- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Barrido
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA ICTP - Madrid |
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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IACT-CSIC - Armilla |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DE POLIMEROS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ictp.csic.es/
El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Descripción de la prestación
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM Alto vacío de sobremesa, SNE Alpha con filamento de Tungsteno. Voltaje de aceleración de 5 a 30 kV. Aumentos de 100 a 50000x. Se utiliza para muestras secas y conductoras. En el caso de muestras no conductoras, se metalizan con una capa fina de metal en su superficie. El Instituto dispone del equipamiento necesario para metalizar.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Uso SEM con operador | €/hora | 145.99 € | 159.89 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización molecular: UV
- Espectroscopía micro-Raman
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Espectroscopía: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - IRTF)
- Tratamiento muestra: Corte
- Tratamiento muestra: Prensado
- Caracterización dieléctrica
- Resistencia a la tracción/compresión
- Resonancia Magnética Nuclear de Sólidos
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Análisis de propiedades mecanodinámicas de materiales
- Extrusión de materiales
- Elaboración de informes técnicos (peritajes, tasaciones)
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Instituto: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Descripción de la prestación
Microscopía electrónica de barrido para inspección de muestras a escala micro-nanometrica. Modelos Zeiss 1560 XB y Zeiss Auriga 40.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Alta autoservicio SEM | €/hora | 123.21 € | 172.49 € |
| Uso SEM con operador | €/hora | 109.21 € | 152.9 € |
| Autoservicio SEM | €/hora | 65.61 € | 91.85 € |
Otras prestaciones de servicio
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Other inspection techniques: Optical profilometry
- Thermal Nanoimprint
- Perfilometría
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Tratamiento de superficies por plasma
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
- Soldadura de obleas
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Laser Photolithography
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: ANDALCHRON
- Instituto: INSTITUTO ANDALUZ DE CIENCIAS DE LA TIERRA IACT-CSIC
- Localidad: Armilla (Granada)
- Web del servicio: http://www.andalchron.eu
El servicio científico-técnico (SCT) de Andalchron, parte de los laboratorios multi-escala de la infraestructura europea ESFRI-EPOS, oferta prestación de servicios en espectrometría de masas con fuente de plasma para la determinación de razones isotópicas mediante espectrometría de masas con fuente de plasma (ICP-MS) para su uso en geocronología. Esta prestación ofrece análisis mediante ICP-MS con analizador de masas cuadrupolar (ICP-QMS) y de sector magnético de alta resolución y con detección multicanal (MC-ICP-MS), de disoluciones, y de sólidos mediante ablación láser (LA-ICP-MS y LA-MC-ICP-MS). El servicio oferta prestaciones de servicios auxiliares en microscopía y espectroscopia, preparación de muestras y sala blanca dirigidas única y exclusivamente a la caracterización y/ preparación de muestras asociadas a las prestaciones de servicios en espectrometría de masas. Los usuarios deben de ponerse en contacto con el servicio para estudiar las solicitud de prestación solicitada.
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Descripción de la prestación
La unidad de prestación de servicios de microscopía electrónica de barrido (SEM) de Andalchron oferta servicios auxiliares de caracterización y preparación de muestras para su análisis mediante SEM. Esta prestación se realiza única y exclusivamente para la caracterización de muestras como apoyo de la prestación de servicios en espectrometría de masas de Andalchron y no como una prestación independiente. Esta unidad de servicio está dotado de un microscopio electrónico ZEISS EVO MA-15 dotado de detectores de CL, EBSD y EDS en láminas delgadas. El equipo no oferta imagen por electrones secundarios. 1. Por cuestiones de garantía de calidad, solo se podrán usar los protocolos ya establecidos por el servicio, que han sido verificados y validados mediante el control de calidad de materiales de referencia y la participación en test interlaboratorios. Debido al gran coste económico y el extenso tiempo requerido para el desarrollo y verificación de nuevo protocolos analíticos, el servicio se reserva el derecho de ofrecer nuevos protocolos experimentales en desarrollo en el marco de un acuerdo colaboración con el servicio. 2. Para usos que requieran sesiones intensivas durante la noche y fin de semana, podrán aplicarse descuentos según los términos establecidos por la normativa de regulación de los SCTs del CSIC. 3. Para uso interno (CSIC), esta prestación solo se ofrece en modo autoservicio (uso por usuario) dependiendo de la disponibilidad sobre la base de la demanda del servicio. La preparación de muestras por técnico ni el procesado de datos no está disponible para uso interno. El autoservicio solo podrán realizarlo los usuarios entrenados previa autorización del responsable técnico del servicio.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Preparacion muestra para EBSD-SEM | € / muestra | 20.77 € | 34.61 € |
| Procesado avanzado de datos | € / hora | 74.78 € | 137.52 € |
| Metalización muestra con grafito | € / muestra | 4.72 € | 9.65 € |
| Procesado de datos | € / hora | 45.99 € | 84.64 € |
| Uso SEM sin operador | € / hora | 28.73 € | 60.12 € |
| Uso SEM con operador | € / hora | 55.67 € | 111.33 € |