Áreas de investigación: Ciencia y Tecnología de Materiales

Grupo: Microscopía, Microanálisis e Imagen

Subagrupación: Transmisión

Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

Información relativa a las unidades que ofrecen la prestación seleccionada
Unidad de servicio	Información de la unidad de servicio	Prestación seleccionada	Otras prestaciones de servicio
Microscopia electronica ICMAB - Cerdanyola del Vallès
Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE ICMS - Sevilla
LABORATORIO DE MICROSCOPIA ELECTRONICA CENIM - Madrid
Microscopía Electrónica de Transmisión CICCARTUJA - Sevilla
TEM-BIOPHYM IEM - Madrid

Descripción del servicio

Observación y estudio de muestras en un microscopio electrónico de transmisión analítico (TEM) Jeol JEM 2010: 200 kV, resolución 0,19 nm, Cs 0,5 mm, doble tilt +- 45º. Equipado con sistema de microanálisis de rayos- X por dispersión de energía con un detector XMax80T de Oxford: SDD 80 mm2, resolución 129 eV Mn Ka; Cámara CCD Gatan Orious 600 La observación de las muestras consisten en la visualizacion de imágenes de campo claro y campo oscuro, diagramas de difracción de electrones de área seleccionada, microdifracción y microanálisis. Los estudios que se llevan a cabo están relacionados con la observación de granos, orientación, determinación de estructuras cristalinas de las fases presentes y composición química, análisis de defectos, etc.

Cuadro de opciones y precios
Opciones	Unidad	Sector Público	Otros Clientes
General	euro / hora	91.01 €	114.07 €

Descripción del servicio

Observación y estudio de muestras en un microscopio electrónico de transmisión analítico (TEM) Jeol JEM 2010: 200 kV, resolución 0,19 nm, Cs 0,5 mm, doble tilt +- 45º. Equipado con sistema de microanálisis de rayos- X por dispersión de energía con un detector XMax80T de Oxford: SDD 80 mm2, resolución 129 eV Mn Ka; Cámara CCD Gatan Orious 600 La observación de las muestras consisten en la visualizacion de imágenes de campo claro y campo oscuro, diagramas de difracción de electrones de área seleccionada, microdifracción y microanálisis. Los estudios que se llevan a cabo están relacionados con la observación de granos, orientación, determinación de estructuras cristalinas de las fases presentes y composición química, análisis de defectos, etc.

Cuadro de opciones y precios
Opciones	Unidad	Sector Público	Otros Clientes
General	hora uso microscopio	121.12 €	132.65 €

Descripción del servicio

Observación y estudio de muestras en un microscopio electrónico de transmisión analítico (TEM) Jeol JEM 2010: 200 kV, resolución 0,19 nm, Cs 0,5 mm, doble tilt +- 45º. Equipado con sistema de microanálisis de rayos- X por dispersión de energía con un detector XMax80T de Oxford: SDD 80 mm2, resolución 129 eV Mn Ka; Cámara CCD Gatan Orious 600 La observación de las muestras consisten en la visualizacion de imágenes de campo claro y campo oscuro, diagramas de difracción de electrones de área seleccionada, microdifracción y microanálisis. Los estudios que se llevan a cabo están relacionados con la observación de granos, orientación, determinación de estructuras cristalinas de las fases presentes y composición química, análisis de defectos, etc.

Cuadro de opciones y precios
Opciones	Unidad	Sector Público	Otros Clientes
Sesión de dos horas en TEM	€ / sesión	212.16 €	232.37 €

Descripción del servicio

Observación y estudio de muestras en un microscopio electrónico de transmisión analítico (TEM) Jeol JEM 2010: 200 kV, resolución 0,19 nm, Cs 0,5 mm, doble tilt +- 45º. Equipado con sistema de microanálisis de rayos- X por dispersión de energía con un detector XMax80T de Oxford: SDD 80 mm2, resolución 129 eV Mn Ka; Cámara CCD Gatan Orious 600 La observación de las muestras consisten en la visualizacion de imágenes de campo claro y campo oscuro, diagramas de difracción de electrones de área seleccionada, microdifracción y microanálisis. Los estudios que se llevan a cabo están relacionados con la observación de granos, orientación, determinación de estructuras cristalinas de las fases presentes y composición química, análisis de defectos, etc.

Cuadro de opciones y precios
Opciones	Unidad	Sector Público	Otros Clientes
General	hora uso microscopio	88.06 €	96.45 €

Descripción del servicio

Observación y estudio de muestras en un microscopio electrónico de transmisión analítico (TEM) Jeol JEM 2010: 200 kV, resolución 0,19 nm, Cs 0,5 mm, doble tilt +- 45º. Equipado con sistema de microanálisis de rayos- X por dispersión de energía con un detector XMax80T de Oxford: SDD 80 mm2, resolución 129 eV Mn Ka; Cámara CCD Gatan Orious 600 La observación de las muestras consisten en la visualizacion de imágenes de campo claro y campo oscuro, diagramas de difracción de electrones de área seleccionada, microdifracción y microanálisis. Los estudios que se llevan a cabo están relacionados con la observación de granos, orientación, determinación de estructuras cristalinas de las fases presentes y composición química, análisis de defectos, etc.

Cuadro de opciones y precios
Opciones	Unidad	Sector Público	Otros Clientes
Sesión de TEM	euro / sesión	120.03 €	131.46 €