Scanning electron microscopy (SEM): High resolution SEM

Microscopio Apreo Chemi SEM S (Thermo Fisher) de última generación con cañón de emisión de campo tipo Schottky, permite la visualización de muestras a alto vacío (HV) a potencial variable (20V a 30kV) y con la posibilidad de decelerar el haz de electrones. No requiere metalización previa ni siquiera para muestras no conductoras utilizando bajos potenciales y la opción Beam deceleration. Resoluciones máximas: 30 kV 0.7 nm, 15 kV 0.5 nm, 1 kV 0.8 nm, 500 V 0.8 nm, 200 V 1.2 nm. Tres detectores de electrones de alta resolución “in-lens”: T1 (retrodispersados) T2 y T3 (secundarios). Detector retráctil direccional de electrones retrodispersados (DBS, configurable por sectores como ABS y CBS). Detector STEM 3+ (Bright Field, Dark Field, High-Angle Annular Dark Field). Análisis químico semicuantitativo con detector EDS de nueva generación (desde B, resolución 129 eV en Mn K-alpha) y mapeado químico.Corrección de deriva y sistema de cancelación de campos. Precámara Clean Connect pa

El servicio integra técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía electrónica de transmisión (TEM) y un laboratorio para la preparación de muestras de. Dispone de: - Un microscopio SEM de emisión de campo de cátodo frío Hitachi S-4800, equipado con detector EDX y capacidad STEM-in-SEM, que permite obtener imágenes de alta resolución, análisis elementales y mapas químicos. - Dos TEM; un JEOL 2100Plus de 200 kV con detector EDX Oxford X-Max 80T y un Tecnai F30 de emisión de campo con modos TEM y STEM, detectores HAADF, EDX y filtro de energía (GIF), posibilitando estudios de alta resolución, difracción electrónica, EELS, EFTEM, espectro-imagen y tomografía electrónica, que permite la caracterización microestructural y química de materiales a escala nanométrica. -El laboratorio de preparación cuenta con sistemas de metalización, evaporación de carbono, corte, pulido mecánico y adelgazamiento iónico, para la obtención de muestras electrón-transparentes.

El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)

La Unidad de Ensayos gestiona una serie de técnicas instrumentales y de caracterización fisico-quimicas para el ensayo y análisis de materiales de construcción. Tanto de los constituyentes como de los productos. Principalmente se analizan materiales en base cemento, como morteros y hormigones, y los constituyentes de estos.Cada una de las técnicas son de carácter general y se aplican a diferentes lineas de investigación. Es necesaria la utilización de diferentes técnicas para el análisis de los materiales, ya que su estudio incluye su fabricación, caracterización, durabilidad y vida en servicio; así como el análisis de su potencial deterioro debido a su interacción con el medioambiente así como con otros factores

El servicio de micro y nanofabricación (MiNa) del Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM) une el Laboratorio de Litografía de Alta Resolución (LAB-LAR) con el resto del equipamiento de la Sala de Fabricación del IMM. El LAB-LAR pertenece a la Red de Laboratorios e Infraestructuras de Investigación de la Comunidad de Madrid disponiendo de la certificación de calidad ISO 9001. MiNa oferta un servicio flexible adaptando la tecnología al usuario, abarcando desde procesos básicos de fabricación que constan de una sola etapa, hasta procesos de fabricación multi-etapa, ofreciendo la posibilidad de fabricar estructuras complejas sin las restricciones impuestas por una Sala Blanca convencional. Nuestra amplia experiencia, pionera en el desarrollo de la nanotecnología en España, permite ofrecer procesos tecnológicos más allá de los estándares. Destacamos la litografía de alta resolución por haz de electrones y la litografía de ultra alta resolución por haz de iones en grandes áreas.

Este laboratorio presta ayuda cientifico-técnica en la caracterización microscópica y microanalítica de los materiales que se estudian en los Proyectos y Contratos de Investigación que se llevan a cabo en el CENIM, en otros Institutos del CSIC y otros OPIs. Así mismo se realizan trabajos de apoyo técnico a la industria. El laboratorio cuenta con dos microscopios FEG-SEM (Schottky y cátodo frío), un SEM convencional y un TEM analítico de 200 kV así como de las técnicas de preparación de muestras necesarias para su observación. Equipos: -JSM 6500F (emisión de campo cátodo caliente): SE, BSE, EDS, EBSD. -CFEG SEM Hitachi S4800 (emisión de campo cátodo frío). SE (filtro exB), BSE, TE, EDS. -Hitachi S2100 (filamento W): SE. BSE -JEM 2010 (200 kV): BF, DF, DP, EDS, Cámara CCD Adelgazador Iónico de doble cañón Fischione 1010. Equipo de adelgazamiento electrolítico de doble chorro: TenuPol 5 Sputtering Spi Evaporador Jeol JEE 4B Cortadora radial Struers Accutom 5 Corte y pulido