Laboratorio de difracción de rayos-X

La difracción de rayos-X permite:
-Identificar cualitativa y cuantitativamente sustancias cristalinas y caracterizar su microestructura y textura.
-Abordar el análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad, etc.
-Seguir las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,...).
-Caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS).
-Determinar el grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X.
-Obtener la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparente a los rayos-X, mediante el empleo de capilares, etc