Scanning electron microscopy (SEM): Environmental SEM

El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au

El Servicio de Microscopia Óptica y Electrónica es un servicio general del instituto que da apoyo a diversas líneas de investigación que se desarrollan tanto dentro como fuera del del centro, que incluyen, entre otras: paleoecología, paleoclimatología y cambio climático, arqueología, volcanología, petrología, recursos geológicos, riesgos geológicos, etc. Principalmente, todas aquellas líneas de investigación que requieran de caracterización física de materiales ya sean naturales o sintéticos dispondrán con este nuevo servicio de la instrumentación necesaria para poder realizar con éxito tareas de caracterización física y química de materiales a diferentes escalas microscópicas