- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subgroup
-
- Caracterización Textural
Profilometry
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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ICMAB - Cerdanyola del Vallès |
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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Servicio de Micro y Nanofabricación (MiNa) IMN-CNM - Tres Cantos |
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Laboratorio de Caracterización Superficial ICV - Madrid |
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Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas ICMM - Madrid |
Service general data
- Support unit: PLATAFORMA NANOQUIM
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE BARCELONA
- Locality: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Service's web: http://www.icmab.csic.es
Cinco laboratorios de Sala Blanca clase 10.000 (ISO7): Lab. de litografía óptica Avanzada, Lab. de Caracterización de materiales funcionales en la nanoescala, Lab. de caracterización físico-química y Nanofabricacion, Lab. de síntesis Química y Laboratorio de alto control de humedad, para la deposisión de soluciones no-acuosas y el crecimiento de nanoestructuras; El laboratorio Nanoquim esta dedicado a la nanoestrucutración de materiales obtenido por procedimientos químicos, lo que contituye la caracterítica más distitiva de la Plataforma Nanoquim. Hay instalados unos 30 equipos científicos diferentes en la instalación, destinados al control de las propiedades físico-químicas de soluciones, equipamiento para la deposición y la nanoestrucutración, crecimiento de Nano-materiales, caracterización de películas delgadas, caracterización en la nanoescala, grabado selectivo físico-químicos para metales, óxidos y polímeros y equipamiento para contactos electrícos y litografía.
Profilometry
Benefit description
The P-16+ stylus profiler is a surface metrology analysis solution used in a wide range of applications and industries, from R&D departments and universities to production and process monitoring. This surface analysis solution's precise force control provides excellent vertical resolution, precision, and reliability measurements. This surface analysis solution delivers automated step height analysis, surface contour, waviness and roughness measurements with detailed 2D or 3D analysis of topography for a variety of surfaces and materials. This equipement utilizes the interaction between a sample and a probe to observe and display the sample surface topography in nanometers (nm) resolution. The instrument is comprised of the following units: Measurement head unit (NPX200), Controller (Nanopics 2100) and PC.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Perfilometría_Soporte Tecnico | € / h | 72.15 € | 89.55 € |
| Perfilometría | € / hora | 72.15 € | 89.55 € |
Other services
- Alquiler de espacio de laboratorio
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Análisis reológico
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización molecular: FT-IR
- Adelgazamiento iónico
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Other fabrication techniques: Glove box
- Medida del ángulo de contacto
- Otros procesos de wafers: Recocido rápido
- Empaquetado-ensamblaje: Unión de cables en cuña
- Fotolitografía: fabricación de máscaras
- Deposición física desde fase vapor: ALD
- Deposición física desde fase vapor: Sputtering DC
- Recocidos de capas delgadas a alta temperatura
- Síntesis por microondas (MW)
- Análisis de datos, diseño de experimentos, formación y asesoría
Service general data
- Support unit: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Institute: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Locality: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Service's web: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Profilometry
Benefit description
Mechanical system for the determination of thicknesses and profiles of layers on silicon wafers. Model Tencor P7| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Alta autoservicio Stylus Profiler Tenkor P7 | €/hora | 80.65 € | 112.91 € |
| Autoservicio Stylus Profiler Tenkor P7 | €/hora | 23.05 € | 32.27 € |
Other services
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Other inspection techniques: Optical profilometry
- Thermal Nanoimprint
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Tratamiento de superficies por plasma
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
- Soldadura de obleas
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
- Laser Photolithography
Service general data
- Support unit: Servicio de Micro y Nanofabricación (MiNa)
- Institute: INSTITUTO DE MICRO Y NANOTECNOLOGIA
- Locality: Tres Cantos (Madrid)
- Service's web: http://www.imm-cnm.csic.es
El servicio de micro y nanofabricación (MiNa) del Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM) une el Laboratorio de Litografía de Alta Resolución (LAB-LAR) con el resto del equipamiento de la Sala de Fabricación del IMM. El LAB-LAR pertenece a la Red de Laboratorios e Infraestructuras de Investigación de la Comunidad de Madrid disponiendo de la certificación de calidad ISO 9001. MiNa oferta un servicio flexible adaptando la tecnología al usuario, abarcando desde procesos básicos de fabricación que constan de una sola etapa, hasta procesos de fabricación multi-etapa, ofreciendo la posibilidad de fabricar estructuras complejas sin las restricciones impuestas por una Sala Blanca convencional. Nuestra amplia experiencia, pionera en el desarrollo de la nanotecnología en España, permite ofrecer procesos tecnológicos más allá de los estándares. Destacamos la litografía de alta resolución por haz de electrones y la litografía de ultra alta resolución por haz de iones en grandes áreas.
Profilometry
Benefit description
Dektak 150 surface profiler (Veeco) offers a variety of configurations and add-on options for superior repeatability, programmability, low- force characterization, and detailed analysis. Measurement Technique : contac stylus profilometry Performance: Scan Length Range : 55mm standard; up to 200mm with stitching option ;Data Points Per Scan : 120,000 maximum ;Max. Sample Thickness Up to 90mm, depending on configuration ;Max. Wafer Size 150mm; Vertical Range 524um ; Vertical Resolution 1Å max. (at 6.55 microm range)| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 65.55 € | 71.79 € |
Other services
- Deposición de capas poliméricas y nanopartículas por spinner
- Litografía por haz de electrones
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados secos por plasma (RIE)
- Limpiezas de muestras y grabados húmedos de capas delgadas
- Other wafer processes: Wafer scribe
- Photolithography: Contact photolithography
- Deposición física desde fase vapor: Evaporación por haz de electrones
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- XRD (Difracción de Rayos X) : Medida de los parámetros de la celda cristalina
Service general data
- Support unit: Laboratorio de Caracterización Superficial
- Institute: INSTITUTO DE CERAMICA Y VIDRIO
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.icv.csic.es/
El perfilómetro permite medir espesores mediante la variación de altura de un escalón producido por rayado sobre la muestra recubierta. El sistema consta de una punta de diamante acoplada a un transductor, que se va desplazando sobre la superficie hasta encontrar el surco o raya. El equipo mide la variación de altura. El rugosímetro permite medir el acabado superficial de un material. Los límites del equipo viene marcados por la longitud de recorrido (Lc) que varía entre 0,25 mm a 25,0 mm, y el alcance del captador, que varía entre 10 y 500 μm La técnica de ángulo de contacto mide el ángulo (α) que forma la superficie de una gota en contacto con un sustrato. . La determinación se realiza tomando una fotografía de la forma de la gota sobre la superficie del sustrato y determinando su ángulo. La elipsometría espectroscópica es una técnica de caracterización muy sensible. Permite conocer el índice de refracción y el espesor de los materiales depositados
Profilometry
Benefit description
The profilometer is a device used to evaluate the roughness of a surface. A continuous record of the longitudinal slope of the surface to be analyzed between two given points is made, and the slope of the pavement surface is obtained with respect to a horizontal reference.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Perfilometria. General | € / muestra | 23.21 € | 32.87 € |
Service general data
- Support unit: Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.icmm.csic.es/
El Laboratorio de Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas dispone de los siguientes equipos y servicios: • Perfilómetria: de contacto, marca Veeco, mod. Dektak 150. y optica, Profile3D ScienTec • Espectrómetro Raman, EZ-Raman-N de Enwave Optronics, con microscopio LEICA DM300 y láser Nd:YAG de 532 nm. • Emisómetro portátil marca Devices & Service Company (modelo AE1) • Analizador GDOES, mod. RF-GD-Profiler, marca Horiba Jobin Yvon, con ánodo de 4mm. • Espectrofotómetro UV-Visible-IR cercano, Shimadzu mod. Solidspec-3700 con esfera integradora, 190 nm-3300nm. • Nanoindentador, mod. NanoTest P1, marca MicroMaterials, con péndulo de 500mN y punta piramidal Berkovich. • Sistemas de depósito capas delgadas:(i) Sputtering magnetrón para crecimiento de metales, óxidos y nitruros;(ii) Evaporación térmica mediante dos cañones de electrones y asistencia con haces de iones. •. Tratamientos térmicos en atmósfera controladada.
Profilometry
Benefit description
Contact Profilometer, Veeco, mod. Dektak 150. Optical profilometer, Scientec Iberica mod.Profilm 3d| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Perfilometria optica | hora | 64.33 € | 70.18 € |
| perfilometria de contacto | hora | 62.78 € | 68.75 € |
Other services
- Medidas electricas locales: Resistividad
- Deposición física desde fase vapor: Evaporación por haz de electrones
- Spectroscopy: Raman
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Determinación de la dureza: Vickers, Rockwell, Brinell
- Determinación de la resistencia al desgaste
- Deposición física desde fase vapor: Sputtering Magnetron