- Áreas de investigación
-
- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
-
- Análisis y Métodos Físicos
- Subgroup
-
- Difracción de Rayos-X
Non-destructive X-ray microdiffraction
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
|
SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
Service general data
- Support unit: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Institute: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Non-destructive X-ray microdiffraction
Benefit description
X-ray diffraction is one of the most effective techniques for studying any crystalline material, be it inorganic or organic, natural or synthetic. It allows the microstructural characterization of the crystalline phases found in a sample. The Non-Destructive Techniques Service of the National Museum of Natural Sciences has a Bruker D8-Discover X-ray diffraction equipment, with a Cu anode source. It provides service both internally and externally. D8-Discover X-ray diffraction equipment is a microdifraction equipment, it allows the analysis of small areas of the sample without previous treatment, it has collimators between 2mm and 50¿m. The location of the area of interest is performed using a microscope and a laser pointer to optimize the height. In this way, qualitative analyzes can be carried out in a non-destructive way, preserving the integrity of valuable samples, such as gems, type or paleontological samples. It also allows making mapping and linescan. Additionally, the equipment has a heating oven that reaches 1400oC in order to be able to carry out studies of phase changes, solid solutions, etc.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| MICRODIFRACCIÓN RX NO DESTRUCTIVA | hora | 149.89 € | 164.17 € |
| MICRODIFRACCIÓN RX NO DESTRUCTIVA con horno | € / hora | 171.21 € | 187.52 € |
Other services
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM