Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión

El servicio de microscopía electrónica se creó en el año 2008 y consta de un microscopio electrónico de barrido (SEM) QUANTA FEI 200 FEG-ESEM y un microscopio electrónico de transmisión (TEM) JEOL JEM-1210. El FEI Quanta 200 FEG está equipado con un cañón de emisión de campo (FEG) y puede trabajar en modo de alto vacío (HV), de bajo vacío (LV) y ambiental (ESEM). El equipo consta de un analizador de energía dispersiva de rayos X (EDX) y de un sistema de nano-litografía por haz de electrones (e-beam RAITH). El JEOL JEM1210 (120KV) es un microscopio electrónico de transmisión con una resolución de 3.2 Å punto a punto. Está equipado con un portamuestras analítico de doble inclinación (Inclinación X = ± 60o, Inclinación Y = ± 30o) modelo GATAN 646. En 2011 se instaló una cámara digital GATAN, ORIUS 831 SC 600, adecuada para el registro de imágenes y de patrones de difracción.

El servicio integra técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía electrónica de transmisión (TEM) y un laboratorio para la preparación de muestras de. Dispone de: - Un microscopio SEM de emisión de campo de cátodo frío Hitachi S-4800, equipado con detector EDX y capacidad STEM-in-SEM, que permite obtener imágenes de alta resolución, análisis elementales y mapas químicos. - Dos TEM; un JEOL 2100Plus de 200 kV con detector EDX Oxford X-Max 80T y un Tecnai F30 de emisión de campo con modos TEM y STEM, detectores HAADF, EDX y filtro de energía (GIF), posibilitando estudios de alta resolución, difracción electrónica, EELS, EFTEM, espectro-imagen y tomografía electrónica, que permite la caracterización microestructural y química de materiales a escala nanométrica. -El laboratorio de preparación cuenta con sistemas de metalización, evaporación de carbono, corte, pulido mecánico y adelgazamiento iónico, para la obtención de muestras electrón-transparentes.

El servicio realiza microscopía electrónica en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución. Puede trabajar sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. Proporciona imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. Proporciona también análisis elemental EDX. El servicio no dispone de certificaciones ni acreditaciones. Dispone de un equipo TEM de 200 kV Jeol2100 Plus dotado de cámara CCD y de un detector EDX SDD X-Max 80T (Oxford Instruments). No dispone de modo STEM. Tiene una resolución de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos.