Scanning electron microscopy (SEM): Low voltage SEM

El servicio comprende la microscopía electrónica de barrido (SEM), junto con un laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM. --El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales. El equipo disponible es un SEM-FEG Hitachi-S4800 (0.5-30 kV), con analizador EDX Bruker-X Flash-4010 (resolución 133 eV en el MnKα) y un detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM). --El laboratorio de preparación de muestras dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco y ultrasónica, pulidora, “disc-grinder”, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador

Se ofrece un servicio completo de caracterización de líquidos nanoestructurados y sistemas coloidales, que está altamente especializado en dispersiones e interfases sólido/líquido y líquido/líquido. A continuación se muestran los servicios disponibles en estas instalaciones, donde el responsable del servicio proporciona asesoramiento sobre los aspectos científicos y técnicos. - Determinación de tamaño de partícula y distribución de tamaño, morfología de los agregados, radio de giro y número de agregación. - Estudio del comportamiento fásico de sistemas tensioactivos. - Caracterización de cristales líquidos (morfología, distancia de repetición, etc.). - Caracterización de las propiedades reológicas de los fluidos y sistemas viscoelásticos. - Medidas de tensión superficial e interfacial de líquidos puros, sistemas tensioactivos y dispersiones coloidales. - Medidas de ángulo de contacto. - Medidas de índice de refracción diferencial. - Medidas de densidad de líquidos.

Caracterización morfológica y microanalítica de materiales orgánicos e inorgánicos mediante imágenes electrónicas y microanálisis de rayos X por dispersión de energía. Dependiendo de los detectores que tengan los diferentes microscopios es posible obtener imágenes de electrones secundarios, retrodispersados, transmitidos, etc. imágenes que proporcionan información morfológica y composicional. Mediante el detector de rayos X acoplado al SEM, al cual le llegan los rayos X generados en la muestra por interacción del haz de electrones, se obtiene información microanalítica cualitativa o cuantitativa de las diferentes áreas de observación.