- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subgroup
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- Fuerza Atómica / Efecto Tunel
Scanning probe microscopy: AFM (Atomic Force Microscopy)
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
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Servicio de Micro y Nanofabricación (MiNa) IMN-CNM - Tres Cantos |
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES Y RECUBRIMIENTOS CEQMA - Zaragoza |
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA ICTP - Madrid |
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CARACTERIZACIÓN ÓPTICA DE MATERIALES IO - Madrid |
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MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS ICMAB - Cerdanyola del Vallès |
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UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS IETCC - Madrid |
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Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y AFM ICV - Madrid |
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|
Técnicas de caracterización SOFTMATPOL IEM - Madrid |