- Áreas de investigación
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- Humanidades y Ciencias Sociales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subgroup
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- Barrido
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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SERVICIO DE MICROCOPÍA ELECTRÓNICA Y ÓPTICA ICM - Barcelona |
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SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA ICMS - Sevilla |
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA ICTP - Madrid |
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LABORATORIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS IH - Madrid |
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Unidad de apoyo a la investigación II: estructura y espectroscopía ICP - Madrid |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
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Servicio de Análisis Térmico - SEM INCAR - Oviedo |
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SERVICIO DE ANALISIS Y CARACTERIZACION ICB - Zaragoza |
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Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y AFM ICV - Madrid |
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Laboratorio de Microscopía Aplicada/Visión Artificial IGME - Madrid |
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE MICROCOPÍA ELECTRÓNICA Y ÓPTICA
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIAS DEL MAR
- Locality: Barcelona (Barcelona)
- Service's web: http://www.cmima.csic.es/serveis/micro/
Equipos: dos microscopios electrónicos de barrido, uno de Emisión de Campo (FESEM) HITACHI SU8600, y otro de presión variable (VPSEM), HITACHI S-3500N. El SU8600, está equipado con los siguientes detectores: 2 de electrones secundarios, dos de retrodispersados y dos de rayos X por dispersión de energías (EDS, BRUKER QUANTAX XFlash 7) para la realización de microanálisis. Un detector STEM para campo claro y campo oscuro. El S-3500N dispone de un detector de secundarios, uno de retrodispersados, de un espectrómetro EDS (BRUKER QUANTAX 200 y detector XFlash 6/30) y de un crio-SEM (QUORUM PP3000T) para el estudio de muestras crio-fijadas. Preparación de muestras: secado por punto crítico (LEICA EM CPD300), metalización por sputtering con cromo, iridio u oro y evaporación de carbón (QUORUM Q150T Plus). 8 Microscopios Ópticos (OLYMPUS- BX40F4, OLYMPUS-BX61, LEITZ-DM IL, 2 NIKON-DIAPHOT-200, ZEISS-AXIOVERT, LEICA-DM IRB S8F, ZEISS-Colibri), la mayoría equipados con epifluorescencia.
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
Chemical analysis in the scanning electron microscope is performed by measuring the energy and intensity distribution of the X-ray signal generated by the electron beam focused on the surface of the sample. The energy-dispersive spectrometer (EDS) Bruker Quantax has an XFlash 7 SDD detector with a 30 mm2 active area and a energy resolution <123 eV. It is ideal for light element and low energy analysis and for micro- and nano-analysis . Esprit software makes it possible to perform qualitative and quantitative analysis.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Microanálisis de Rayos X (VPSEM-EDX) | hora | 50.88 € | 62.99 € |
| Microanálisis de Rayos X (FESEM-EDX) | hora | 58.04 € | 71.85 € |
Other services
- Caracterización morfológica y análisis de organismos marinos y terrestres: Microscopía Electrónica de barrido (SEM) y microanálisis (EDS)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de barrido (SEM): Presión variable (Low vacuum LV)
- Tratamiento muestra: Metalización (Sputtering)
- Tratamiento muestra: Secado
- Preparación de muestras
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Locality: Sevilla (Sevilla)
- Service's web: http://www.icms.us-csic.es/es/electrones
El servicio comprende la microscopía electrónica de barrido (SEM), junto con un laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM. --El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales. El equipo disponible es un SEM-FEG Hitachi-S4800 (0.5-30 kV), con analizador EDX Bruker-X Flash-4010 (resolución 133 eV en el MnKα) y un detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM). --El laboratorio de preparación de muestras dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco y ultrasónica, pulidora, “disc-grinder”, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
Scanning electron microscopy (SEM): EDS (Dispersive Energy X-ray Spectroscopy). The field emission scanning electron microscope, SEM-FEG, is fitted with a detector to analyze the X-ray emission by dispersive energy. This equipment allows elemental analysis of selected areas, as well as point and line analysis. It is also possible to perform elemental maps for selected elements which can be overlapped to get compositional maps. The energy resolution of the analyzer is 133 eV at the MnK¿ line and light elements can be detected from Boron.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 71.18 € | 88.13 € |
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DE POLIMEROS
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.ictp.csic.es/
El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General. FE-SEM | euro / hora | 135.85 € | 148.79 € |
Other services
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización molecular: UV
- Espectroscopía micro-Raman
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Espectroscopía: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - IRTF)
- Tratamiento muestra: Corte
- Tratamiento muestra: Prensado
- Caracterización dieléctrica
- Resistencia a la tracción/compresión
- Resonancia Magnética Nuclear de Sólidos
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Análisis de propiedades mecanodinámicas de materiales
- Extrusión de materiales
- Elaboración de informes técnicos (peritajes, tasaciones)
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Service general data
- Support unit: LABORATORIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS
- Institute: INSTITUTO DE HISTORIA
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.ih.csic.es/
Estudio arqueológico y caracterización microscopica de materiales, preparción de muestras mediante metalización (Carbon y Au-Pd) y microanálisis mediante espectroscopia por energía dispersiva de rayos X (SEM-EDX)
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
We offer the SEM-EDRX analytical study of organic and inorganic samples, coated or not, by variable pressure SEM (VP-SEM)| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 58.93 € | 64.54 € |
Service general data
- Support unit: Unidad de apoyo a la investigación II: estructura y espectroscopía
- Institute: INSTITUTO DE CATALISIS Y PETROLEOQUIMICA
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.icp.csic.es/tecnicas-instrumentales.php?lang=1
La Unidad de Apoyo a la Investigación nació en el año 1990 con la finalidad de centralizar las técnicas instrumentales de caracterización de materiales del ICP en una Unidad, optimizando recursos técnicos y humanos. Durante estos años la UA ha ido mejorando de forma progresiva dichos recursos, adquiriendo una sólida experiencia en el área de la caracterización de materiales. El objetivo de la Unidad de Apoyo a la Investigación II del ICP es servir de apoyo analítico a la actividad investigadora que se desarrolla en el centro y para ello cuenta con técnicas de caracterización de materiales: difracción de RX (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), espectroscopía UV-Vis-NIR, porosimetría de mercurio (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), picnometría de helio, y SEM que dan servicio a las diversas líneas de investigación del ICP. La Unidad de Apoyo a la Investigación II también presta sus servicios a investigadores externos al ICP procedentes de empresas privadas y OPIs
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
Objective To support the scientific research carried out either within or away from Institute of Catalysis and Petroleum Chemistry (ICP) by means of Scanning Electron Microscopy (SEM). Research away from ICP includes that carried out in other OPIs (Public Research Institutions), Universities and Companies. The equipment The use of a Table-top Scanning Electron Microscope is offered. The SEM equipment is a Hitachi instrument, model TM-1000. It includes a micro-analysis system by an Energy Disperse X-ray spectrometer (EDS). Basic characteristics of the TM-1000 equipment: ¿ Minimum-maximum magnifications: 25 - 10000 ¿ High versatility for size and nature of the samples: powders o bulky samples (insects, plants, membranes, catalytic monoliths, etc.) ¿ Backscattering detector for images. ¿ Metallic covering of the samples to make them conductor is not required. ¿ Energy-Dispersive detector (EDS) for chemical analysis, either punctual or general. Service Guidelines Internal user (from Institute of Catalysis and Petroleum Chemistry) Members of the Institute of Catalysis and Petroleum Chemistry can decide to work with or without technician. The easy handling of the equipment generally incites the internal users to study his/her samples. Despite this ease in handling and the existence of instructions in the laboratory, it is strongly recommended that the first handling of any user is carried out under the direct supervision of the technician (Manuel Sánchez, manuel.sanchez@icp.csic.es; Tel. 114795), who gives a learning course of about one hour duration. Similarly, it is recommended that any user who has not used the equipment for months or simply he/she does not feel confident in using it, ask the technician for a refresher session/course. Regarding the very occasional users, they are advised to choose studying their samples in presence of the technician. The use of the equipment (either with or without technician) is free for any user belonging to the Institute, and it is subject to its availability. The shifts are controlled through the SOPRUS application. The user is required to register the shifts in advance through the SOPRUS application. The SEM equipment is in the laboratory S04, in the basement of the main building of the Institute. The time of shifts are limited to 4 hours per day and 10 hours per week, unless the equipment is free of other users; in any case, the user must register the corresponding used shift. The user is obliged to inform the technician (Manuel Sánchez, manuel.sanchez@icp.csic.es; Tel. 114795) about any anomaly, incident, error message, damage, performance deficiency, etc. detected in any of the components or accessory of the equipment during the use of the microscope, preferably just in the moment of being detected. External user (from ICP-CSIC) The users who do not belong to the Institute of Catalysis and Petroleum Chemistry are obliged to contact the technician (Manuel Sánchez, manuel.sanchez@icp.csic.es; Tel. 114795) before any measurement to book a shift. Unless special permission has been granted, they are not authorized to use the equipment in absence of the technician. The shifts should be exclusively book through the technician, and they could be book only in the case the equipment is not required by any internal user. External users can also apply for SEM analysis services without the presence of any member of their research group or company. In that case, the rates corresponding to `with technician¿ will be applied. Kind of measurements The offered experimental measurements are the following: 1. Morphology studies and image registration by using a backscattering electron detector, which is sensitive to the composition of the samples. 2. Local and/or general (but not punctual) chemical analysis by EDS. Laboratory of microscopy has the basic tools for preparing solid samples, such as spatula, double-sided adhesive tape, tweezers and sample holders| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Con técnico | euro / hora | 82.18 € | 90.01 € |
| Sin técnico | € / hora | 62.82 € | 71.79 € |
Other services
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización molecular: UV
- Densidad
- Porosidad
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Institute: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
-The Scanning electron microscope is an instrument that allows the observation and characterization of inorganic and organic materials by studying surfaces. From the electron beam incident on the sample different signal types are generated from the sample (secondary electrons, backscattered X-rays, etc) are used to examine many characteristics (topography, density of the different components). -The Analyzer energy dispersive X-ray (EDS) is a nondestructive analysis technique where the radiation used are the characteristic X-rays emitted by the sample as a result of electron bombardment. The analysis of this radiation provides analytical information on the composition of all or parts of the sample to a few microns in diameter. The laboratory has two electron microscopes equipped with large cameras for large samples, which includes both secondary electron detector and backscattered electron detector. Both probe microscopes equipped with EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) -The Analyzer energy dispersive X-ray (EDS) is a nondestructive analysis technique where the radiation used are the characteristic X-rays emitted by the sample as a result of electron bombardment. The analysis of this radiation provides analytical information on the composition of all or parts of the sample to a few microns in diameter. These analyzes can be performed on biological samples nonmetalized providing a range of elemental composition percentage. The results in biological samples metallized are satisfactory. However, values are more operative if the samples are polished and if the biological samples are pre-metallized. Both the QUANTA 200 and inspects detectors are equipped with EDS. The INSPECT FEI COMPANY works in low and high vacuum and Quanta 200 FEI COMPANY under high vacuum, low vacuum and environmental mode. The sessions will always be assisted by qualified personnel, and reserved in advance by phone or email. The duration of these will be from 9:30 to 13:00 and 14:30 to 16:00 hours.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 113.04 € | 123.8 € |
Other services
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM
Service general data
- Support unit: Servicio de Análisis Térmico - SEM
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DEL CARBONO
- Locality: Oviedo (Asturias)
- Service's web: http://www.incar.csic.es/
El servicio de Análisis Térmico-SEM es una unidad que combina técnicas avanzadas para la caracterización térmica, microestructural y composicional de materiales. Esta unidad está equipada con una amplia gama de instrumentos que trabajan de manera complementaria para proporcionar datos precisos y detallados. Cuenta con equipos como: • Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (TG-DSC): para estudiar cambios de masa y transiciones térmicas. • Termogravimetría acoplada a un espectrómetro de masas (TGA-DSC-MS): combina el análisis termogravimétrico con espectrometría de masas, permitiendo la identificación de gases liberados durante los procesos térmicos. • Horno de alta temperatura: permite el tratamiento térmico de muestras a altas temperaturas (1500-2800 °C) en atmósferas controladas (argón, nitrógeno o vacío). • Cajas secas: permiten manipulación y conservación de muestras y materiales en atmósferas inertes y secas. • Difusividad térmica: mide condu
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 132.78 € | 170.71 € |
| Metalizado muestra | € / muestra | 6.03 € | 7.23 € |
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE ANALISIS Y CARACTERIZACION
- Institute: INSTITUTO DE CARBOQUIMICA
- Locality: Zaragoza (Zaragoza)
- Service's web: http://www.icb.csic.es/
El Servicio de Análisis y Caracterización del Instituto de Carboquímica es una unidad de apoyo a la investigación que engloba una amplia variedad de técnicas analíticas e instrumentales para la caracterización de todo tipo de materiales. En la actualidad, el servicio ofrece numerosas prestaciones en su catálogo de servicios, entre las que se incluyen la caracterización de combustibles (análisis elemental, inmediato y poder calorífico), cromatografía iónica, análisis químico mediante ICP-OES, espectroscopías (XPS, Raman, FTIR), difracción de rayos X, microscopia electrónica de barrido (SEM), caracterización textural (fisisorción, porosimetría de mercurio, densidad) y distribución de tamaño de partícula. El laboratorio presta sus servicios tanto a los investigadores del ICB como a los investigadores de otros OPIS y Universidades, así como a empresas y particulares que lo requieran.
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
Scanning electron microscopy (SEM) coupled with EDS (Energy Dispersive X-rays sprectoscopy) is based on sample excitation by a high energy electron current and the subsequent use of appropiate detectos that recover the signal emitted by the sample and convert it into images (when secondary or retro-dispersed electrons are used) or in a semiquantitative analysis (when X-ray are used). The microscope available in the ICB can be used with different electron acceleration voltages, emitting in a range from 1 to 30kV. Embedding in epoxy resin, cut and mirror polish of no-biological samples for the observation by scanning electron microscopy and sample covering with a powered gold cover with controlled width for the observation by Scanning Elecron Microcopy can also be performed.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Microscopia electrónica de barrido (SEM-EDX) | euro/hora | 77.57 € | 88.15 € |
Other services
- Análisis cenizas: Alta T
- Análisis elemental CHSN
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis humedad
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Análisis TOC
- Análisis volátiles
- Aniones
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización molecular: FT-IR
- Densidad
- Diseño mediante CAD de piezas 2D o 3D
- Espectroscopía micro-Raman
- Poder calorífico
- Porosidad
- Prototipado rápido de piezas por depósito de plástico
- Spectroscopy: X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
- Superficie específica
- Espectrometría de masas acoplada a DSC/ATD/TG para análisis de gases efluentes
- Preparación de muestras
- Fabricación de piezas mediante procedimiento de arranque de viruta
Service general data
- Support unit: Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y AFM
- Institute: INSTITUTO DE CERAMICA Y VIDRIO
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.icv.csic.es/
Caracterización morfológica y microanalítica de materiales orgánicos e inorgánicos mediante imágenes electrónicas y microanálisis de rayos X por dispersión de energía. Dependiendo de los detectores que tengan los diferentes microscopios es posible obtener imágenes de electrones secundarios, retrodispersados, transmitidos, etc. imágenes que proporcionan información morfológica y composicional. Mediante el detector de rayos X acoplado al SEM, al cual le llegan los rayos X generados en la muestra por interacción del haz de electrones, se obtiene información microanalítica cualitativa o cuantitativa de las diferentes áreas de observación.
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
Morphological and microanalytical characterization of organic and inorganic materials through electron images and X-ray microanalysis . Depending on the detectors available it is possible to obtain secondary electron images, back-scattered electron images, transmitted electron images, etc. that provide morphological and compositional information. Furthermore, by the X-ray detector coupled to SEM, it is possible to obtain microanalytical information both qualitative and quantitative from the different areas of study| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General. FE-SEM | euro / hora | 54.24 € | 83.11 € |
Service general data
- Support unit: Laboratorio de Microscopía Aplicada/Visión Artificial
- Institute: INSTITUTO GEOLOGICO Y MINERO DE ESPAÑA
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: https://www.igme.es/servicio/
Este laboratorio presta ayuda cientifico-técnica en la caracterización microscópica y microanalítica de los materiales que se estudian en los Proyectos y Contratos de Investigación que se llevan a cabo en el IGME, en otros Institutos del CSIC y otros OPIs. Así mismo se realizan trabajos de apoyo técnico a la empresa privada. El laboratorio cuenta con un microscopio electrónico de barrido modelo JEOL JSM-6010 PLUS/LA, con filamento termoiónico de W, con presión de vacío variable. Está equipado con detectores de electrones secundarios, retrodispersados y un sistema de microanálisis EDS (energías dispersivas). También se cuenta con un recubridor de carbono modelo Cressington 108carbon/A, lupa binocular para montaje de muestras y estufa, para secado de muestras.
Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
Benefit description
Sample preparation: The sample is dryied in an oven. Metallization of the samples with carbon coater model Cressington 108carbon/A. Aluminum slides and conductive carbon tape are used for mounting. Previous observation of the sample (if necessary): with a stereomicroscope. Scanning electron microscopy (SEM) study: A JEOL model JSM-6010 PLUS/LA unit is used, with a tungsten thermoionic source.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Sesión supervisada | €/ hora | 104.62 € | 114.58 € |
| Envío de resultados | €/ sesión | 49.68 € | 54.42 € |
| Metalizado muestra | € / proceso | 5.82 € | 6.37 € |
| Sesión sin supervisión | €/ hora | 60.11 € | 65.83 € |
| Sesión supervisada parcialmente | € / hora | 80.43 € | 88.09 € |
Other services
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad