- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Fabricación y Tratamiento
- Subagrupación
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- Micro y Nanofabricación
Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Instituto: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
Descripción de la prestación
Sistema de eliminación de capas sacrificiales para MEMS| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Alta autoservicio Critical Point Dryer | €/hora | 163.22 € | 228.51 € |
| Autoservicio Critical Point Dryer | €/hora | 105.62 € | 147.87 € |
Otras prestaciones de servicio
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Other inspection techniques: Optical profilometry
- Thermal Nanoimprint
- Perfilometría
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Tratamiento de superficies por plasma
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
- Soldadura de obleas
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
- Laser Photolithography
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
Descripción de la prestación
La microscopía electrónica de barrido (SEM) permite el estudio morfológico externo de todo tipo de muestras. No obstante, cada muestra requiere el desarrollo de una metodología o protocolo apropiado. El secador de punto crítico es utilizado generalmente en la preparación de muestras biológicas a ser analizadas en el SEM. Su principio se basa en que una muestra orgánica hidratada (polímeros hidrogeles, almidón) o biológica (células, tejidos, sangre, parásitos, espermatozoides, entre otros) es previamente tratada con diferentes solventes y posteriormente el fluido es desplazado con el fin de mantener la microestructura inicial del estado hidratado. Durante el proceso de secado por Punto Crítico, debe pasarse el límite entre la fase ¿líquido-gas¿ de forma directa. De este modo, las fuerzas de deformación se evitan debido a que el proceso de secado tiene lugar por encima del punto crítico del líquido, donde el límite entre la fase líquida y la fase gas no existe. El punto crítico es aquel estado particular de un gas en el cual todavía puede sufrir licuefacción. En el punto crítico el líquido pasa a la fase gas sin pasar por el límite de fases ¿líquido-gas¿, y la muestra se seca sin los efectos dañinos del secado en aire.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Punto critico-unidad del proceso | punto critico | 75.11 € | 82.26 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM