Localidad
Madrid (Madrid)

Web
http://www.biophym.iem.csic.es/index.php/en/

La unidad TEM-BIOPHYM ofrece t los medios para la caracterización de muestras mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM), de fuerzas atómicas (AFM) y de reología.
-El microscopio electrónico (JEOL-2100) trabaja en voltaje de aceleración de 200 kV con una unidad de microanálisis de rayos X (XEDS). El equipo puede obtener imágenes de alta resolución, diagramas de difracción de electrones y análisis elemental. Estas tres técnicas se pueden aplicar de forma simultánea para caracterizar los materiales a escala nanométrica con resolución hasta 3.2 amstrongs.
-El AFM de modo de contacto (TA instruments) se basa en el uso de una sonda mecánica para generar imágenes magnificadas de la superficie de las muestras. El instrumento es operable en ambiente y resuelve características en tres dimensiones, hasta unos pocos nanómetros.
-La reología se lleva a cabo en los modos de torsión y capilar.
Para más información: http://tem-biophym.iem.csic.es/

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