- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Barrido
Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
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SERVICIO DE MICROCOPÍA ELECTRÓNICA Y ÓPTICA ICM - Barcelona |
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ICMAB - Cerdanyola del Vallès |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE MICROCOPÍA ELECTRÓNICA Y ÓPTICA
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIAS DEL MAR
- Localidad: Barcelona (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.cmima.csic.es/serveis/micro/
Equipos: dos microscopios electrónicos de barrido, uno de Emisión de Campo (FESEM) HITACHI SU8600, y otro de presión variable (VPSEM), HITACHI S-3500N. El SU8600, está equipado con los siguientes detectores: 2 de electrones secundarios, dos de retrodispersados y dos de rayos X por dispersión de energías (EDS, BRUKER QUANTAX XFlash 7) para la realización de microanálisis. Un detector STEM para campo claro y campo oscuro. El S-3500N dispone de un detector de secundarios, uno de retrodispersados, de un espectrómetro EDS (BRUKER QUANTAX 200 y detector XFlash 6/30) y de un crio-SEM (QUORUM PP3000T) para el estudio de muestras crio-fijadas. Preparación de muestras: secado por punto crítico (LEICA EM CPD300), metalización por sputtering con cromo, iridio u oro y evaporación de carbón (QUORUM Q150T Plus). 8 Microscopios Ópticos (OLYMPUS- BX40F4, OLYMPUS-BX61, LEITZ-DM IL, 2 NIKON-DIAPHOT-200, ZEISS-AXIOVERT, LEICA-DM IRB S8F, ZEISS-Colibri), la mayoría equipados con epifluorescencia.
Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Descripción de la prestación
El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo permite la obtención de imágenes de alta resolución, con elevada profundidad de campo. Todas las señales que se originan en la muestra cuando incide un haz electrónico (electrones secundarios, electrones retrodispersados, rayos X, etc.) pueden ser utilizadas para obtener información sobre la naturaleza de la muestra. Por ello es muy útil para la realización de estudios morfológicos, topográficos y de composición. En el Servicio de Microscopía Electrónica del ICM tenemos gran experiencia en el estudio de microorganismos marinos, incluyendo la preparación de dichas muestras. Así mismo, se realizan estudios de estructuras y tejidos de organismos, tanto marinos como terrestres, incluyendo muestras botánicas, sedimentos y distintos tipos de materiales. Las características del Hitachi SU8600, un FE-SEM con 0,6 nm de resolución, permite el estudio de muestras a muy bajas energías, llegando a ser posible la observación de determinadas muestras sin metalizar. Está equipado con detectores de electrones secundarios y retrodispersados, en la columna y en la cámara, y permite la visualización de todas la señales simultáneamente. Asimismo se pueden realizar análisis químicos de las muestras identificando la señal de rayos X procedente de la superficie de las mismas. El equipo dispone de dos detectores de dispersión de energías de rayos X (EDS Bruker XFlash 7) de 123 eV de resolución, permitiendo realizar un análisis cualitativo y cuantitativo de los elementos químicos presentes en las muestras.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| HORAS DE FESEM | hora | 57.65 € | 71.38 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización morfológica y análisis de organismos marinos y terrestres: Microscopía Electrónica de barrido (SEM) y microanálisis (EDS)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía Electrónica de barrido (SEM): Presión variable (Low vacuum LV)
- Tratamiento muestra: Metalización (Sputtering)
- Tratamiento muestra: Secado
- Preparación de muestras
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Microscopia electronica
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Web del servicio: http://www.icmab.csic.es
El servicio de microscopía electrónica se creó en el año 2008 y consta de un microscopio electrónico de barrido (SEM) QUANTA FEI 200 FEG-ESEM y un microscopio electrónico de transmisión (TEM) JEOL JEM-1210. El FEI Quanta 200 FEG está equipado con un cañón de emisión de campo (FEG) y puede trabajar en modo de alto vacío (HV), de bajo vacío (LV) y ambiental (ESEM). El equipo consta de un analizador de energía dispersiva de rayos X (EDX) y de un sistema de nano-litografía por haz de electrones (e-beam RAITH). El JEOL JEM1210 (120KV) es un microscopio electrónico de transmisión con una resolución de 3.2 Å punto a punto. Está equipado con un portamuestras analítico de doble inclinación (Inclinación X = ± 60o, Inclinación Y = ± 30o) modelo GATAN 646. En 2011 se instaló una cámara digital GATAN, ORIUS 831 SC 600, adecuada para el registro de imágenes y de patrones de difracción.
Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Descripción de la prestación
El servicio de microscopía electrónica de barrido, está equipado con un microscopio QUANTA FEI 200 FEG-ESEM que ofrece una potente herramienta de imagen para la inspección rutinaria y avanzada de materiales. El equipo está diseñado para ofrecer imágenes con alta resolución (1.2Nm @ 30kV) está dotado con un cañón de emisión de campo, especializado para la caracterización morfológica de nanocristales, materiales nanoestructurados y superficies. Imágenes de contraste proporcional al número atómico también está disponible con alta resolución lateral (2,5 nm @ 30 kV) gracias a un detector de electrones retrodispersados. El instrumento se puede utilizar en el modo de alto vacío, modo de bajo vacío (la presión de la cámara se controla mediante inyección de vapor de agua), y en modo ambiental (ESEM). Esto hace que sea posible el estudio de muestras en presiones de hasta 5 Torr. La resolución es muy buena en todas las condiciones: 1,2 nm y 1,5 nm a 30 kV y en los modos de alto y bajo vacío, respectivamente. La capacidad para variar la presión de la cámara es especialmente adecuada para la observación de materiales no conductores sin necesidad de recubrimiento. El microscopio también cuenta con un detector EDS diseñado para caracterizar elementos ligeros, comenzando por Be, con una energía de resolución de 132 eV. Esta herramienta permite el análisis químico elemental con una alta resolución lateral (punto de análisis y mapeo elemental), como es imprescindible para la caracterización de materiales nanoestructurados y multicomponentes complejos. El servicio incluye la litografía por haz de electrones, que se utiliza en muchos campos de investigación. En el ICMAB como desarrollo de dispositivos orgánicos, la fabricación de plantillas de sustrato diseñados para la ingeniería, defecto en películas delgadas superconductoras epitaxiales, la investigación de los fenómenos de superficie de auto-organización, y la fabricación de dispositivos magnetoelectrónicos. Litografía y nano-litografía pueden ser realizados por un haz de electrones (e-beamRAITH).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| FEGSEM_autoservicio | €/hora | 119.17 € | 148.09 € |
| FEGSEM_con soporte tecnico | €/hora | 119.17 € | 148.09 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Descripción de la prestación
El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM), es un instrumento que al igual que el SEM es capaz de ofrecer una amplia variedad de información procedente de la superficie de la muestra, pero con mayor resolución y con un rango de energía mucho mayor. El funcionamiento es igual al de un SEM convencional; se barre un haz de electrones sobre la superficie de la muestra mientras que en un monitor se visualiza la información que nos interesa en función de los detectores disponibles. La mayor diferencia entre un FESEM y un SEM reside en el sistema generación de electrones. El FESEM utiliza como fuente de electrones un cañón de emisión de campo que proporciona haces de electrones de alta y baja energía muy focalizados, lo que mejora notablemente la resolución espacial y permite trabajar a muy bajos potenciales, (0.02 - 5 kV); esto ayuda a minimizar el efecto de carga en especímenes no conductores y a evitar daños en muestras sensibles al haz electrónico. Otra característica muy destacable de los FESEM es la utilización de detectores dentro de la lente, (in lens). Estos detectores están optimizados para trabajar a alta resolución y muy bajo potencial de aceleración, por lo que son fundamentales para obtener el máximo rendimiento al equipo| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| HORAS DE FEGSEM | € / hora | 201.34 € | 220.51 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa