- Áreas de investigación
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- Tierra y Medioambiente
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subagrupación
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- Caracterización Estructural
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
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SERVICIO DE DIFRACCION DE RAYOS X GEO3BCN - Barcelona |
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Instrumentación Científica y Servicios Analíticos: Difracción de rayos X IACT-CSIC - Armilla |
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CENIM - Madrid |
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Análisis de suelos, plantas y aguas ICA - Madrid |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
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CARACTERIZACION FISICO-QUIMICA DE MUESTRAS AMBIENTALES: Difracción de Rayos X, ICP IDAEA - Barcelona |
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IGME - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE DIFRACCION DE RAYOS X
- Instituto: GEOCIENCIAS BARCELONA
- Localidad: Barcelona (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.geo3bcn.csic.es/
El Servicio de Difracción de RX está centrado en la caracterización cualitativa y cuantitativa de las fases cristalinas presentes en los materiales. El Servicio de DRX, con más de 30 años de experiencia en este campo, ofrece soporte analítico a los científicos del ICTJA en diversos áreas de las Ciencias de la Tierra, incluyendo la vulcanología, petrología y sedimentología. Además, el Servicio ofrece soporte a investigadores externos que desarrollan su labor en geología, ciencia de los materiales, ciencias ambientales, química, farmacia, arqueología, etc. Un gran número de compañías y organizaciones tanto de los sectores públicos cómo privados acuden al Servicio de DRX en el ICTJA para aplicaciones industriales específicas, estudios de control de calidad y medioambientales, ciencias forenses, etc. También se ofrecen servicios de análisis para la determinación del tamaño de partícula mediante difracción láser y de análisis análisis elemental in situ mediante fluorescencia de rayos X.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
Descripción de la prestación
El Servicio de Difracción de rayos X realiza de forma rutinaria análisis de arcillas, lo cual incluye, además del análisis por DRX de la muestra en polvo, los siguientes análisis: i) medida de DRX de los agregados orientados; ii) análisis por DRX de las muestras glicoladas (en etilenglicol); iii) análisis por DRX de las muestras calcinadas a 550ºC.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD agregados orientados | euro / muestra | 154.2 € | 168.88 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización de tamaño de partículas: Difracción laser
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Instrumentación Científica y Servicios Analíticos: Difracción de rayos X
- Instituto: INSTITUTO ANDALUZ DE CIENCIAS DE LA TIERRA IACT-CSIC
- Localidad: Armilla (Granada)
- Web del servicio: https://www.iact.csic.es/unidades-de-servicios/cientifico-tecnicos/grupo/analisis-instrumental/
El laboratorio de difracción de Rayos X del IACT realiza análisis mineralógico de muestras sólidas en polvo de naturaleza inorgánica o mineral, para la identificación de fases (análisis cualitativo) o estimación de composición (estimación cuantitativa). En el caso de minerales de la arcilla se realizan análsis de muestras en agregado orienteado con los diferentes tratamiento químicos y térmicos habituales. El servicio está equipado con un difractómetro de polvo PANALYTICAL modelo X'PERT PRO, con tubo de Cu, detector X'Celerator 1D en estado sólido, plataformas estática y giratoria (spinner) y cargador automático para 45 muestras. Permitiet anto el análisis rápido de muestras como la medida de materilaes de los que se dispone de muy poca cantidad (mg). Las muestras más comunes son minerales, cerámicas, cementos, suelos, materiales inorgánicos , pigmentos, etc. Puede analizarse cualquier material cristalino, orgánico o inorgánico.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
Descripción de la prestación
Técnica y equipamiento Una vez se recibe la muestra en polvo se cargo en el porta correspondiente. En determinados casos es necesario realizar el estudio de las fracciones de muestra con tamaño inferior a dos micras, aplicando distintos tratamientos, fundamentalmente: 1. Agregado orientado (A.O.)(3-50º 2 theta) 2. A.O. en entilén glicol (3-30º 2 theta) 3. A .O .en dimetil sulfosido(3-30º 2 theta) 4. A .O. calentado a 550ºC (3-30º 2 theta) Las muestras se analizan utilizando un instrumento comercial de Difracción de Rayos X (X PERT PRO de PANALYTICAL), equipado con un tubo de rayos X de ánodo de Cu (45kV, 40 mA); se utiliza el portamuestras giratorio para mejorar la estadística de la orientación, con un tiempo de rotación de las muestras de 4 seg ,un filtro de Ni y un detector del tipo RTMS (X `Celerator) de tipo lineal. El rango de barrido normal es de 4.000 a 69,9928 (º), el tamaño de paso (Step size) es de 0,0084 (º), el tipo de barrido es con un tiempo de contaje de 10,150 segundos, obteniéndose 7898 puntos de información en total y tardando aproximadamente 11 minutos por muestra. La interpretación se realiza utilizando el propio software del equipo (X Pert High Score).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Preparación de muestra y medida | € / muestra | 33.8 € | 37.02 € |
| Análisis cualitativo (Identificación) | € / muestra | 23.94 € | 26.22 € |
| Solo Medida | € / muestra | 12.9 € | 14.12 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE RAYOS X
- Instituto: CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIONES METALURGICAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.cenim.csic.es/
El laboratorio de Rayos X está dotado de los siguientes equipos: - Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con un sistema analizador por dispersión de longitud de onda de rayos X (WDX) Bruker S8 tiger - Equipo de microfluorescencia de Rayos X Fischerscope XUV con detector de dispersión de energías de rayos X (EDX). - Difractómetro de rayos X Siemens D5000, equipado con un anillo central de Euler abierto - Difractómetro de rayos X de alta precisión Bruker AXS D8 advance, con anillo central de Euler abierto, equipado con un sistema de detector lineal y un puntero láser controlado por vídeo cámara para asegurar la correcta colocación de la muestra y alineado del haz. En el laboratorio se realizan, entre otros, los siguientes ensayos a) Análisis por fluorescencia y microfluorescencia de rayos X (FRD y µFRD) b) Caracterización estructural por difracción de rayos X (XRD). Para una descripción más detallada de los ensayos, vease el apartado "Prestaciones" en el Menu principal.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
Descripción de la prestación
La difracción de rayos X permite caracterizar la distribución de orientaciones preferentes respecto a un sistema de coordenadas fijo en la muestra. Esta distribución se obtiene midiendo la intensidad de los rayos X difractados por una muestra a un determinado ángulo de Bragg y cambiando la orientación de la misma. Estos datos se representan sobre una proyección estereográfica, o bien utilizan para calcular la función de distribución de intensidades (FDO), la cual representa la fracción de volumen de granos con una orientación cristalográfica determinada.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD agregados orientados | euro / muestra | 218.73 € | 239.56 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- XRD (Difracción de Rayos X) : Medida de los parámetros de la celda cristalina
- XRD (Difracción de Rayos X) Láminas delgadas
- Determinación de tensiones residuales
- Análisis por microfluorescencia de rayos X
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Análisis de suelos, plantas y aguas
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIAS AGRARIAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ica.csic.es/
Usando técnicas de extracción adecuadas, en el Servicio se realiza la cuantificación de elementos biodisponibles, asimilables y contaminantes inorgánicos en suelos, plantas y otros materiales. Igualmente se cuantifican elementos metálicos y aniones en muestras líquidas de extractos y aguas de origen natural y residual. También es posible realizar determinaciones de materia orgánica, nitrógeno orgánico en suelos y plantas, pH, conductividad eléctrica y granulometría en suelos.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
Descripción de la prestación
Identificación mediante difracción de rayos-X de los minerales de las arcillas de muestras de suelos, sedimentos, rocas y materiales de cualquier origen.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Agregados Orientados | € / muestra | 53.58 € | 58.68 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis fertilidad suelos: materia orgánica
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Aniones
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Cationes
- Digestión ácida
- Fertilidad de suelos
- Textura de suelos
- Preparación de muestras
- Caracterización por espectroscopía infrarroja
- Análisis elemental C/N
- Cromatografía de gases
- Liofilización
- Análisis de gases de efecto invernadero
- Determinación de parámetros físico-químicos del agua
- Análisis de carbono inorgánico en suelos y sedimentos
- Asesoría, consultoría y/o redacción de informes técnicos
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
Descripción de la prestación
Se realiza análisis de arcillas aplicando la metodología convencional para las mismas, se llevan a cabo los análisis de muestras de arcillas en agregado orientado con los tratamientos químicos y térmicos habituales. La difracción de rayos X es una de las técnicas más eficaces para el estudio de cualquier material cristalino, ya sea inorgánico u orgánico, natural o sintético. Permite la caracterización microestructural de las fases cristalinas presentes en una muestra. El Servicio de Técnicas No Destructivas del Museo Nacional de Ciencias Naturales dispone de un equipo de difracción de Rayos X D8-Discover de Bruker, con fuente de ánodo de Cu. Presta servicio tanto a nivel interno como externo. Al tratarse de un equipo de microdifracción permite analizar pequeñas zonas de la muestra sin tratamiento previo, posee colimadores de entre 2mm y 50¿m. La localización de la zona de interés se realiza con ayuda de un microscopio y de un puntero láser para optimización de la altura. De esta forma se puede llevar a cabo análisis cualitativos de forma no destructiva preservando la integridad de muestras valiosas, como gemas, muestras tipo o paleontológicas . Asimismo permite la realización de mapping y linescan. Además, el equipo dispone de un horno de calentamiento que alcanza los 1400oC con el objeto de poder realizar estudios de cambios de fase, de disoluciones sólidas, etc.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterizacion estructural XRD agregados orientados €/h | euro / hora | 171.21 € | 187.52 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: CARACTERIZACION FISICO-QUIMICA DE MUESTRAS AMBIENTALES: Difracción de Rayos X, ICP
- Instituto: INSTITUTO DE DIAGNOSTICO AMBIENTAL Y ESTUDIOS DEL AGUA
- Localidad: Barcelona (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.idaea.csic.es
El servicio consta del siguiente equipamiento: Un equipo de cromatografía HPLC dirigido a la determinación de aniones en muestras líquidas. Un equipo de electrodos selectivos diferentes para la determinación del Cl total, F total y amonio en muestras líquidas o lixiviaciones de muestars sólidas. Un equipo OCEC para la determinación de C total, CO y CE. Un equipo LECO AMA-254 para la determinación de Hg. 2 equipos de Difracción de Rayos X para la determinación cristalina de muestras sólidas. Un espectrómetro óptico de emisión ICP-AES para la determinación multielemental de elementos mayoritarios. Un espectrómetro de masas con fuente de plasma acoplado inductivamente, ICP-MS para la determinación multielemental de elementos traza.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
Descripción de la prestación
PREPARACIÓN DE AGREGADOS ORIENTADOS DE ARCILLAS PARA ANÁLISIS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X La identificación mediante difracción de rayos-X de los minerales de las arcillas, precisa de una preparación específica que consiste en disponer los cristales orientados sobre un soporte (método de los agregados orientados). Las etapas de preparación de agregados orientados que se realiza en el laboratorio de DRX del IDAAEA-CSIC son las siguientes: a) se dispersa la muestra total con agua destilada y se separa la fracción fina por decantación. Se recupera la fracción más fina para preparar los agregados orientados. b) la orientación se realiza preparando la suspensión de la muestra en polvo y después depositando un menisco sobre un soporte de vidrio. Esto permite caracterizar las arcillas porque difractan por los espaciados basales. c) Solvatación con etilenglicol, con el fin de aumentar la distancia interplanar de arcillas expansivas d) Calcinación a 550ºC, para eliminar capas tipo 1:1 (ex. Caolinita) Las muestras resultantes de cada etapa se analizan mediante un Difractómetro de Rayos X D8 Advance de la marca Bruker con ánodo de Cu, espejo Göbel, detector SOL-X y se analiza un ángulo de barrido de 2¿ entre 2 y 60º .| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Caracterización estructural: XRD agregados orientados | euro / muestra | 212.9 € | 233.18 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE GEOQUIMICA
- Instituto: INSTITUTO GEOLOGICO Y MINERO DE ESPAÑA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: https://www.igme.es/servicio/
El laboratorio de Geoquímica dispone de: -Técnicas no instrumentales: gravimetrías y volumetrías. -Técnicas instrumentales: pH, conductividad eléctrica, analizador elemental (C,N,S), espectrofotometría de absorción molecular UV-VIS, espectroscopia de absorción/emisión atómica (AAS), espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente (ICP-AES) espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS), espectroscopía XRF, y XRD, y espectrometría de masas de termoionización (TIMS).Su actividad principal se centra en el análisis de muestras relacionadas con la Ciencias de la Tierra (aguas, drenajes ácidos de mina, lixiviados suelos, sedimentos, concentrados minerales, residuos, etc.) y la obtención e interpretación de los resultados analíticos. Las determinaciones realizadas se aplican a los estudios de caracterización geoquímica (elementos mayoritarios y trazas), estudios de contaminación, caracterización mineralógica y datación de materiales geológicos.
Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
Descripción de la prestación
El estudio de la fracción arcilla se realiza preparando agregados orientados que se estudian en ambiente normal, solvatados con etilenglicol en fase vapor a 60°C durante 48 horas y calentados a 550°C durante dos horas (diagramas A, E y T, respectivamente).La medida se realiza en un equipo XPERT PRO MPD de PANalytical: tubo de cobre (45mA; 40kV), monocromador de grafito y rendija automática. Software de captación de datos X'Pert Data Collector 2.1.a (PANalytical).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Análisis por Difracción de Rayos X: DRX-Agregados Orientado | € / muestra | 114.69 € | 125.61 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elemental CHSN
- Análisis elementos: CVAAS
- Análisis elementos: FAAS
- Análisis elementos: ICP-MS
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Análisis elementos: XRF Traza
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Digestión ácida
- Pérdida al fuego
- Tratamiento muestra: Fusión
- Datación geocronológica por el método U-Pb
- Ensayos edafológicos: Ensayos de suelos