Microscopía de barrido: AFM contacto

El régimen de "contacto" es un modo de medida de AFM caracterizado porque la medida se lleva a cabo a una distancia muy cercana a la superficie, donde las fuerzas entre punta y muestra son de repulsión debido al solapamiento entre las nubes de electrones de punta y muestra y de elevada magnitud en comparación con otros modos de medida del AFM. Debido a ello, presenta limitaciones cuando las muestras son muy blandas o delicadas, como por ejemplo, muestras biológicas, pero como la magnitud de las fuerzas implicadas en mayor, presenta mayor resolución topográfica.

Microscopia de fuerzas atómicas para determinación de topografia a escala atómica

El modo AFM de contacto es el modo de operación más utilizado del AFM. A medida que la punta explora la superficie de la muestra, se desvía por la interacción con los detalles morfológicos de la superficie. La punta se ajusta a lo largo de la exploración para mantener la desviación de modo que la sonda se sitúa a una altura constante sobre la superficie. En este modo, la punta mantiene un fuerte contacto con la superficie, lo que permite una mejor resolución de las imágenes.