- Áreas de investigación
-
- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
-
- Fabricación y Tratamiento
- Subagrupación
-
- Litografía
Litografía por haz de electrones
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
|
ICMAB - Cerdanyola del Vallès |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Microscopia electronica
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.icmab.csic.es
El servicio de microscopía electrónica se creó en el año 2008 y consta de un microscopio electrónico de barrido (SEM) QUANTA FEI 200 FEG-ESEM y un microscopio electrónico de transmisión (TEM) JEOL JEM-1210. El FEI Quanta 200 FEG está equipado con un cañón de emisión de campo (FEG) y puede trabajar en modo de alto vacío (HV), de bajo vacío (LV) y ambiental (ESEM). El equipo consta de un analizador de energía dispersiva de rayos X (EDX) y de un sistema de nano-litografía por haz de electrones (e-beam RAITH). El JEOL JEM1210 (120KV) es un microscopio electrónico de transmisión con una resolución de 3.2 Å punto a punto. Está equipado con un portamuestras analítico de doble inclinación (Inclinación X = ± 60o, Inclinación Y = ± 30o) modelo GATAN 646. En 2011 se instaló una cámara digital GATAN, ORIUS 831 SC 600, adecuada para el registro de imágenes y de patrones de difracción.
Litografía por haz de electrones
Descripción de la prestación
El servicio de microscopía electrónica de barrido, está equipado con un microscopio QUANTA FEI 200 FEG-ESEM que ofrece una potente herramienta de imagen para la inspección rutinaria y avanzada de materiales. El equipo está diseñado para ofrecer imágenes con alta resolución (1.2Nm @ 30kV) está dotado con un cañón de emisión de campo, especializado para la caracterización morfológica de nanocristales, materiales nanoestructurados y superficies. Imágenes de contraste proporcional al número atómico también está disponible con alta resolución lateral (2,5 nm @ 30 kV) gracias a un detector de electrones retrodispersados. El instrumento se puede utilizar en el modo de alto vacío, modo de bajo vacío (la presión de la cámara se controla mediante inyección de vapor de agua), y en modo ambiental (ESEM). Esto hace que sea posible el estudio de muestras en presiones de hasta 5 Torr. La resolución es muy buena en todas las condiciones: 1,2 nm y 1,5 nm a 30 kV y en los modos de alto y bajo vacío, respectivamente. La capacidad para variar la presión de la cámara es especialmente adecuada para la observación de materiales no conductores sin necesidad de recubrimiento. El microscopio también cuenta con un detector EDS diseñado para caracterizar elementos ligeros, comenzando por Be, con una energía de resolución de 132 eV. Esta herramienta permite el análisis químico elemental con una alta resolución lateral (punto de análisis y mapeo elemental), como es imprescindible para la caracterización de materiales nanoestructurados y multicomponentes complejos. El servicio incluye la litografía por haz de electrones, que se utiliza en muchos campos de investigación. En el ICMAB como desarrollo de dispositivos orgánicos, la fabricación de plantillas de sustrato diseñados para la ingeniería, defecto en películas delgadas superconductoras epitaxiales, la investigación de los fenómenos de superficie de auto-organización, y la fabricación de dispositivos magnetoelectrónicos. Litografía y nano-litografía pueden ser realizados por un haz de electrones (e-beamRAITH). Es un SEM ambiental, lo que permite la caracterización de materiales no conductores sin que sea necesario un recubrimiento conductor para su análisis.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Litografia electrónica_autoservicio | 71.31 € | 78.10 € | |
| Litografia electrónica_con soporte técnico | 98.71 € | 108.11 € |
Otras prestaciones de servicio
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Análisis de datos, diseño de experimentos, formación y asesoría
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía Electrónica de Transmisión : EELS ( Espectroscopia por pérdida de energía)
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF