XRD (Difracción de Rayos X) : Medida de los parámetros de la celda cristalina

El Servicio de Difracción de Rayos X es un servicio de apoyo a tecnólogos e investigadores que, trabajando en cualquier área científica, requieran un conocimiento de la estructura cristalina o molecular de una determinada sustancia. El servicio dispone de infraestructura para el análisis estructural a partir de muestras monocristalinas de tamaño superior a 10-20 micras. Las medidas pueden ser realizadas a bajas temperaturas (rango 300-27 K) para favorecer la estabilidad química o cristalina de la muestra, o reducir problemas estructurales asociados a situaciones de desorden. La disponibilidad de fuentes de radiacción de distintas longitudes de onda (Cobre, Molibdeno o Plata) asegura la optimización de las medidas para cualquier tipo de sustancia orgánica, inorgánica o mixta. El Servicio ofrece, tanto la realización de la medida por personal experto en condiciones óptimas, como el tratamiento posterior de los datos hasta la descripción pormenorizada de la estructura molecular.

El servicio de micro y nanofabricación (MiNa) del Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM) une el Laboratorio de Litografía de Alta Resolución (LAB-LAR) con el resto del equipamiento de la Sala de Fabricación del IMM. El LAB-LAR pertenece a la Red de Laboratorios e Infraestructuras de Investigación de la Comunidad de Madrid disponiendo de la certificación de calidad ISO 9001. MiNa oferta un servicio flexible adaptando la tecnología al usuario, abarcando desde procesos básicos de fabricación que constan de una sola etapa, hasta procesos de fabricación multi-etapa, ofreciendo la posibilidad de fabricar estructuras complejas sin las restricciones impuestas por una Sala Blanca convencional. Nuestra amplia experiencia, pionera en el desarrollo de la nanotecnología en España, permite ofrecer procesos tecnológicos más allá de los estándares. Destacamos la litografía de alta resolución por haz de electrones y la litografía de ultra alta resolución por haz de iones en grandes áreas.

El laboratorio de Rayos X está dotado de los siguientes equipos: - Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con un sistema analizador por dispersión de longitud de onda de rayos X (WDX) Bruker S8 tiger - Equipo de microfluorescencia de Rayos X Fischerscope XUV con detector de dispersión de energías de rayos X (EDX). - Difractómetro de rayos X Siemens D5000, equipado con un anillo central de Euler abierto - Difractómetro de rayos X de alta precisión Bruker AXS D8 advance, con anillo central de Euler abierto, equipado con un sistema de detector lineal y un puntero láser controlado por vídeo cámara para asegurar la correcta colocación de la muestra y alineado del haz. En el laboratorio se realizan, entre otros, los siguientes ensayos a) Análisis por fluorescencia y microfluorescencia de rayos X (FRD y µFRD) b) Caracterización estructural por difracción de rayos X (XRD). Para una descripción más detallada de los ensayos, vease el apartado "Prestaciones" en el Menu principal.