- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Fuerza Atómica / Efecto Tunel
Microscopía de barrido: Tapping AFM
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
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LABORATORIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES CENIM - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES
- Instituto: CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIONES METALURGICAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.cenim.csic.es/
El Laboratorio posee dos técnicas de análisis de superficies: -Espectroscopía Fotoelectrónica de rayos X (XPS), VG Microtech, modelo MT 500, (Fisons Instruments), con una fuente de Rayos X dual (Mg/Al), detector CMA de tres channeltron y cañón de iones EX05 para el bombardeo por iones Ar -Microscopía de fuerza atómica (AFM), marca Agilent modelo 5100. Se trata de un laboratorio con Sistema de Gestión de Calidad (ISO 9001:2008) con certificado nº SGI 6016951. El análisis por XPS proporciona información sobre la composición elemental y el estado químico de cada elemento. En combinación con el bombardeo con iones Argón (A.I.B.) se pueden obtener perfiles de composición hasta un máximo de 100nm. El análisis por AFM permite obtener una medida de la topografía y rugosidad de muestras sólidas tanto en aire como en líquidos. Dependiendo de la punta es posible obtener información sobre otras propiedades superficiales (medida de diferencias de potencial (SKP), conductividad, etc.
Microscopía de barrido: Tapping AFM
Descripción de la prestación
Tapping AFM o también llamado AFM acústico es un modo de contacto intermitente en el que se aplica una corriente alterna al cantilever. Este modo de medida permite obtener imágenes de muestras frágiles que no es posible en el modo contacto. En este modo de medida, se lleva al cantilever a su frecuencia natural de resonancia, que puede variar de cantilever a cantilever y que se elegirá en función de la muestra a analizar. A esa frecuencia de resonancia, la punta oscila arriba y abajo con una amplitud medible que depende de la distancia a la muestra (fuerzas atractivas o repulsivas). Si las fuerzas son atractivas, la amplitud aumenta y si son repulsivas, disminuye. El piezo del eje Z se ajusta (retroalimentación) para mantener la amplitud del setpoint y por lo tanto se genera una imagen topográfica cuando el cantilever mapea la superficie.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | € / sesión | 99.47 € | 108.95 € |
| General con informe | € / sesión | 123.67 € | 135.44 € |
Otras prestaciones de servicio
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica conductiva C-AFM
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy)
- Spectroscopy: X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría