- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subgroup
-
- Espectroscopía Electrónica
Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès |
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Unidad de apoyo a la investigación II: estructura y espectroscopía ICP - Madrid |
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INCAR - Oviedo |
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Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas ICMM - Madrid |
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Servicio de análisis y determinación estructural IPNA - San Cristóbal de La Laguna |
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SERVICIO DE ESPECTROSCOPIA ULTRAVIOLETA-VISIBLE-INFRARROJO CERCANO ICMS - Sevilla |
Service general data
- Support unit: Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación
- Institute: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA
- Locality: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
- Service's web: http://www.imb-cnm.csic.es/index.php/en/clean-room
La Sala Blanca integrada de Micro y Nano fabricación (SBCNM) es una Gran Instalación (ICTS) dedicada al desarrollo y aplicación de tecnologías innovadoras en el campo de la microelectrónica, junto con otras Micro / Nanotecnologías emergentes. Está integrada administrativamente en el Centro Nacional de Microelectrónica - Instituto de Microelectrónica de Barcelona - (IMB-CNM), un centro de investigación perteneciente al Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Desde su creación, la SBCNM es la principal instalación de apoyo a la actividad de I + D del IMB-CNM. Aunque claramente definida en sus recursos, las políticas y la misión, la SBCNM necesita ser entendida en el marco del IMB-CNM. La Sala Blanca da servicio no sólo a los grupos de investigación del IMB-CNM, sino que también es un centro de acceso abierto con una amplia orientación científica y técnica en el campo de los dispositivos, circuitos y sistemas basados en la micro y nanotecnología.
Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Benefit description
Thin film thickness measurement by visible or UV spectral reflectometry| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Alta autoservicio Optical reflectometer Nanospec UV Vis | €/hora | 80.97 € | 113.36 € |
| Autoservicio Optical reflectometer Nanospec UV Visible | €/hora | 23.38 € | 32.73 € |
Other services
- Alquiler de espacio en laboratorio de ambiente controlado (Sala Blanca)
- Deposición de capas por spinner
- Ataque iónico reactivo (RIE)
- Ebeam Lithography
- Elipsometría de capas delgadas sobre silicio
- Espectroscopía micro-Raman
- Focused Ion Beam Characterization and Nanofabrication
- Grabados húmedos, limpiezas y tratamiento de superficies
- Other inspection techniques: Optical profilometry
- Thermal Nanoimprint
- Perfilometría
- Photolithography: Contact photolithography - backside align
- Photolithography: Standard resist processing - manual
- Plasma CVD: PECVD
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Tratamiento de superficies por plasma
- Fabricación de muestras, componentes microelectrónicos y circuitos integrados en Sala Blanca
- Soldadura de obleas
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
- Laser Photolithography
Service general data
- Support unit: Unidad de apoyo a la investigación II: estructura y espectroscopía
- Institute: INSTITUTO DE CATALISIS Y PETROLEOQUIMICA
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.icp.csic.es/tecnicas-instrumentales.php?lang=1
La Unidad de Apoyo a la Investigación nació en el año 1990 con la finalidad de centralizar las técnicas instrumentales de caracterización de materiales del ICP en una Unidad, optimizando recursos técnicos y humanos. Durante estos años la UA ha ido mejorando de forma progresiva dichos recursos, adquiriendo una sólida experiencia en el área de la caracterización de materiales. El objetivo de la Unidad de Apoyo a la Investigación II del ICP es servir de apoyo analítico a la actividad investigadora que se desarrolla en el centro y para ello cuenta con técnicas de caracterización de materiales: difracción de RX (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), espectroscopía UV-Vis-NIR, porosimetría de mercurio (certificada con la norma UNE-EN ISO 9001), picnometría de helio, y SEM que dan servicio a las diversas líneas de investigación del ICP. La Unidad de Apoyo a la Investigación II también presta sus servicios a investigadores externos al ICP procedentes de empresas privadas y OPIs
Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Benefit description
Analyses of catalysts by UV-Vis spectroscopy| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| UV-VIS materiales sólidos | € / muestra | 38.31 € | 41.96 € |
Other services
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Caracterización molecular: UV
- Densidad
- Porosidad
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
Service general data
- Support unit: Servicio de Espectroscopía
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DEL CARBONO
- Locality: Oviedo (Asturias)
- Service's web: http://www.incar.csic.es/
El servicio de espectroscopía ofrece prestaciones para espectroscopía fotoelectrónica de Rayos X, espectroscopía infrarroja con transformada de Fourier, espectroscopía visible ultravioleta, espectroscopía Raman, difracción de Rayos X y análisis petrográfico
Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Benefit description
The laboratory is equipped with a Shimadzu UV 2450 ultraviolet visible spectroscopy system, featuring a cuvette holder for liquid samples and an integrating sphere for analysing solid samples. It can measure diffuse reflectance in solid samples and absorbance in liquid samples, from which qualitative, quantitative and kinetic analysis can be performed.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Análisis de resultados y elaboración de informe | €/ hora | 78.06 € | 104.08 € |
| General | euro / hora | 59.75 € | 68.63 € |
Service general data
- Support unit: Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.icmm.csic.es/
El Laboratorio de Caracterización y Crecimiento de Capas Delgadas dispone de los siguientes equipos y servicios: • Perfilómetria: de contacto, marca Veeco, mod. Dektak 150. y optica, Profile3D ScienTec • Espectrómetro Raman, EZ-Raman-N de Enwave Optronics, con microscopio LEICA DM300 y láser Nd:YAG de 532 nm. • Emisómetro portátil marca Devices & Service Company (modelo AE1) • Analizador GDOES, mod. RF-GD-Profiler, marca Horiba Jobin Yvon, con ánodo de 4mm. • Espectrofotómetro UV-Visible-IR cercano, Shimadzu mod. Solidspec-3700 con esfera integradora, 190 nm-3300nm. • Nanoindentador, mod. NanoTest P1, marca MicroMaterials, con péndulo de 500mN y punta piramidal Berkovich. • Sistemas de depósito capas delgadas:(i) Sputtering magnetrón para crecimiento de metales, óxidos y nitruros;(ii) Evaporación térmica mediante dos cañones de electrones y asistencia con haces de iones. •. Tratamientos térmicos en atmósfera controladada.
Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Benefit description
Spectrophotometer SolidSpec 3700 UV-VIS-NIR from Shimadzu with Integrating Sphere, Wavelenght range: 190nm-3300nm.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Spectrophotometer UV-vis-NIR | hora | 152.2 € | 198.53 € |
Other services
- Medidas electricas locales: Resistividad
- Perfilometría
- Deposición física desde fase vapor: Evaporación por haz de electrones
- Spectroscopy: Raman
- Determinación de la dureza: Vickers, Rockwell, Brinell
- Determinación de la resistencia al desgaste
- Deposición física desde fase vapor: Sputtering Magnetron
Service general data
- Support unit: Servicio de análisis y determinación estructural
- Institute: INSTITUTO DE PRODUCTOS NATURALES Y AGROBIOLOGIA
- Locality: San Cristóbal de La Laguna (Santa Cruz de Tenerife)
- Service's web: http://www.ipna.csic.es/
El servicio de análisis y determinación estructural incluye diversas técnicas utilizadas para determinar la composición elemental y la estructura molecular de sustancias químicas puras o de mezclas de las mismas. Adicionalmente se podrán cuantificar las sustancias en mezclas simples o complejas. El servicio dispone de equipos de: 1.- Análisis elemental 2.- Infrarrojo 3.- UV-visible 4.- Polarímetro para determinación de actividad óptica 5.- Espectrometría de masas 6.- Espectroscopía de resonancia magnética nuclear 7.- UV-Con esfera integradora 8.- Servicio de cálculo científico 9.- Sistema de purificación de disolvente (SPS)
Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Benefit description
Our services include, among others: - Double beam UV-Vis spectrophotometer for liquids and solids - UV-vis diffuse reflectance spectroscopy (DRS) - Average range 120,900 nm| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| UV | € / hora | 48.38 € | 52.99 € |
Other services
- Análisis de compuestos: GC-MS
- Análisis de compuestos: MS MALDI-ToF
- Análisis de compuestos: RMN
- Análisis de compuestos: UPLC-MS-MS-QTOF
- Análisis elemental CHSN
- Caracterización de actividad óptica, dicroísmo circular y dispersión óptica rotatoria
- Consultoría científica en modelización, computación y simulación
- Procesamiento e interpretación de espectros
- Espectroscopía: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - IRTF)
- Análisis de compuestos: MS ESI-TOF
- Formación en uso de software científico
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE ESPECTROSCOPIA ULTRAVIOLETA-VISIBLE-INFRARROJO CERCANO
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Locality: Sevilla (Sevilla)
- Service's web: http://www.icms.us-csic.es
La técnica de espectroscopía en el rango ultravioleta, visible e infrarrojo cercano (UV-Vis-NIR) nos permite conocer como materiales de distinta morfología (principalmente polvos, láminas y partículas o moléculas en suspensión) reflejan y transmiten la luz incidente en el rango comprendido entre 190 nm y 3000 nm. De esta forma, es posible extraer información sobre su eficiencia como filtros ópticos, ya sean especulares o difusores, y/o sobre la luz absorbida por ellos, lo que indirectamente nos permite estimar su gap electrónico (en el caso de dieléctricos), las transiciones electrónicas que tienen lugar (en el caso de moléculas o sistemas dopados con átomos de otra especie), o las resonancias plasmónicas (en el caso de metales). Instrumental disponible Cary 5000+UMA (Universal Measurement Accessory) Cary 300
Spectroscopy: UV - Visible spectral reflectometry
Benefit description
| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Espectroscopía UV_Vis_NIR UMA (CARY 7000) | € / hora | 70.01 € | 106.68 € |
| Espectroscopía UV_Vis (CARY 300) | €/ hora | 49.28 € | 65.7 € |
Other services
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad