Microscopía Electrónica de barrido (SEM): Presión variable (Low vacuum LV)

Equipos: dos microscopios electrónicos de barrido, uno de Emisión de Campo (FESEM) HITACHI SU8600, y otro de presión variable (VPSEM), HITACHI S-3500N. El SU8600, está equipado con los siguientes detectores: 2 de electrones secundarios, dos de retrodispersados y dos de rayos X por dispersión de energías (EDS, BRUKER QUANTAX XFlash 7) para la realización de microanálisis. Un detector STEM para campo claro y campo oscuro. El S-3500N dispone de un detector de secundarios, uno de retrodispersados, de un espectrómetro EDS (BRUKER QUANTAX 200 y detector XFlash 6/30) y de un crio-SEM (QUORUM PP3000T) para el estudio de muestras crio-fijadas. Preparación de muestras: secado por punto crítico (LEICA EM CPD300), metalización por sputtering con cromo, iridio u oro y evaporación de carbón (QUORUM Q150T Plus). 8 Microscopios Ópticos (OLYMPUS- BX40F4, OLYMPUS-BX61, LEITZ-DM IL, 2 NIKON-DIAPHOT-200, ZEISS-AXIOVERT, LEICA-DM IRB S8F, ZEISS-Colibri), la mayoría equipados con epifluorescencia.

Estudio arqueológico y caracterización microscopica de materiales, preparción de muestras mediante metalización (Carbon y Au-Pd) y microanálisis mediante espectroscopia por energía dispersiva de rayos X (SEM-EDX)

El Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido presta su asistencia a aquellos usuarios y/o grupos de investigación del RJB, así como a otros organismos o entidades públicas o privadas que así lo soliciten. El Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido dispone del siguiente equipamiento: • Metalizadora por Pulverización Catódica SCD 004 Sputter Coater Balzers (Leica) • Estación de preparación de muestras por punto crítico CPD 7501 Polaron Quorum Technologies • Microscopio Electrónico De Barrido Hitachi S3000N, con detector de electrones secundarios y retrodispersados.