Microscopía de barrido: AFM contacto

La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.

Microscopía electrónica de transmisión (JEOL 2100) equipado con detector EDX (ULTIMAX, Oxford) Microscopio de fuerza atómica (Multimode 8 Bruker y controlador Nanoscope V) Microscopio óptico con luz polarizada (NIKON EclipseE600POL con placa calefactora Metler Toledo FP82HT) Cromatografia SEC-4T (OmniSEC, Malvern) y SLS/ DLS (Zetasizer, Malvern) Calorimetría diferencial de barrido a baja temperatura (DSC8500 Perkin Elmer) Espectroscopia ATR-FTIR (Spectrum One, Perkin Elmer) Medidas de angulo de contacto superficial. Espectroscopia dieléctrica (Novocontrol) Análisis reológico en los modos de torsión y extensión (DHR20, TA Instruments) y capilar (Smart Rheo, CEAST) Microrreologia DLS (Zetasizer Malvern) Microfluidica de cizalla y extensión (m-VROC II, RheoSense) Dispersión de rayos X a bajo ángulo - SAXS (Nanostar C) Asesoramiento en modelos atomísticos, de grano grueso y en la mesoescala en química, biología y materiales

El Laboratorio posee dos técnicas de análisis de superficies: -Espectroscopía Fotoelectrónica de rayos X (XPS), VG Microtech, modelo MT 500, (Fisons Instruments), con una fuente de Rayos X dual (Mg/Al), detector CMA de tres channeltron y cañón de iones EX05 para el bombardeo por iones Ar -Microscopía de fuerza atómica (AFM), marca Agilent modelo 5100. Se trata de un laboratorio con Sistema de Gestión de Calidad (ISO 9001:2008) con certificado nº SGI 6016951. El análisis por XPS proporciona información sobre la composición elemental y el estado químico de cada elemento. En combinación con el bombardeo con iones Argón (A.I.B.) se pueden obtener perfiles de composición hasta un máximo de 100nm. El análisis por AFM permite obtener una medida de la topografía y rugosidad de muestras sólidas tanto en aire como en líquidos. Dependiendo de la punta es posible obtener información sobre otras propiedades superficiales (medida de diferencias de potencial (SKP), conductividad, etc.