Metal coater (Sputtering)

El servicio integra técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía electrónica de transmisión (TEM) y un laboratorio para la preparación de muestras de. Dispone de: - Un microscopio SEM de emisión de campo de cátodo frío Hitachi S-4800, equipado con detector EDX y capacidad STEM-in-SEM, que permite obtener imágenes de alta resolución, análisis elementales y mapas químicos. - Dos TEM; un JEOL 2100Plus de 200 kV con detector EDX Oxford X-Max 80T y un Tecnai F30 de emisión de campo con modos TEM y STEM, detectores HAADF, EDX y filtro de energía (GIF), posibilitando estudios de alta resolución, difracción electrónica, EELS, EFTEM, espectro-imagen y tomografía electrónica, que permite la caracterización microestructural y química de materiales a escala nanométrica. -El laboratorio de preparación cuenta con sistemas de metalización, evaporación de carbono, corte, pulido mecánico y adelgazamiento iónico, para la obtención de muestras electrón-transparentes.

La Unidad de Ensayos gestiona una serie de técnicas instrumentales y de caracterización fisico-quimicas para el ensayo y análisis de materiales de construcción. Tanto de los constituyentes como de los productos. Principalmente se analizan materiales en base cemento, como morteros y hormigones, y los constituyentes de estos.Cada una de las técnicas son de carácter general y se aplican a diferentes lineas de investigación. Es necesaria la utilización de diferentes técnicas para el análisis de los materiales, ya que su estudio incluye su fabricación, caracterización, durabilidad y vida en servicio; así como el análisis de su potencial deterioro debido a su interacción con el medioambiente así como con otros factores

Estudio arqueológico y caracterización microscopica de materiales, preparción de muestras mediante metalización (Carbon y Au-Pd) y microanálisis mediante espectroscopia por energía dispersiva de rayos X (SEM-EDX)

El Servicio de Microscopía Electrónica del Centro de Estudios Avanzados de Blanes está disponible para la observación de muestras en el Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) y la realización de microanálisis por dispersión de energía de Rayos X (EDS). Disponible para todos los investigadores del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), para otros centros públicos de investigación y para la empresa privada. Dispone de los equipos necesarios para la preparación de muestras y asesora a los usuarios, tanto en la preparación de muestras como en el manejo de los distintos equipos. Así mismo el servicio dispone de un formulario para tramitar e informar de posibles sugerencias o quejas con objeto de mejorar el servicio. Equipos: Hitachi SEM TM3000 Tabletop, EDS QUANTAX 70, Sputter Quórum Technologies Q150R S/E/ES Webpage: http://www.ceab.csic.es/web/?page_id=10691

El Servicio General de la Sala Blanca del Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC) está concebido como un Servicio Intercentros dentro del Campus de Excelencia CSIC-UAM, que además cuenta con usuarios externos, principalmente de grupos pertenecientes a centros de la Comunidad de Madrid. La instalación de este laboratorio comenzó en 2011, estando en la actualidad en marcha prácticamente todas sus técnicas de micro-nanofabricación. Actualmente la sala blanca es de clase 10000 y está dotada con las siguientes técnicas y facilidades (algunos aportados por distintos grupos de investigación del ICMM). - Caja seca de 4 guantes con control de humedad y oxígeno hasta 1ppm. Dentro de la caja seca hay un sistema de spin-coating integrado. - Evaporadora para metales y grafito. - Sistema de depósito por sputtering con un magnetrón. - Fotolitografía UV con resolución de 0.8 micrómetros. - Spin-coating - Cabina de flujo laminar - Equipo de deposición de chapas atómicas (ALD)

El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au

El Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido presta su asistencia a aquellos usuarios y/o grupos de investigación del RJB, así como a otros organismos o entidades públicas o privadas que así lo soliciten. El Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido dispone del siguiente equipamiento: • Metalizadora por Pulverización Catódica Quorum Q150RS_Plus • Estación de preparación de muestras de secado por punto crítico CPD LEICA 300 • Microscopio Electrónico De Barrido Hitachi S3000N, con detector de electrones secundarios y retrodispersados.