- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Muestreo, Preparación, Tratamiento y Conservación de Muestras
- Fabricación y Tratamiento
- Subagrupación
-
- Tratamiento de Muestras
- Otros
Metalización (Sputtering)
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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LABORATORIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS IH - Madrid |
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SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (SEM) CEAB - Blanes |
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ICMM - Madrid |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
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SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO RJB - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS
- Instituto: INSTITUTO DE HISTORIA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.ih.csic.es/
Estudio arqueológico y caracterización microscopica de materiales, preparción de muestras mediante metalización (Carbon y Au-Pd) y microanálisis mediante espectroscopia por energía dispersiva de rayos X (SEM-EDX). Microscopia optica para metalográfia y Microscopia 3D para estudio de rasgos tecnológicos
Metalización (Sputtering)
Descripción de la prestación
La mala conductividad electrónica puede afectar al adecuado estudio de las muestras en el SEM. Para solventar este problema, además de reducir --en función del tipo de SEM utilizado- el nivel de vacío de la cámara, es necesario en muchas ocasiones aplicar un tratamiento previo de metalización a las muestras, que consiste en el recubrimiento de su superficie con un material conductor. Para ello, nuestro laboratorio dispone de equipos de sputtering con grafito (Más adecuado estudios analíticos en SEM-EDX), y con Au/Pd (Más adecuado para estudios topográficos)| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Tarifa A | 27.23 € | 29.82 € |
Otras prestaciones de servicio
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (SEM)
- Instituto: CENTRO DE ESTUDIOS AVANZADOS DE BLANES
- Localidad: Blanes (Girona)
- Web del servicio: http://www.ceab.csic.es/
El Servicio de Microscopía Electrónica del Centro de Estudios Avanzados de Blanes está disponible para la observación de muestras en el Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) y la realización de microanálisis por dispersión de energía de Rayos X (EDS). Disponible para todos los investigadores del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), para otros centros públicos de investigación y para la empresa privada. Dispone de los equipos necesarios para la preparación de muestras y asesora a los usuarios, tanto en la preparación de muestras como en el manejo de los distintos equipos. Así mismo el servicio dispone de un formulario para tramitar e informar de posibles sugerencias o quejas con objeto de mejorar el servicio. Equipos: Hitachi SEM TM3000 Tabletop, EDS QUANTAX 70, Sputter Quórum Technologies Q150R S/E/ES Webpage: http://www.ceab.csic.es/web/?page_id=10691
Metalización (Sputtering)
Descripción de la prestación
Se dispone de un aparato Quorum de metalización modelo Q150R_S para recubrimiento por sputtering de las muestras, con oro (Au) u oro-paladio (Au-Pd).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Metalizado con Au/Pd | 35.54 € | 38.93 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SALA BLANCA
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.icmm.csic.es/
El Servicio General de la Sala Blanca del Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC) está concebido como un Servicio Intercentros dentro del Campus de Excelencia CSIC-UAM, que además cuenta con usuarios externos, principalmente de grupos pertenecientes a centros de la Comunidad de Madrid. La instalación de este laboratorio comenzó en 2011, estando en la actualidad en marcha prácticamente todas sus técnicas de micro-nanofabricación. Actualmente la sala blanca es de clase 10000 y está dotada con las siguientes técnicas y facilidades (algunos aportados por distintos grupos de investigación del ICMM). - Caja seca de 4 guantes con control de humedad y oxígeno hasta 1ppm. Dentro de la caja seca hay un sistema de spin-coating integrado. - Evaporadora para metales y grafito. - Sistema de depósito por sputtering con un magnetrón. - Fotolitografía UV con resolución de 0.8 micrómetros. - Spin-coating - Cabina de flujo laminar - Equipo de deposición de chapas atómicas (ALD)
Metalización (Sputtering)
Descripción de la prestación
Sistema de deposición de metales mediante sputtering DC con un magnetrón. Hay disponible un target de aluminio. Los usuarios traerán los targets de otros metales si así lo requieran.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | 45.35 € | 49.67 € |
Otras prestaciones de servicio
- Packaging-Assembly: Wire bonding ball
- Fotolitografía: fabricación de máscaras
- Deposición física desde fase vapor: ALD
- Tratamiento de superficies por plasma
- Tratamiento de muestras: metalizado por evaporación
- Determinación Característica Corriente-Voltaje
- Fotolitografía UV sin máscara
- Litografía 3D de dos fotones
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Metalización (Sputtering)
Descripción de la prestación
La prestación consiste en la metalización con carbón o con oro. El servicio dispone de 2 metalizadores, uno con C y otro con Au, donde pueden metalizarse 6 muestras simultáneamente en soportes de microscopía electrónica ( stub). Cada metalización son 6 muestras. Suele solicitarse para preparación de muestras para microscopia electrónica de barrido, y análisis por EDS y WDS. De esta manera la muestra es conductora en su superficie.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Metalización Au | 44.71 € | 48.96 € | |
| Metalización-C | 33.00 € | 36.14 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microdifracción de rayos X No destructiva
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO
- Instituto: REAL JARDIN BOTANICO
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.rjb.csic.es/
El Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido presta su asistencia a aquellos usuarios y/o grupos de investigación del RJB, así como a otros organismos o entidades públicas o privadas que así lo soliciten. El Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido dispone del siguiente equipamiento: • Metalizadora por Pulverización Catódica Quorum Q150RS_Plus • Estación de preparación de muestras de secado por punto crítico CPD LEICA 300 • Microscopio Electrónico De Barrido Hitachi S3000N, con detector de electrones secundarios y retrodispersados.
Metalización (Sputtering)
Descripción de la prestación
En general una de las características de las muestras biológicas es su mala conductividad electrónica. Para solventar este problema y conseguir la correcta visualización de las muestras en un microscopio de barrido en alto vacío, es necesario hacer a las muestras conductoras para que sean visibles a los electrones. El servicio dispone de un sistema Quorum Q150R Plus, para recubrimiento con oro, que permite la deposición de una fina capa metálica sobre la muestra.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Metalización portas pequeños | 22.12 € | 24.23 € | |
| Metalización portas grandes | 30.03 € | 32.89 € |