- Áreas de investigación
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- Tierra y Medioambiente
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subagrupación
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- Caracterización Estructural
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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SERVICIO DE DIFRACCION DE RAYOS X GEO3BCN - Barcelona |
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ICMAB - Cerdanyola del Vallès |
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ICMM - Madrid |
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Laboratorio de difracción de rayos-X ICMS - Sevilla |
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UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS IETCC - Madrid |
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Instrumentación Científica y Servicios Analíticos: Difracción de rayos X IACT-CSIC - Armilla |
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IACT-CSIC - Armilla |
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Unidad de apoyo a la investigación II: estructura y espectroscopía ICP - Madrid |
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CENIM - Madrid |
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Análisis de suelos, plantas y aguas ICA - Madrid |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
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Laboratorio de Difracción de Rayos X ICV - Madrid |
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INCAR - Oviedo |
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SERVICIO DE ANALISIS Y CARACTERIZACION ICB - Zaragoza |
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CARACTERIZACION FISICO-QUIMICA DE MUESTRAS AMBIENTALES: Difracción de Rayos X, ICP IDAEA - Barcelona |
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IGME - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE DIFRACCION DE RAYOS X
- Instituto: GEOCIENCIAS BARCELONA
- Localidad: Barcelona (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.geo3bcn.csic.es/
El Servicio de Difracción de RX está centrado en la caracterización cualitativa y cuantitativa de las fases cristalinas presentes en los materiales. El Servicio de DRX, con más de 30 años de experiencia en este campo, ofrece soporte analítico a los científicos del ICTJA en diversos áreas de las Ciencias de la Tierra, incluyendo la vulcanología, petrología y sedimentología. Además, el Servicio ofrece soporte a investigadores externos que desarrollan su labor en geología, ciencia de los materiales, ciencias ambientales, química, farmacia, arqueología, etc. Un gran número de compañías y organizaciones tanto de los sectores públicos cómo privados acuden al Servicio de DRX en el ICTJA para aplicaciones industriales específicas, estudios de control de calidad y medioambientales, ciencias forenses, etc. También se ofrecen servicios de análisis para la determinación del tamaño de partícula mediante difracción láser y de análisis análisis elemental in situ mediante fluorescencia de rayos X.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Realización de medidas de difracción de rayos X en polvo mediante difractómetro Bruker D8-25 para identificación de las fases cristalinas presentes en una muestra (identificación realizada, en su caso, mediante software DIFFRACplus EVA de Bruker junto a las bases de datos PDF-2 y COD). Ejemplos de posibles aplicaciones: - Identificación de fases en muestras geológicas (sedimentos, muestras minerales, rocas volcánicas, etc.). Identificación y análisis de arcillas mediante estudio de agregados orientados. - Análisis de fases minerales en materiales de construcción: cemento, hormigón, áridos, etc. - Estudio de la degradación de cementos aluminosos; identificación de fibrocementos, etc. - Estudio de productos de corrosión. - Identificación de materiales usados en obras de arte.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD en polvo cualitativo | € / muestra | 117.44 € | 128.63 € |
| Difractograma sin interpretación | € / muestra | 38.48 € | 42.14 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización de tamaño de partículas: Difracción laser
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: DIFRACCION DE RAYOS X
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.icmab.csic.es
En ciencia de materiales, el conocimiento de la estructura y composición de los materiales estudiados es un requisito clave para la comprensión de sus propiedades. Basándonos en el fenómeno de la difracción de rayos-X podemos adquirir una gran información tanto estructural como microestructural de los materiales cristalinos. El laboratorio está dotado de tres difractómetros, un difractómetro convencional de polvo (Siemens D-5000), un difractómetro de polvo con ánodo giratorio (Rigaku) y un difractómetro provisto de un goniómetro de cuatro ángulos (Bruker D8 Advance) con un detector 2D (Sistema GADDS). El objetivo del Servicio es atender las necesidades de los diferentes departamentos del centro así como a los usuarios externos solicitantes ofreciendo en todos los casos las máximas prestaciones posibles. La función más frecuente del Servicio son los análisis cualitativos y cuantitativos de fases cristalinas, así como la determinación estructural y microestructural en capes delgadas.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Siemens D-5000 (Equipo A): Este equipo es un difractómetro convencional con una fuente de rayos-X estándar de cobre. El D5000 se utiliza para la mayoría de trabajos de caracterización básicos . Las medidas mas características son la difracción de rayos-X en modo convencional, reflectometría, difracción de rayos-X en incidencia rasante y medidas "out-of-plane " en capas delgadas. Bruker D8 Advance (Equipo B): Este instrumento es el más versátil del laboratorio, incluye un detector bidimensional que permite medidas de alta precisión y bastante más rápidas que en los detectores convencionales. Las prestaciones más comunes son medidas de textura de capas delgadas con detector bidimensional, determinación de la distribución de orientación de los cristales en muestras magnéticas y superconductoras, evaluación de reacciones químicas en capas delgadas , medidas de la tensión en capas delgadas epitaxiales y diagramas de estrés residual en capas policristalinas. Otras medidas que se realizan en este equipo son diagramas en modo microdifracción de muestras de poco volumen o poco tamaño o de pequeñas áreas. Por último, en este difractómetro también se adquieren diagramas realizados en muestras en capilar. D8 Discover (Equipo C): Difractómetro de alta resolución para aplicaciones en capas delgadas. Está equipad por un goniómetro motorizado de 4 ángulos para realizar las medidas de reflectometría, medidas rocking curves, mapas del espacio recíproco e identificación de fases. D8 Advance A25 (Equipo D): Difractrómetro con dos geometrías, geometría Bragg-Brentano con la posibilidad de realizar medidas en celda electroquímica (radiación Cu) y geometría Debye-Scherrer para medidas de capilar (radiación Mo).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Polvo cualitativo Equipo D | euro / hora | 36.79 € | 84.33 € |
| Polvo cualitativo Equipo B | euro / hora | 57.96 € | 167.26 € |
| Polvo cualitativo Equipo A | euro / hora | 32.87 € | 68.85 € |
| Polvo cualitativo Equipo C | euro / hora | 47.97 € | 95.93 € |
| Equipo D: celda electroquímica | € / muestra | 463.12 € | 617.49 € |
Otras prestaciones de servicio
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: DIFRACCIÓN DE RAYOS X
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icmm.csic.es/
Esta unidad ofrece a, tanto a usuarios del ICMM como a usuarios externos, equipamiento para la caracterización cristalográfica de muestras en forma de polvo (3 difractómetros) y monocristalinas (1 difractómetro) y el análisis de materiales de lámina delgada y texturados (1 difractómetro, también usado para reflectometría). Actualmente los científicos E. Gutiérrez, F. Gándara y F.J. Mompeán y la técnico (F. Esteban) comparten el mantenimiento y puesta al día de los cinco difractómetros disponibles y asesoran y/o colaboran con usuarios en aquellas medidas no rutinarias. Periódicamente se organizan reuniones de usuarios sobre instrumentación, organización y estrategia.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Análisis de difracción de rayos X en polvo: - Geometría de reflexión en cualquiera de los tres difractómetros PXRD dedicados. Las muestras en polvo se preparan sobre una superficie plana y se recogen las exploraciones Theta/2theta en el intervalo seleccionado, entre 2theta = 2.5º and 120º - Microdifracción de rayos X (¿DRX): permite realizar mediciones precisas en áreas muy pequeñas, lo que facilita el análisis utilizado con una muestra pequeña o no homogénea con composición variable, deformación de la red u orientación preferida de los cristalitos. El área de análisis se selecciona utilizando una cámara de vídeo con la ayuda de un puntero láser que, junto con colimadores de diferentes tamaños, produce un haz de rayos X incidente con diámetros de 0,5, 0,3 o 0,1 mm. Además, una platina de muestra motorizada xyz permite escanear diferentes áreas de muestras. - Geometría de transmisión: Las muestras se preparan en capilares de vidrio sellados y los patrones de difracción se recogen con un detector bidimensional, con la radiación de Cu, Mo o Ag seleccionada de una fuente microfocalizada. Útil para el análisis de muestras sensibles, o cuando solo se dispone de una pequeña cantidad.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD en polvo cualitativo | € / h | 35.87 € | 39.29 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de difracción de rayos-X
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Localidad: Sevilla (Sevilla)
- Web del servicio: http://www.icms.us-csic.es/es/difraccion
La difracción de rayos-X permite: -Identificar cualitativa y cuantitativamente sustancias cristalinas y caracterizar su microestructura y textura. -Abordar el análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad, etc. -Seguir las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,...). -Caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS). -Determinar el grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X. -Obtener la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparente a los rayos-X, mediante el empleo de capilares, etc
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Identificación cualitativa de sustancias cristalinas y caracterización microestructural y textural. Análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad. Seguimiento de las transformaciones de fase "in situ" provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,..). Estudio de la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparente a los rayos-X, mediante el empleo de capilares. - Difractómetro Panalytical X'PERT PRO con cargador automático de muestras, detector X-celerator - Difractómetro X'PERT PRO con cámara de alta temperatura (1200 ºC) ANTON PAAR HTK 1200, detector X-celerator - Difractómetro X'PERT PRO (reflectometría, SAXS, ángulo rasante y capilares), detector PIXCEL, espejo parabólico haz incidente. - Difractómetro Empyrean (microdifracción y K alfa1)| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Cargador | € / hora | 22.7 € | 36.76 € |
| Microdifraccion | € / hora | 269.93 € | 437.03 € |
| Kalfa1 | € / hora | 270.87 € | 438.55 € |
| Difracción de Rayos X con Cámara de Temperatura | € / hora | 18.58 € | 30.09 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIAS DE LA CONSTRUCCION EDUARDO TORROJA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ietcc.csic.es/
La Unidad de Ensayos gestiona una serie de técnicas instrumentales y de caracterización fisico-quimicas para el ensayo y análisis de materiales de construcción. Tanto de los constituyentes como de los productos. Principalmente se analizan materiales en base cemento, como morteros y hormigones, y los constituyentes de estos.Cada una de las técnicas son de carácter general y se aplican a diferentes lineas de investigación. Es necesaria la utilización de diferentes técnicas para el análisis de los materiales, ya que su estudio incluye su fabricación, caracterización, durabilidad y vida en servicio; así como el análisis de su potencial deterioro debido a su interacción con el medioambiente así como con otros factores
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Registro de difractogramas de muestras cristalinas que permitan su posterior identificación de fases, determinación de estructura cristalográfica y sus parámetros de red. Se utiliza un difractómetro de polvo Bruker D8 Advance. La configuración actual está optimizada para muestras molidas en polvo (materias primas, cemento, clinker, materiales de construcción, cerámicos, suelos, etc.), aunque es posible cambiar la configuración para piezas sólidas (arqueológicas, patrimonio artístico, etc) si tienen el tamaño y la rugosidad de la superficie adecuados.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD en polvo cualitativo | € / muestra | 59.71 € | 65.4 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Conductividad
- Metalización (Sputtering)
- pH
- Porosidad
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Preparación metalográfica
- Calorimetría diferencial de barrido (DSC)
- Análisis Elementos: Métodos Clásicos de Análisis (Gravimetría, Volumetría y Electrogravimetría)
- Tratamiento de muestras: metalizado por evaporación
- Determinación de propiedades fisico-químicas mediante potenciometría
- Cromatografía líquida
- Reflectancia y transmitancia in-situ de materiales (350-1700 nm)
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Instrumentación Científica y Servicios Analíticos: Difracción de rayos X
- Instituto: INSTITUTO ANDALUZ DE CIENCIAS DE LA TIERRA IACT-CSIC
- Localidad: Armilla (Granada)
- Web del servicio: https://www.iact.csic.es/unidades-de-servicios/cientifico-tecnicos/grupo/analisis-instrumental/
El laboratorio de difracción de Rayos X del IACT realiza análisis mineralógico de muestras sólidas en polvo de naturaleza inorgánica o mineral, para la identificación de fases (análisis cualitativo) o estimación de composición (estimación cuantitativa). En el caso de minerales de la arcilla se realizan análsis de muestras en agregado orienteado con los diferentes tratamiento químicos y térmicos habituales. El servicio está equipado con un difractómetro de polvo PANALYTICAL modelo X'PERT PRO, con tubo de Cu, detector X'Celerator 1D en estado sólido, plataformas estática y giratoria (spinner) y cargador automático para 45 muestras. Permitiet anto el análisis rápido de muestras como la medida de materilaes de los que se dispone de muy poca cantidad (mg). Las muestras más comunes son minerales, cerámicas, cementos, suelos, materiales inorgánicos , pigmentos, etc. Puede analizarse cualquier material cristalino, orgánico o inorgánico.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Técnica y equipamiento Una vez se recibe la muestra en polvo se cargo en el porta correspondiente. En determinados casos es necesario realizar el estudio de las fracciones de muestra con tamaño inferior a dos micras, aplicando distintos tratamientos, fundamentalmente: 1. Agregado orientado (A.O.)(3-50º 2 theta) 2. A.O. en entilén glicol (3-30º 2 theta) 3. A .O .en dimetil s| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Análisis cualitativo | € / muestra | 33.61 € | 36.81 € |
| Solo Medida Polvo | € / muestra | 13.57 € | 14.86 € |
| Solo Medida polvo en modo transmisión | € / muestra | 13.88 € | 15.21 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Factoría de Cristalización
- Instituto: INSTITUTO ANDALUZ DE CIENCIAS DE LA TIERRA IACT-CSIC
- Localidad: Armilla (Granada)
- Web del servicio: http://lafactoria.lec.csic.es/es/
La Factoría de Cristalización es una plataforma integrada que provee servicios científico-técnicos y tecnológicos de calidad en Cristalización y Cristalografía. La Factoría ofrece apoyo a empresas y grupos de investigación en biomedicina, farmacología, biotecnología, nanotecnología, ciencias naturales, ciencia de los materiales, ofreciendo servicios en tres áreas principales: - Cristalización de moléculas biológicas (incluyendo la expresión y purificación de proteínas). - Cristalización de compuestos moleculares obtenido de cualquier tipo de material orgánico o inorgánico y la busqueda de polimorfos y cocristales. - Resolución de estructuras y caracterización mediante difracción de Rayos X (en materiales monocristalinos y policristalinos)
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
La difracción de Rayos X de Materiales Policristalinos es una técnica de gran interés en campos tan diversos como la industria farmacéutica, agrícola, cementos o mineralogía. Algunas de las aplicaciones más interesantes de esta técnica son la identificación de las diferentes fases cristalinas presentes en una muestra, detección de polimorfos, cálculo del porcentaje de cristalinidad, cálculo del contenido en material amorfo y tamaño medio de cristalito de diferentes tipos de muestras, como mineralógicas o formulaciones farmacéuticas. Difractómetro multipropósito de rayos X (PANalytical X'Pert Pro MPD) para el análisis de fases de muestras policristalinas tanto con medidas por reflexión como por transmisión. El difractómetro cuenta con goniómetro vertical theta-2theta (240 mm de radio). La fuente de rayos X es tubo cerámico de rayos X con ánodo de Cu. La óptica del sistema consta de rendijas de divergencia programables (PDS) en el haz incidente, sistema anti-scatter, rendijas programables (PRS) en el haz difractado, rendijas Soller en ambas ópticas, incidente y difractada, y un detector multicanal Pixcel. La principal aplicación de este sistema es el análisis de fases de muestras policristalinas. 1. Medida difractograma: Se realiza la recogida datos a Tª ambiente. 2. Medida de Ángulo Rasante: Se realiza la recogida datos a Tª ambiente. 3. Análisis Cualitativo: Este es un servicio completo que incluye tanto la recogida de datos como la identificación de fases.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD en polvo cualitativo | € / muestra | 93.02 € | 111.62 € |
| Adquisición de datos de difracción de polvo | € / muestra | 57.93 € | 69.51 € |
Otras prestaciones de servicio
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Unidad de apoyo a la investigación II: estructura y espectroscopía
- Instituto: INSTITUTO DE CATALISIS Y PETROLEOQUIMICA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icp.csic.es/tecnicas-instrumentales.php?lang=1
La Unidad de Apoyo a la Investigación nació en el año 1990 con la finalidad de centralizar las técnicas instrumentales de caracterización de materiales del ICP en una Unidad, optimizando recursos técnicos y humanos. Durante estos años la UA ha ido mejorando de forma progresiva dichos recursos, adquiriendo una sólida experiencia en el área de la caracterización de materiales. El objetivo de la Unidad de Apoyo a la Investigación II del ICP es servir de apoyo analítico a la actividad investigadora que se desarrolla en el centro y para ello cuenta con técnicas de caracterización de materiales: difracción de RX (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), espectroscopía UV-Vis-NIR, porosimetría de mercurio (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), picnometría de helio, y SEM que dan servicio a las diversas líneas de investigación del ICP. La Unidad de Apoyo a la Investigación II también presta sus servicios a investigadores externos al ICP procedentes de empresas privadas y OPIs
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
La Difracción de Rayos X es una técnica muy útil para la caracterización estructural de materiales que presentan cierto grado de cristalinidad. El difractograma de RX de polvo nos proporciona la posición, la intensidad y el perfil de los picos en función del ángulo 2theta. Con esta información es posible la identificación y cuantificación de fases cristalinas, la determinación del tamaño del cristal y su simetría, de la celda unidad, y con unos conocimientos suficientes de cristalografía, la resolución de la estructura de materiales policristalinos, es decir, la determinación de la posición de cada uno de sus átomos. Equipamiento Difractómetro de Rayos X Policristal X Pert Pro PANalytical con una configuración theta -2theta. El equipo permite realizar análisis cualitativo, cuantitativo y ángulo bajo, empleando radiación CuKalfa (lambda = 1,5406 Å, 45 kV, 40 mA). El equipo dispone de un detector rápido X Celerator y un cargador de muestras de 15 posiciones que permiten el análisis de un gran número de muestras en tiempos más cortos comparados con los detectores tradicionales. Cámara de reacción (Anton Paar XRK900): permite realizar análisis de difracción de Rayos X modificando la temperatura y empleando distintos gases (aire, N2 y vacío).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Difracción de Rayos X con Cámara de Temperatura | € / h | 61.73 € | 67.61 € |
| Angulo Bajo | € / muestra | 62.7 € | 68.67 € |
| Caracterización estructural: XRD en polvo cualitativo | € / muestra | 39.35 € | 43.1 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización molecular: UV
- Densidad
- Porosidad
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE RAYOS X
- Instituto: CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIONES METALURGICAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.cenim.csic.es/
El laboratorio de Rayos X está dotado de los siguientes equipos: - Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con un sistema analizador por dispersión de longitud de onda de rayos X (WDX) Bruker S8 tiger - Equipo de microfluorescencia de Rayos X Fischerscope XUV con detector de dispersión de energías de rayos X (EDX). - Difractómetro de rayos X Siemens D5000, equipado con un anillo central de Euler abierto - Difractómetro de rayos X de alta precisión Bruker AXS D8 advance, con anillo central de Euler abierto, equipado con un sistema de detector lineal y un puntero láser controlado por vídeo cámara para asegurar la correcta colocación de la muestra y alineado del haz. En el laboratorio se realizan, entre otros, los siguientes ensayos a) Análisis por fluorescencia y microfluorescencia de rayos X (FRD y µFRD) b) Caracterización estructural por difracción de rayos X (XRD). Para una descripción más detallada de los ensayos, vease el apartado "Prestaciones" en el Menu principal.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Para la identificación de las fases presentes en un material policristalino se procede a comparar la posición y la intensidad de las líneas de difracción de rayos X presentes en el espectro problema con la posición y la intensidad relativa de los patrones de referencia conocidos, los cuales aparecen incluidos en una base de datos que cada año publica la organización ICDD (International Centre for Difraction Data). El software DIFFRACplus incluye una función que permite realizar esta tarea de forma automática (SEARCH).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | € / muestra | 65.44 € | 71.67 € |
| General con identificación | euro / muestra | 86.08 € | 94.28 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- XRD (Difracción de Rayos X) : Medida de los parámetros de la celda cristalina
- XRD (Difracción de Rayos X) Láminas delgadas
- Determinación de tensiones residuales
- Análisis por microfluorescencia de rayos X
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Análisis de suelos, plantas y aguas
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIAS AGRARIAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ica.csic.es/
Usando técnicas de extracción adecuadas, en el Servicio se realiza la cuantificación de elementos biodisponibles, asimilables y contaminantes inorgánicos en suelos, plantas y otros materiales. Igualmente se cuantifican elementos metálicos y aniones en muestras líquidas de extractos y aguas de origen natural y residual. También es posible realizar determinaciones de materia orgánica, nitrógeno orgánico en suelos y plantas, pH, conductividad eléctrica y granulometría en suelos.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Técnica analítica para la determinación de fases en muestras sólidas cristalinas. La muestra ha de ser un polvo fino. Algunas aplicaciones son la identificación de fases cristalinas, detección de polimorfos, cálculo del porcentaje de cristalinidad, cálculo del contenido en material amorfo y tamaño medio de cristalito de diferentes tipos de muestras, como geológicas, suelos o fertilizantes.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD en polvo cualitativo | € / muestra | 53.13 € | 58.19 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis fertilidad suelos: materia orgánica
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Aniones
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Cationes
- Digestión ácida
- Fertilidad de suelos
- Textura de suelos
- Preparación de muestras
- Caracterización por espectroscopía infrarroja
- Análisis elemental C/N
- Cromatografía de gases
- Liofilización
- Análisis de gases de efecto invernadero
- Determinación de parámetros físico-químicos del agua
- Análisis de carbono inorgánico en suelos y sedimentos
- Asesoría, consultoría y/o redacción de informes técnicos
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Se realiza análisis cualitativo de las fases cristalinas presentes en la muestra, la identificación se lleva a cabo mediante el software EVA comparando con bases de datos de compuestos patrón. El Servicio dispone de las bases de datos PDF y COD. Al tratarse de un equipo de microdifracción se necesita poca cantidad de muestra. La difracción de rayos X es una de las técnicas más eficaces para el estudio de cualquier material cristalino, ya sea inorgánico u orgánico, natural o sintético. Permite la caracterización microestructural de las fases cristalinas presentes en una muestra. El Servicio de Técnicas No Destructivas del Museo Nacional de Ciencias Naturales dispone de un equipo de difracción de Rayos X D8-Discover de Bruker, con fuente de ánodo de Cu. Presta servicio tanto a nivel interno como externo. Al tratarse de un equipo de microdifracción permite analizar pequeñas zonas de la muestra sin tratamiento previo, posee colimadores de entre 2mm y 50¿m. La localización de la zona de interés se realiza con ayuda de un microscopio y de un puntero láser para optimización de la altura. De esta forma se puede llevar a cabo análisis cualitativos de forma no destructiva preservando la integridad de muestras valiosas, como gemas, muestras tipo o paleontológicas . Asimismo permite la realización de mapping y linescan. Además, el equipo dispone de un horno de calentamiento que alcanza los 1400oC con el objeto de poder realizar estudios de cambios de fase, de disoluciones sólidas, etc.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| CARACTERIZACION ESTRUCTURAL XRD CUALITATIVO | € / hora | 149.89 € | 164.17 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Difracción de Rayos X
- Instituto: INSTITUTO DE CERAMICA Y VIDRIO
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icv.csic.es/
El laboratorio de difracción de rayos X del ICV está dotado con los siguientes difractómetros para el análisis de muestras policristalinas: - Difractómetro de polvo Bruker D8 Advance. Difractómetro con radiación de CuKα y detector de ángulo rasante para análisis superficial. Utilizable para muestras convencionales. - Difractómetro de polvo Bruker D8 Advance con radiación de Cu Kα con detector rápido (lynxeye). Difractómetro con radiación de CuKa dotado de un dispositivo Linx Eye, (Ojo de Lince) para captación de radiación difractada simultánea sobre un intervalo de 2θ entre 2-110º, y de un cargador de muestras de hasta nueve portas, para la realización de análisis de difracción en tiempos más cortos. Software para control independiente de cada difractómetro, identificación de fases, tamaño de partícula, base de datos de estructuras cristalinas, análisis cuantitativo de fases y otras opciones.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
El laboratorio de difracción de rayos X del ICV está dotado con los siguientes difractómetros para el análisis de muestras policristalinas: - Difractómetro de polvo Bruker D8 Advance. Difractómetro con radiación de CuK y detector de ángulo rasante para análisis superficial. Utilizable para muestras convencionales. - Difractómetro de polvo Bruker D8 Advance con radiación de Cu K con detector rápido (lynxeye). Difractómetro con radiación de CuKa dotado de un dispositivo Linx Eye, (Ojo de Lince) para captación de radiación difractada simultánea sobre un intervalo de 2º entre 2-110º, y de un cargador de muestras de hasta nueve portas, para la realización de análisis de difracción en tiempos más cortos. Software para control independiente de cada difractómetro, identificación de fases, tamaño de partícula, base de datos de estructuras cristalinas, análisis cuantitativo de fases y otras opciones.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD en polvo cualitativo | € / h | 31.58 € | 34.59 € |
Otras prestaciones de servicio
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Servicio de Espectroscopía
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DEL CARBONO
- Localidad: Oviedo (Asturias)
- Web del servicio: http://www.incar.csic.es/
El servicio de espectroscopía ofrece prestaciones para espectroscopía fotoelectrónica de Rayos X, espectroscopía infrarroja con transformada de Fourier, espectroscopía visible ultravioleta, espectroscopía Raman, difracción de Rayos X y análisis petrográfico
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Se dispone de un difractómetro DRX Bruker D8 Advance con ánodo de Cu, que trabaja con la configuración de haz paralelo. Software de análisis Diffrac.Eva. Es una técnica no destructiva que permite analizar muestras sólidas (piezas, polvo fino, ...) con cierto grado de cristalinidad. Algunas aplicaciones son la identificación de fases cristalinas, detección de polimorfos, tamaño medio de cristalito de diferentes tipos de muestras, como geológicas, materiales de construcción, metales, muestras farmacéuticas, obras de arte, etc. En este momento, no se dispone de capacidad para el análisis cuantitativo de fases. Sin embargo, en algunos casos, se pueden realizar análisis semicuantitativos de muestras cristalinas.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| DRX Equipo Bruker D8 Advance | € / hora | 28.87 € | 78.85 € |
| Análisis de resultados y elaboración de informe | € / hora | 106.18 € | 130.31 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE ANALISIS Y CARACTERIZACION
- Instituto: INSTITUTO DE CARBOQUIMICA
- Localidad: Zaragoza (Zaragoza)
- Web del servicio: http://www.icb.csic.es/
El Servicio de Análisis y Caracterización del Instituto de Carboquímica es una unidad de apoyo a la investigación que engloba una amplia variedad de técnicas analíticas e instrumentales para la caracterización de todo tipo de materiales. En la actualidad, el servicio ofrece numerosas prestaciones en su catálogo de servicios, entre las que se incluyen la caracterización de combustibles (análisis elemental, inmediato y poder calorífico), cromatografía iónica, análisis químico mediante ICP-OES, espectroscopías (XPS, Raman, FTIR), difracción de rayos X, microscopia electrónica de barrido (SEM), caracterización textural (fisisorción, porosimetría de mercurio, densidad) y distribución de tamaño de partícula. El laboratorio presta sus servicios tanto a los investigadores del ICB como a los investigadores de otros OPIS y Universidades, así como a empresas y particulares que lo requieran.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Se dispone de un equipo de difracción de rayos X de polvo policristalino Bruker D8 Advance con posibilidad de trabajar en geometría Bragg-Brentano theta-theta , espejo Göbel para geometría de haz paralelo, ángulo rasante y accesorio capilar. La radiación utilizada es la de CuKalpha de 1600 W Se dispone de una base de datos ICCD con más de 200.000 fases así como del software EVA de Bruker para llevar a cabo la asignación de fases. La obtención de los difractogramas se lleva a cabo conforme a la Norma ISO 13925 (1-2-3).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| XRD Cualitativo | euro/muestra | 117.56 € | 128.25 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis cenizas: Alta T
- Análisis elemental CHSN
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis humedad
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Análisis TOC
- Análisis volátiles
- Aniones
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización molecular: FT-IR
- Densidad
- Diseño mediante CAD de piezas 2D o 3D
- Espectroscopía micro-Raman
- Poder calorífico
- Porosidad
- Prototipado rápido de piezas por depósito de plástico
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Spectroscopy: X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
- Superficie específica
- Espectrometría de masas acoplada a DSC/ATD/TG para análisis de gases efluentes
- Preparación de muestras
- Fabricación de piezas mediante procedimiento de arranque de viruta
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: CARACTERIZACION FISICO-QUIMICA DE MUESTRAS AMBIENTALES: Difracción de Rayos X, ICP
- Instituto: INSTITUTO DE DIAGNOSTICO AMBIENTAL Y ESTUDIOS DEL AGUA
- Localidad: Barcelona (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.idaea.csic.es
El servicio consta del siguiente equipamiento: Un equipo de cromatografía HPLC dirigido a la determinación de aniones en muestras líquidas. Un equipo de electrodos selectivos diferentes para la determinación del Cl total, F total y amonio en muestras líquidas o lixiviaciones de muestars sólidas. Un equipo OCEC para la determinación de C total, CO y CE. Un equipo LECO AMA-254 para la determinación de Hg. 2 equipos de Difracción de Rayos X para la determinación cristalina de muestras sólidas. Un espectrómetro óptico de emisión ICP-AES para la determinación multielemental de elementos mayoritarios. Un espectrómetro de masas con fuente de plasma acoplado inductivamente, ICP-MS para la determinación multielemental de elementos traza.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
IDENTIFICACIÓN DE FASES EN MATERIALES POLICRISTALINOS mediante Difracción de Rayos-X La identificación de fases cristalinas mediante Difracción de Rayos-X (DRX) permite determinar los compuestos mayoritarios y minoritarios en una muestra policristalina. Los resultados comúnmente incluyen el nombre (común) de la sustancia, su fórmula química, sistema cristalino, y numero de patrón de referencia de la Base de Datos ICDD. Las muestras se analizan con el equipamiento disponible en el laboratorio de DRX del IDAEA-CSIC (de alto rendimiento y fiabilidad, y homologado por el Consejo de Seguridad Nuclear, y revisado periódicamente por técnicos especialistas de Bruker) Equipamiento: * Difractómetro de Rayos X D8 Advance de la marca Bruker: difractómetro ¿:¿ con espejo Göbel (para geometría en haz paralelo), ánodo de Cu, detector SOL-X con posibilidad de cambio a detector de centelleo. Permite el análisis directo en muestras que no se presentan en polvo, análisis de incidencia rasante y está especialmente indicado en análisis de materiales que emiten fluorescencia tales como, materiales ferrosos. *Difractómetro de Rayos X D8 Advance A25 de la marca Bruker: difractómetro de polvo ¿:¿, con posibilidad de cambio entre geometría Bragg-Brentano (de haz focalizado) y espejo Göbel (de haz paralelo), radiación de Cu, juegos de rejillas incidentes variables o fijas, rejillas Soller, filtro de Ni, detector lineal ultra rápido LynxEye, con opción de giro de la muestra durante el análisis e intercambiador de muestras automático de 90 posiciones. Es idóneo para la identificación rutinaria de compuestos, análisis cuantitativo y otras aplicaciones en un tiempo de medida menor. Posteriormente los datos son interpretados mediante el software Diffracplus basic EVA con acceso a la base de datos Internacional de referencia ICDD-PDF2.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD en polvo cualitativo | € / h | 118.48 € | 129.76 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE GEOQUIMICA
- Instituto: INSTITUTO GEOLOGICO Y MINERO DE ESPAÑA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: https://www.igme.es/servicio/
El laboratorio de Geoquímica dispone de: -Técnicas no instrumentales: gravimetrías y volumetrías. -Técnicas instrumentales: pH, conductividad eléctrica, analizador elemental (C,N,S), espectrofotometría de absorción molecular UV-VIS, espectroscopia de absorción/emisión atómica (AAS), espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente (ICP-AES) espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS), espectroscopía XRF, y XRD, y espectrometría de masas de termoionización (TIMS).Su actividad principal se centra en el análisis de muestras relacionadas con la Ciencias de la Tierra (aguas, drenajes ácidos de mina, lixiviados suelos, sedimentos, concentrados minerales, residuos, etc.) y la obtención e interpretación de los resultados analíticos. Las determinaciones realizadas se aplican a los estudios de caracterización geoquímica (elementos mayoritarios y trazas), estudios de contaminación, caracterización mineralógica y datación de materiales geológicos.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
Descripción de la prestación
Los ditractogramas se obtienen en un equipo XPERT PRO MPD de PANalytical: tubo de cobre (45mA; 40kV), monocromador de grafito y rendija automática. Software de captación de datos X¿Pert Data Collector 2.1.a (PANalytical). El análisis e interpretación de los datos obtenido se realiza con el software HighScore versión 3.0.4 (PANalytical) y las bases de Datos PDF-2 (ICDD) y CODJanuary2021.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Interpretación cualitativa de resultados | € / muestra | 39.3 € | 43.04 € |
| Análisis por XRD: Barrido cualitativo compuestos orgánicos | € / muestra | 59.18 € | 64.82 € |
| Análisis por Difracción de Rayos X: Barrido DRX-Polvo total | € / muestra | 66.35 € | 72.67 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elemental CHSN
- Análisis elementos: CVAAS
- Análisis elementos: FAAS
- Análisis elementos: ICP-MS
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Análisis elementos: XRF Traza
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Digestión ácida
- Pérdida al fuego
- Tratamiento muestra: Fusión
- Datación geocronológica por el método U-Pb
- Ensayos edafológicos: Ensayos de suelos