para la deposisión de soluciones no-acuosas y el crecimiento de nanoestructuras; El laboratorio Nanoquim esta dedicado a la nanoestrucutración de materiales obtenido por procedimientos químicos, lo que contituye la caracterítica más distitiva de la Plataforma Nanoquim. Hay instalados unos 30 equipos científicos diferentes en la instalación, destinados al control de las propiedades físico-químicas de soluciones, equipamiento para la deposición y la nanoestrucutración, crecimiento de Nano-materiales, caracterización de películas delgadas, caracterización en la nanoescala, grabado selectivo físico-químicos para metales, óxidos y polímeros y equipamiento para contactos electrícos y litografía.
Perfilometría
Descripción de la prestación
The P-16+ stylus profiler es una solución de análisis de metrología superficial usada en una amplia gama de usos e industrias, de departamentos RD y universidades y tambien a la supervisión de proceso y la producción. Esta solución de análisis superficial con control de fuerza exacto proporciona resolución vertical excelente, precisión, y fiabilidad de medidas. Esta solución de análisis superficial permite el análisis de altura de paso automatizado, el contorno superficial, la ondulación y medidas de brusquedad con el análisis detallado de 2D o de 3D de topografía para una variedad de superficies y materiales. Este equipo utiliza la interacción entre una muestra y una sonda para observar y mostrar la topografía superficial de la muestra en resolución de nanómetros (nm). El instrumento incluye las unidades siguientes: Unidad de punta de medida (NPX200), Regulador (Nanopics), PC.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Perfilometría_Soporte Tecnico | € / h | 72.15 € | 89.55 € |
| Perfilometría | € / hora | 72.15 € | 89.55 € |
Otras prestaciones de servicio
- Alquiler de espacio de laboratorio
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Análisis reológico
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización molecular: FT-IR
- Adelgazamiento iónico
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Other fabrication techniques: Glove box
- Medida del ángulo de contacto
- Otros procesos de wafers: Recocido rápido
- Empaquetado-ensamblaje: Unión de cables en cuña
- Fotolitografía: fabricación de máscaras
- Deposición física desde fase vapor: ALD
- Deposición física desde fase vapor: Sputtering DC
- Recocidos de capas delgadas a alta temperatura
- Síntesis por microondas (MW)
- Análisis de datos, diseño de experimentos, formación y asesoría
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Instituto: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Perfilometría
Descripción de la prestación
Sistema mecánico de determinación de espesores y perfiles de capas sobres obleas de silicio. Modelo Tencor P7| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Alta autoservicio Stylus Profiler Tenkor P7 | €/hora | 80.65 € | 112.91 € |
| Autoservicio Stylus Profiler Tenkor P7 | €/hora | 23.05 € | 32.27 € |
Otras prestaciones de servicio
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Other inspection techniques: Optical profilometry
- Thermal Nanoimprint
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Tratamiento de superficies por plasma
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
- Soldadura de obleas
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
- Laser Photolithography
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Servicio de Micro y Nanofabricación (MiNa)
- Instituto: INSTITUTO DE MICRO Y NANOTECNOLOGIA
- Localidad: Tres Cantos (Madrid)
- Web del servicio: http://www.imm-cnm.csic.es
El servicio de micro y nanofabricación (MiNa) del Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM) une el Laboratorio de Litografía de Alta Resolución (LAB-LAR) con el resto del equipamiento de la Sala de Fabricación del IMM. El LAB-LAR pertenece a la Red de Laboratorios e Infraestructuras de Investigación de la Comunidad de Madrid disponiendo de la certificación de calidad ISO 9001. MiNa oferta un servicio flexible adaptando la tecnología al usuario, abarcando desde procesos básicos de fabricación que constan de una sola etapa, hasta procesos de fabricación multi-etapa, ofreciendo la posibilidad de fabricar estructuras complejas sin las restricciones impuestas por una Sala Blanca convencional. Nuestra amplia experiencia, pionera en el desarrollo de la nanotecnología en España, permite ofrecer procesos tecnológicos más allá de los estándares. Destacamos la litografía de alta resolución por haz de electrones y la litografía de ultra alta resolución por haz de iones en grandes áreas.
Perfilometría
Descripción de la prestación
DEKTAK 150 (Veeco) dispone de una variedad de configuraciones. Presenta opciones de repetición, programación, caracterización con fuerza mínima y capacidad de análisis detallados. Prestaciones: intervalos de medida: de 55mm a 200 mm. Datos por barrido: 120000 max. Espesor máximo de muestra: 90 mm. Tamaño máximo de muestra: 150 mm. Intervalo vertical: 524 micras. Resolución vertical: 1Å max (en el intervalo de 6.55 micras).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 65.55 € | 71.79 € |
Otras prestaciones de servicio
- Deposición de capas poliméricas y nanopartículas por spinner
- Litografía por haz de electrones
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados secos por plasma (RIE)
- Limpiezas de muestras y grabados húmedos de capas delgadas
- Other wafer processes: Wafer scribe
- Photolithography: Contact photolithography
- Deposición física desde fase vapor: Evaporación por haz de electrones
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- XRD (Difracción de Rayos X) : Medida de los parámetros de la celda cristalina
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Caracterización Superficial
- Instituto: INSTITUTO DE CERAMICA Y VIDRIO
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icv.csic.es/
El perfilómetro permite medir espesores mediante la variación de altura de un escalón producido por rayado sobre la muestra recubierta. El sistema consta de una punta de diamante acoplada a un transductor, que se va desplazando sobre la superficie hasta encontrar el surco o raya. El equipo mide la variación de altura. El rugosímetro permite medir el acabado superficial de un material. Los límites del equipo viene marcados por la longitud de recorrido (Lc) que varía entre 0,25 mm a 25,0 mm, y el alcance del captador, que varía entre 10 y 500 μm La técnica de ángulo de contacto mide el ángulo (α) que forma la superficie de una gota en contacto con un sustrato. . La determinación se realiza tomando una fotografía de la forma de la gota sobre la superficie del sustrato y determinando su ángulo. La elipsometría espectroscópica es una técnica de caracterización muy sensible. Permite conocer el índice de refracción y el espesor de los materiales depositados
Perfilometría
Descripción de la prestación
El perfilómetro es un equipo utilizado para evaluar la rugosidad de una superficie. Se realiza un registro continuo de la pendiente longitudinal de la superficie a analizar entre dos puntos dados, y obtiene el desnivel de la superficie del pavimento con respecto a una referencia horizontal.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Perfilometria. General | € / muestra | 23.21 € | 32.87 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icmm.csic.es/
El Laboratorio de Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas dispone de los siguientes equipos y servicios: • Perfilómetria: de contacto, marca Veeco, mod. Dektak 150. y optica, Profile3D ScienTec • Espectrómetro Raman, EZ-Raman-N de Enwave Optronics, con microscopio LEICA DM300 y láser Nd:YAG de 532 nm. • Emisómetro portátil marca Devices & Service Company (modelo AE1) • Analizador GDOES, mod. RF-GD-Profiler, marca Horiba Jobin Yvon, con ánodo de 4mm. • Espectrofotómetro UV-Visible-IR cercano, Shimadzu mod. Solidspec-3700 con esfera integradora, 190 nm-3300nm. • Nanoindentador, mod. NanoTest P1, marca MicroMaterials, con péndulo de 500mN y punta piramidal Berkovich. • Sistemas de depósito capas delgadas:(i) Sputtering magnetrón para crecimiento de metales, óxidos y nitruros;(ii) Evaporación térmica mediante dos cañones de electrones y asistencia con haces de iones. •. Tratamientos térmicos en atmósfera controladada.
Perfilometría
Descripción de la prestación
Perfilómetro de contacto, marca Veeco, mod. Dektak 150. Perfilometro Optico, marca Scientec Iberica Profilm 3d| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Perfilometria optica | hora | 64.33 € | 70.18 € |
| perfilometria de contacto | hora | 62.78 € | 68.75 € |
Otras prestaciones de servicio
- Medidas electricas locales: Resistividad
- Deposición física desde fase vapor: Evaporación por haz de electrones
- Spectroscopy: Raman
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Determinación de la dureza: Vickers, Rockwell, Brinell
- Determinación de la resistencia al desgaste
- Deposición física desde fase vapor: Sputtering Magnetron