- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Barrido
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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Unidad de Caracterización y Asistencia Científico Técnica ICTP - Madrid |
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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IACT-CSIC - Armilla |
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Microscopía Electrónica e Histología CNC - Alcalá de Henares |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Unidad de Caracterización y Asistencia Científico Técnica
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DE POLIMEROS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ictp.csic.es/
El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Descripción de la prestación
La unidad de caracterización del ICTP Microscopio Electrónico de Barrido (SEM Alto vacío de sobremesa, SNE Alpha con filamento de Tungsteno. Voltaje de aceleración de 5 a 30 kV. Aumentos de 100 a 50000x. Se utiliza para muestras secas y conductoras. En el caso de muestras no conductoras, se metalizan con una capa fina de metal en su superficie. La unidad también dispone del equipamiento necesario para metalizar.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| SEM SNE Alpha | 163.40 € | 178.96 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis reológico
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización molecular: UV
- Espectroscopía micro-Raman
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Espectroscopía: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - IRTF)
- Tratamiento muestra: Corte
- Tratamiento muestra: Prensado
- Caracterización dieléctrica
- Resistencia a la tracción/compresión
- Resonancia Magnética Nuclear de Sólidos
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Análisis de propiedades mecanodinámicas de materiales
- Extrusión de materiales
- Elaboración de informes técnicos (peritajes, tasaciones)
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Instituto: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Descripción de la prestación
Microscopía electrónica de barrido para inspección de muestras a escala micro-nanometrica. Modelos Zeiss Gemini 560L y Zeiss Auriga 40.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Uso SEM con operador | 134.67 € | 147.50 € | |
| Alta autoservicio SEM | 147.08 € | 161.08 € | |
| Autoservicio SEM | 93.77 € | 102.70 € |
Otras prestaciones de servicio
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Other inspection techniques: Optical profilometry
- Perfilometría
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Tratamiento de superficies por plasma
- Laser Photolithography
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Soldadura de obleas
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Medida de resistencia cuadro
- Medida de grosor y curvatura de obleas
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: ANDALCHRON
- Instituto: INSTITUTO ANDALUZ DE CIENCIAS DE LA TIERRA IACT-CSIC
- Localidad: Armilla (Granada)
- Web del servicio: http://www.andalchron.eu
El servicio científico-técnico (SCT) de Andalchron, parte de los laboratorios multi-escala de la infraestructura europea ESFRI-EPOS, oferta prestación de servicios en espectrometría de masas con fuente de plasma para la determinación de razones isotópicas mediante espectrometría de masas con fuente de plasma (ICP-MS) para su uso en geocronología. Esta prestación ofrece análisis mediante ICP-MS con analizador de masas cuadrupolar (ICP-QMS) y de sector magnético de alta resolución y con detección multicanal (MC-ICP-MS), de disoluciones, y de sólidos mediante ablación láser (LA-ICP-MS y LA-MC-ICP-MS). El servicio oferta prestaciones de servicios auxiliares en microscopía y espectroscopia, preparación de muestras y sala blanca dirigidas única y exclusivamente a la caracterización y/ preparación de muestras asociadas a las prestaciones de servicios en espectrometría de masas. Los usuarios deben de ponerse en contacto con el servicio para estudiar las solicitud de prestación solicitada.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Descripción de la prestación
La unidad de prestación de servicios de microscopía electrónica de barrido (SEM) de Andalchron oferta servicios auxiliares de caracterización y preparación de muestras para su análisis mediante SEM. Esta prestación se realiza única y exclusivamente para la caracterización de muestras como apoyo de la prestación de servicios en espectrometría de masas de Andalchron y no como una prestación independiente. Esta unidad de servicio está dotado de un microscopio electrónico ZEISS EVO MA-15 dotado de detectores de CL, EBSD y EDS en láminas delgadas. El equipo no oferta imagen por electrones secundarios. 1. Por cuestiones de garantía de calidad, solo se podrán usar los protocolos ya establecidos por el servicio, que han sido verificados y validados mediante el control de calidad de materiales de referencia y la participación en test interlaboratorios. Debido al gran coste económico y el extenso tiempo requerido para el desarrollo y verificación de nuevo protocolos analíticos, el servicio se reserva el derecho de ofrecer nuevos protocolos experimentales en desarrollo en el marco de un acuerdo colaboración con el servicio. 2. Para usos que requieran sesiones intensivas durante la noche y fin de semana, podrán aplicarse descuentos según los términos establecidos por la normativa de regulación de los SCTs del CSIC. 3. Para uso interno (CSIC), esta prestación solo se ofrece en modo autoservicio (uso por usuario) dependiendo de la disponibilidad sobre la base de la demanda del servicio. La preparación de muestras por técnico ni el procesado de datos no está disponible para uso interno. El autoservicio solo podrán realizarlo los usuarios entrenados previa autorización del responsable técnico del servicio.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Procesado avanzado de datos | 87.31 € | 95.63 € | |
| Preparacion muestra para EBSD-SEM | 24.14 € | 26.44 € | |
| Metalización muestra con grafito | 5.51 € | 6.03 € | |
| Procesado de datos | 53.47 € | 58.57 € | |
| Uso SEM con operador | 65.44 € | 71.68 € | |
| Uso SEM sin operador | 33.46 € | 36.65 € |
Otras prestaciones de servicio
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Microscopía Electrónica e Histología
- Instituto: CENTRO DE NEUROCIENCIAS CAJAL
- Localidad: Alcalá de Henares (Madrid)
El Servicio de Microscopía Electrónica e Histología del CNC proporciona apoyo en el procesamiento, análisis y estudio de muestras biológicas mediante técnicas histológicas orientadas a examinar su estructura y composición. Ofrece un amplio espectro de técnicas que permiten a los investigadores abordar preguntas científicas con precisión, eficiencia y reproducibilidad, optimizando los procesos y reduciendo el tiempo de trabajo. El servicio cuenta con equipamiento especializado de vanguardia, y proporciona asistencia en el diseño experimental, la preparación de muestras, la adquisición de imágenes y su posterior análisis.El Servicio cuenta desde julio de 2026 con un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de última generación (Gemini 460 con Volutome de Zeiss), que proporciona imágenes de alta resolución y permite la reconstrucción tridimensional a escala nanométrica de estructuras celulares y subcelulares. En los próximos meses se pondrán a punto sus prestaciones.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Descripción de la prestación
La microscopía electrónica de barrido utiliza un haz de electrones para explorar la superficie de las muestra y generar imágenes de alta resolución de su topografía, morfología y composición. La interacción entre los electrones y la muestra produce diferentes señales que pueden ser detectadas y analizadas, permitiendo la caracterización detallada de estructuras biológicas, materiales y superficies con un amplio rango de aumentos y una gran profundidad de campo.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Uso del SEM | 93.40 € | 102.29 € | |
| Uso del SEM con Volutome | 110.61 € | 121.14 € |
Otras prestaciones de servicio
- Asesoramiento y formación
- Fijación química de muestras biológicas
- Inmunoensayo
- Tratamiento muestra: Metalización (Sputtering)
- Inclusión de muestras en parafina
- Cortes de tejidos frescos mediante vibratomo
- Cortes de tejido congelado mediante criostato
- Tinción y montaje de preparaciones cortadas en microtomo
- Tinción y montaje de preparaciones cortadas en criostato
- Cortes de bloques de parafina con microtomo
- Preparación de bloques congelados con OCT
- Contrastar y montar preparaciones de resina plástica.
- Microscopía electrónica: Sombreado de carbon.
- Aclaramiento óptico de tejidos
- Realización de microsecciones
- Análisis de imagen
- Preparación de muestras
- Corte con ultramicrotomo