- Locality
- Madrid (Madrid)
SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Services offered by this unit
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Desarrollo de software científico
- Scanning electron microscopy (SEM): Peltier stage
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Metalización (Sputtering)
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- Espectroscopía micro-Raman
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
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