- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Barrido
Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
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MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO (FE-SEM ULTRA ALTA RESOLUCION) ICMM - Madrid |
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SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA ICMS - Sevilla |
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Unidad de Caracterización y Asistencia Científico Técnica ICTP - Madrid |
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UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS IETCC - Madrid |
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Servicio de Micro y Nanofabricación (MiNa) IMN-CNM - Tres Cantos |
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LABORATORIO DE MICROSCOPIA ELECTRONICA CENIM - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO (FE-SEM ULTRA ALTA RESOLUCION)
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icmm.csic.es/
Microscopio Apreo Chemi SEM S (Thermo Fisher) de última generación con cañón de emisión de campo tipo Schottky, permite la visualización de muestras a alto vacío (HV) a potencial variable (20V a 30kV) y con la posibilidad de decelerar el haz de electrones. No requiere metalización previa ni siquiera para muestras no conductoras utilizando bajos potenciales y la opción Beam deceleration. Resoluciones máximas: 30 kV 0.7 nm, 15 kV 0.5 nm, 1 kV 0.8 nm, 500 V 0.8 nm, 200 V 1.2 nm. Tres detectores de electrones de alta resolución “in-lens”: T1 (retrodispersados) T2 y T3 (secundarios). Detector retráctil direccional de electrones retrodispersados (DBS, configurable por sectores como ABS y CBS). Detector STEM 3+ (Bright Field, Dark Field, High-Angle Annular Dark Field). Análisis químico semicuantitativo con detector EDS de nueva generación (desde B, resolución 129 eV en Mn K-alpha) y mapeado químico.Corrección de deriva y sistema de cancelación de campos. Precámara Clean Connect pa
Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
Descripción de la prestación
Caracterización morfológica de materiales orgánicos e inorgánicos mediante imágenes electrónicas. Los microscopios electrónicos de barrido de alta resolución están equipados con un filamento de emisión de campo lo que proporciona imágenes electrónicas de elevada resolución y por lo tanto permiten resolver estructuras nanométricas. Dependiendo de los detectores que tengan los diferentes microscopios es posible obtener imágenes de electrones secundarios, retrodispersados, transmitidos, etc. imágenes que proporcionan información morfológica y composicional. También lleva acoplado un detector de rayos X por lo que es posible obtener información microanalítica cualitativa o cuantitativa de las diferentes áreas de observación. Es posible trabajar en lto y bajo vacío, a distintos potenciales y en modo STEM.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Microscopia electrónica por emisión de campo | 55.92 € | 61.25 € | |
| Microscopia electrónica por con Clean Connect | 74.36 € | 81.44 € |
Otras prestaciones de servicio
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Localidad: Sevilla (Sevilla)
- Web del servicio: http://www.icms.us-csic.es/es/electrones
El servicio integra técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía electrónica de transmisión (TEM) y un laboratorio para la preparación de muestras de. Dispone de: - Un microscopio SEM de emisión de campo de cátodo frío Hitachi S-4800, equipado con detector EDX y capacidad STEM-in-SEM, que permite obtener imágenes de alta resolución, análisis elementales y mapas químicos. - Dos TEM; un JEOL 2100Plus de 200 kV con detector EDX Oxford X-Max 80T y un Tecnai F30 de emisión de campo con modos TEM y STEM, detectores HAADF, EDX y filtro de energía (GIF), posibilitando estudios de alta resolución, difracción electrónica, EELS, EFTEM, espectro-imagen y tomografía electrónica, que permite la caracterización microestructural y química de materiales a escala nanométrica. -El laboratorio de preparación cuenta con sistemas de metalización, evaporación de carbono, corte, pulido mecánico y adelgazamiento iónico, para la obtención de muestras electrón-transparentes.
Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
Descripción de la prestación
El servicio dispone de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo, SEM-FEG, de cátodo frío. El trabajo convencional en este microscopio permite obtener imágenes de la textura superficial de la muestra. Para conseguir la máxima resolución se trabaja típicamente a voltajes por encima de 5 kV llegando el microscopio hasta 30kV. Para muestras sensibles al haz y mas resolución superficial se trabaja a voltajes menores de 5KV. La resolución de este microscopio a 15 kV con una distancia de trabajo de 4 mm es de 1.0 nm. Si la muestra no es conductora se aplica la metalización de la muestra para conseguir la mayor calidad de las imágenes evitando efectos de carga. El modo de trabajo de alta magnificación va de 100 a 800.000 aumentos. El modo de trabajo de baja magnificación va de 10 a 2.000 aumentos. El microscopio dispone de 4 tamaños de apertura objetiva, tamaño máximo de muestra de unos 100 mm, y ángulo de giro de -5 a +70 grados.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Microscopía Electrónica de Barrido de Alta Resolución | 79.22 € | 86.76 € | |
| Informe técnico | 58.06 € | 63.58 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Preparación de láminas delgadas y probetas delgado-pulidas
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía Electrónica de Transmisión : EELS ( Espectroscopia por pérdida de energía)
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Unidad de Caracterización y Asistencia Científico Técnica
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DE POLIMEROS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ictp.csic.es/
El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)
Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
Descripción de la prestación
La unidad de caracterización del ICTP dispone de un MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE ALTA RESOLUCIÓN. Hitachi: Modelo S-8000 con filamento de emisión de campo.El microscopio está equipado con 4 detectores, lo que permite realizar imágenes de electrones transmitidos (en campo claro y campo oscuro), de electrones secundarios y de electrones retrodispersados; así como también, combinaciones de éstos dos últimos. El microscopio está equipado con 4 detectores, lo que permite realizar imágenes de electrones transmitidos (en campo claro y campo oscuro), de electrones secundarios y de electrones retrodispersados; así como también, combinaciones de éstos dos últimoTambién dispone de un sistema de microanálisis por energías dispersivas de rayos X marca Bruker modelo Quantax 200.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| FESEM | 175.32 € | 192.01 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis reológico
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización molecular: UV
- Espectroscopía micro-Raman
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Espectroscopía: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - IRTF)
- Tratamiento muestra: Corte
- Tratamiento muestra: Prensado
- Caracterización dieléctrica
- Resistencia a la tracción/compresión
- Resonancia Magnética Nuclear de Sólidos
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Análisis de propiedades mecanodinámicas de materiales
- Extrusión de materiales
- Elaboración de informes técnicos (peritajes, tasaciones)
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIAS DE LA CONSTRUCCION EDUARDO TORROJA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ietcc.csic.es/
La Unidad de Ensayos gestiona una serie de técnicas instrumentales y de caracterización fisico-quimicas para el ensayo y análisis de materiales de construcción. Tanto de los constituyentes como de los productos. Principalmente se analizan materiales en base cemento, como morteros y hormigones, y los constituyentes de estos.Cada una de las técnicas son de carácter general y se aplican a diferentes lineas de investigación. Es necesaria la utilización de diferentes técnicas para el análisis de los materiales, ya que su estudio incluye su fabricación, caracterización, durabilidad y vida en servicio; así como el análisis de su potencial deterioro debido a su interacción con el medioambiente así como con otros factores
Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
Descripción de la prestación
El equipo utilizado es un FESEM (Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo) de la marca Hitachi modelo S-4800. La resolución es de 1 nm a 15 kV y de 2 nm a 1 kV. Los aumentos van de 30x a 2.000x en el modo de baja magnificación y de 100x a 500.000x en el de alta magnificación. Se pueden visualizar muestras sólidas en fractura, muestras en polvo y muestras embutidas en resina con preparación metalográfica. El microscopio lleva asociado un equipo de microanálisis Bruker X Flash Detector 5030 para la obtención de espectros EDX y mapeo composicional. El personal externo con experiencia puede consultar la opción de Autoservicio.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Autoservicio personal experto | 32.35 € | 35.43 € | |
| Microscopía electrónica por Emisión de Campo | 65.92 € | 72.20 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Conductividad
- pH
- Porosidad
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Tamizado-Granulometría
- Preparación metalográfica
- Calorimetría diferencial de barrido (DSC)
- Análisis Elementos: Métodos Clásicos de Análisis (Gravimetría, Volumetría y Electrogravimetría)
- Determinación de propiedades fisico-químicas mediante potenciometría
- Cromatografía líquida
- METALIZADO DE MUESTRAS PARA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
- Ensayo de Puzolanicidad
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Servicio de Micro y Nanofabricación (MiNa)
- Instituto: INSTITUTO DE MICRO Y NANOTECNOLOGIA
- Localidad: Tres Cantos (Madrid)
- Web del servicio: http://www.imm-cnm.csic.es
El servicio de micro y nanofabricación (MiNa) del Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM) une el Laboratorio de Litografía de Alta Resolución (LAB-LAR) con el resto del equipamiento de la Sala de Fabricación del IMM. El LAB-LAR pertenece a la Red de Laboratorios e Infraestructuras de Investigación de la Comunidad de Madrid disponiendo de la certificación de calidad ISO 9001. MiNa oferta un servicio flexible adaptando la tecnología al usuario, abarcando desde procesos básicos de fabricación que constan de una sola etapa, hasta procesos de fabricación multi-etapa, ofreciendo la posibilidad de fabricar estructuras complejas sin las restricciones impuestas por una Sala Blanca convencional. Nuestra amplia experiencia, pionera en el desarrollo de la nanotecnología en España, permite ofrecer procesos tecnológicos más allá de los estándares. Destacamos la litografía de alta resolución por haz de electrones y la litografía de ultra alta resolución por haz de iones en grandes áreas.
Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
Descripción de la prestación
Equipo: SEM FEI Verios 460. Resolución: 0,6 nm at 2 kV; 0,7 nm at 1 kV. Adquisición simultanea de hasta 4 imagenes con contraste morfológico y/o contraste composicalion . Resolution extrema en muestras aislantes, muestras frágiles or muestras biológicas con energies de haz hasta 20 eV, sin necesidad de recubrimientos y con sustratos de vidrio o de plástico. Analysis quantitativo de elementos por Espectroscopia de RX por Dispersion Energy (EDX).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | 122.32 € | 133.97 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE MICROSCOPIA ELECTRONICA
- Instituto: CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIONES METALURGICAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: https://www.cenim.csic.es/microscopia-electronica
Este laboratorio presta ayuda cientifico-técnica en la caracterización microscópica y microanalítica de los materiales que se estudian en los Proyectos y Contratos de Investigación que se llevan a cabo en el CENIM, en otros Institutos del CSIC y otros OPIs. Así mismo se realizan trabajos de apoyo técnico a la industria. El laboratorio cuenta con dos microscopios FEG-SEM (Schottky y cátodo frío), un SEM convencional y un TEM analítico de 200 kV así como de las técnicas de preparación de muestras necesarias para su observación. Equipos: -JSM 6500F (emisión de campo cátodo caliente): SE, BSE, EDS, EBSD. -CFEG SEM Hitachi S4800 (emisión de campo cátodo frío). SE (filtro exB), BSE, TE, EDS. -Hitachi S2100 (filamento W): SE. BSE -JEM 2010 (200 kV): BF, DF, DP, EDS, Cámara CCD Adelgazador Iónico de doble cañón Fischione 1010. Equipo de adelgazamiento electrolítico de doble chorro: TenuPol 5 Sputtering Spi Evaporador Jeol JEE 4B Cortadora radial Struers Accutom 5 Corte y pulido
Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
Descripción de la prestación
Observación de muestras en microscopios electrónicos de barrido de alta resolución (emisión de campo): Jeol JEM 6500F: Emisión de campo de cátodo caliente con una resolución de 1,5 nm a 15 kV y de 5 nm a 1 kV XEDS: Detector Oxford INCA Energy 200, con un área de 10 mm2 y una resolución de 138 eV en el pico de Mn Ka, enfriado con nitrógeno líquido Hitachi S4800: Emisión de campo de cátodo frío con una resolución de 1 nm a 15 kV y de 2 nm a 1 kV Detector SDD Xmax20: con un área de 20 mm2 y una resolución 125 eV Mn Ka, enfriado por Peltier SEM-FIB Thermo Fisher SCIOS 2, con columna, de electrones y de iones Ga para preparación de láminas delgadas, equipado con detectores de electrones retrodispersados, electrones e iones secundarios y electrones transmitidos Resolución Optimum working distance : 0.7 nm at 30 kV (STEM) 1.0 nm at 30 kV (ETD), 1.4 nm at 1 kV (T1) eucentric working distance : 2.5 nm at 1 kV (T2). Sistema EDS: Thermo Fisher Scientific UltraDry Premium EDS detector con software Pathfinder, Area activa 60 mm2 , resolución 129 eV Mn k-alpha.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Observación y microanalisis en el Hitachi S4800 | 77.64 € | 85.03 € | |
| Observación y microanálisis en el Scios2 | 119.39 € | 130.76 € | |
| Observacion y microanalisis en el Jeol 6500 | 108.26 € | 118.57 € |