- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subagrupación
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- Óptica y Fotónica
Other inspection techniques: Optical profilometry
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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IGEO - Madrid |
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: PETROFÍSICA
- Instituto: INSTITUTO DE GEOCIENCIAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.igeo.ucm-csic.es/
Una de las funciones de este laboratorio es la de obtener parámetros físicos de rocas y sedimentos. Actualmente dispone de equipamiento para la caracterización física de los materiales de construcción (piedra natural, ladrillo, mortero, etc.) usados en el patrimonio arquitectónico. Se realizan pruebas conducentes a determinar las propiedades de las superficies, textura y comportamiento hídrico de los materiales, y análisis no destructivos con ultrasonidos, cámaras termográficas infrarrojas, esclerómetros y otros equipos. Los servicios ofrecidos incluyen, entre otros, tests de alteración que simulan los procesos que afectan a los materiales pétreos, con los que se pueden tanto crear modelos que determinen la durabilidad de los materiales al ser expuestos a ambientes agresivos, como proyectos integrales y servicios de análisis.
Other inspection techniques: Optical profilometry
Descripción de la prestación
Medida de la rugosidad superficial mediante rugosímetro óptico 3D Traceit, Innowep| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| TRACEIT 1muestra (3 medidas) | 1 muestra(3 medidas) | 39.01 € | 42.73 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Instituto: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Other inspection techniques: Optical profilometry
Descripción de la prestación
Perfilometría óptica 3D sin contacto para la determinación de topografia, rugosidad y estrés| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Alta autoservicio 3D Optical Profilometer - Sensofar PLµ NE | €/hora | 80.97 € | 113.36 € |
| Autoservicio 3D Optical Profilometer - Sensofar PLµ NEOX | €/hora | 23.38 € | 32.73 € |
Otras prestaciones de servicio
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Thermal Nanoimprint
- Perfilometría
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Tratamiento de superficies por plasma
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
- Soldadura de obleas
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
- Laser Photolithography