SERVICIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA

El servicio integra técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía electrónica de transmisión (TEM) y un laboratorio para la preparación de muestras de. Dispone de:
- Un microscopio SEM de emisión de campo de cátodo frío Hitachi S-4800, equipado con detector EDX y capacidad STEM-in-SEM, que permite obtener imágenes de alta resolución, análisis elementales y mapas químicos.
- Dos TEM; un JEOL 2100Plus de 200 kV con detector EDX Oxford X-Max 80T y un Tecnai F30 de emisión de campo con modos TEM y STEM, detectores HAADF, EDX y filtro de energía (GIF), posibilitando estudios de alta resolución, difracción electrónica, EELS, EFTEM, espectro-imagen y tomografía electrónica, que permite la caracterización microestructural y química de materiales a escala nanométrica.
-El laboratorio de preparación cuenta con sistemas de metalización, evaporación de carbono, corte, pulido mecánico y adelgazamiento iónico, para la obtención de muestras electrón-transparentes.