Áreas de investigación
Ciencia y Tecnología de Materiales

Grupo
Análisis y Métodos Físicos

Subgroup
Óptica y Fotónica

Ellipsometry of thin layers on silicon

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ESPECTROFOMETRÍA DE INFRARROJOS Y ELIPSOMETRÍA

ICMM - Madrid

Laboratorio de Caracterización Superficial

ICV - Madrid

Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación

IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès

PLATAFORMA NANOQUIM

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