Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría

El Laboratorio posee dos técnicas de análisis de superficies: -Espectroscopía Fotoelectrónica de rayos X (XPS), VG Microtech, modelo MT 500, (Fisons Instruments), con una fuente de Rayos X dual (Mg/Al), detector CMA de tres channeltron y cañón de iones EX05 para el bombardeo por iones Ar -Microscopía de fuerza atómica (AFM), marca Agilent modelo 5100. Se trata de un laboratorio con Sistema de Gestión de Calidad (ISO 9001:2008) con certificado nº SGI 6016951. El análisis por XPS proporciona información sobre la composición elemental y el estado químico de cada elemento. En combinación con el bombardeo con iones Argón (A.I.B.) se pueden obtener perfiles de composición hasta un máximo de 100nm. El análisis por AFM permite obtener una medida de la topografía y rugosidad de muestras sólidas tanto en aire como en líquidos. Dependiendo de la punta es posible obtener información sobre otras propiedades superficiales (medida de diferencias de potencial (SKP), conductividad, etc.

El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au

El nanoindentador KLA G200x permite la evaluación de las propiedades mecánicas en la nanoescala (dureza, módulo de Young) lo cual resulta fundamental para recubrimientos y tratamiento superficiales, obviando la contribución del sustrato. La técnica CSM (Continuous Stiffness Measurement) permite una medida continua de la rigidez en función de la penetración o frecuencia. Se trata de una herramienta muy útil no sólo para materiales rígidos como los metales, cerámicas o aleaciones sino también para materiales con comportamiento dependiente del tiempo como polímeros, compuestos o biomédicos. El equipo cuenta con dos cabezales (baja carga y alta carga) que permite barrer rangos de cargas de hasta 50 y 500 mN, respectivamente. El servicio incluye la posibilidad de realizar una caracterización superficial por microscopía óptica confocal e interferométrica para conocer la topografía 3D y rugosidad iniciales y después de haber sido sometidas a ensayos mecánicos o tribológicos.