- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Fabricación y Tratamiento
- Subgroup
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- Micro y Nanofabricación
Critical Point Dryer
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
Service general data
- Support unit: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Institute: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Locality: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Service's web: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Critical Point Dryer
Benefit description
System for the dry etching of sacrificial layers for MEMS| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Alta autoservicio Critical Point Dryer | €/hora | 163.22 € | 228.51 € |
| Autoservicio Critical Point Dryer | €/hora | 105.62 € | 147.87 € |
Other services
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Other inspection techniques: Optical profilometry
- Thermal Nanoimprint
- Perfilometría
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Tratamiento de superficies por plasma
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
- Soldadura de obleas
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
- Laser Photolithography
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Institute: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Critical Point Dryer
Benefit description
The scanning electron microscopy (SEM) allows the external morphological study of all types of samples. However, each sample requires the development of an appropriate methodology or protocol. The critical point dryer is generally used in the preparation of biological samples to be analyzed in the SEM. Its principle is based on an organic sample hydrated (polymers hydrogels, starch) or biological (cells, tissues, blood, parasites, sperm, others) is previously treated with different solvents and subsequently the fluid is displaced in order to maintain the initial microstructure of the hydrated state. During the critical point drying process, the limit between the "liquid-gas" phase must be passed directly. In this way, the deformation forces are avoided because the drying process takes place above the critical point of the liquid, where the boundary between the liquid phase and the gas phase does not exist. The critical point is that particular state of a gas in which it can still undergo liquefaction. At the critical point, the liquid passes into the gas phase without going through the "liquid-gas" phase limit, and the sample dries without the damaging effects of air drying.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Punto critico-unidad del proceso | punto critico | 75.11 € | 82.26 € |
Other services
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM