- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subgroup
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- Barrido
Scanning Electron Microscopy (SEM)
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA ICTP - Madrid |
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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IACT-CSIC - Armilla |
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DE POLIMEROS
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.ictp.csic.es/
El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)
Scanning Electron Microscopy (SEM)
Benefit description
Scanning Electron Microscope (SEM High vacuum tabletop, SNE Alpha with Tungsten filament. Accelerating voltage from 5 to 30 kV. Magnification from 100 to 50000x. Used for dry and conductive samples. In the case of non-conductive samples, they are metallized with a thin layer of metal on their surface. The Institute has the necessary equipment for metallization.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Uso SEM con operador | €/hora | 145.99 € | 159.89 € |
Other services
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización molecular: UV
- Espectroscopía micro-Raman
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Espectroscopía: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - IRTF)
- Tratamiento muestra: Corte
- Tratamiento muestra: Prensado
- Caracterización dieléctrica
- Resistencia a la tracción/compresión
- Resonancia Magnética Nuclear de Sólidos
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Análisis de propiedades mecanodinámicas de materiales
- Extrusión de materiales
- Elaboración de informes técnicos (peritajes, tasaciones)
Service general data
- Support unit: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Institute: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Locality: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Service's web: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Scanning Electron Microscopy (SEM)
Benefit description
Scanning electronic microscopy for inspection of sample at micro-nanometer scale. Zeiss 1560 XB y Zeiss Auriga 40 models| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Alta autoservicio SEM | €/hora | 123.21 € | 172.49 € |
| Uso SEM con operador | €/hora | 109.21 € | 152.9 € |
| Autoservicio SEM | €/hora | 65.61 € | 91.85 € |
Other services
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Other inspection techniques: Optical profilometry
- Thermal Nanoimprint
- Perfilometría
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
- Tratamiento de superficies por plasma
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
- Soldadura de obleas
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Laser Photolithography
Service general data
- Support unit: ANDALCHRON
- Institute: INSTITUTO ANDALUZ DE CIENCIAS DE LA TIERRA IACT-CSIC
- Locality: Armilla (Granada)
- Service's web: http://www.andalchron.eu
El servicio científico-técnico (SCT) de Andalchron, parte de los laboratorios multi-escala de la infraestructura europea ESFRI-EPOS, oferta prestación de servicios en espectrometría de masas con fuente de plasma para la determinación de razones isotópicas mediante espectrometría de masas con fuente de plasma (ICP-MS) para su uso en geocronología. Esta prestación ofrece análisis mediante ICP-MS con analizador de masas cuadrupolar (ICP-QMS) y de sector magnético de alta resolución y con detección multicanal (MC-ICP-MS), de disoluciones, y de sólidos mediante ablación láser (LA-ICP-MS y LA-MC-ICP-MS). El servicio oferta prestaciones de servicios auxiliares en microscopía y espectroscopia, preparación de muestras y sala blanca dirigidas única y exclusivamente a la caracterización y/ preparación de muestras asociadas a las prestaciones de servicios en espectrometría de masas. Los usuarios deben de ponerse en contacto con el servicio para estudiar las solicitud de prestación solicitada.
Scanning Electron Microscopy (SEM)
Benefit description
Andalchron's Scanning Electron Microscopy (SEM) service unit offers ancillary services for sample characterization and preparation for SEM analysis. This service is provided solely and exclusively for sample characterization in support of Andalchron's mass spectrometry services, and not as a stand-alone service. This service unit is equipped with a ZEISS EVO MA-15 electron microscope with CL, EBSD and EDS thin film detectors. The unit does not offer secondary electron imaging. 1) For quality assurance purposes, only the protocols already established by the service, which have been verified and validated through the quality control of reference materials and participation in inter-laboratory tests, may be used. Due to the high economic cost and extensive time required for the development and verification of new analytical protocols, the service reserves the right to offer new experimental protocols under development within the framework of a collaboration agreement. 2) Discounts may be applied for uses requiring intensive sessions during the night and weekends, according to the terms established by the regulations governing the CSIC's Scientific and Technical Services (SCTs). 3) For internal use (CSIC), this service is only offered in self-service mode (user operation) depending on availability based on service demand. Self-service can only be carried out by trained users, with training for the use of the infrastructure and prior authorization from the technical manager of the service.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Preparacion muestra para EBSD-SEM | € / muestra | 20.77 € | 34.61 € |
| Procesado avanzado de datos | € / hora | 74.78 € | 137.52 € |
| Metalización muestra con grafito | € / muestra | 4.72 € | 9.65 € |
| Procesado de datos | € / hora | 45.99 € | 84.64 € |
| Uso SEM sin operador | € / hora | 28.73 € | 60.12 € |
| Uso SEM con operador | € / hora | 55.67 € | 111.33 € |