Scanning electron microscopy (SEM): Low voltage SEM

Caracterización morfológica y microanalítica de materiales orgánicos e inorgánicos mediante imágenes electrónicas y microanálisis de rayos X por dispersión de energía. Dependiendo de los detectores que tengan los diferentes microscopios es posible obtener imágenes de electrones secundarios, retrodispersados, transmitidos, etc. imágenes que proporcionan información morfológica y composicional. Mediante el detector de rayos X acoplado al SEM, al cual le llegan los rayos X generados en la muestra por interacción del haz de electrones, se obtiene información microanalítica cualitativa o cuantitativa de las diferentes áreas de observación. Caracterización de superficies mediante AFM, con análisis topográfico de alta resolución.

Se ofrece un servicio completo de caracterización de líquidos nanoestructurados y sistemas coloidales, que está altamente especializado en dispersiones e interfases sólido/líquido y líquido/líquido. A continuación se muestran los servicios disponibles en estas instalaciones, donde el responsable del servicio proporciona asesoramiento sobre los aspectos científicos y técnicos. - Determinación de tamaño de partícula y distribución de tamaño, morfología de los agregados, radio de giro y número de agregación. - Estudio del comportamiento fásico de sistemas tensioactivos. - Caracterización de cristales líquidos (morfología, distancia de repetición, etc.). - Caracterización de las propiedades reológicas de los fluidos y sistemas viscoelásticos. - Medidas de tensión superficial e interfacial de líquidos puros, sistemas tensioactivos y dispersiones coloidales. - Medidas de ángulo de contacto. - Medidas de índice de refracción diferencial. - Medidas de densidad de líquidos.