Microscopía electrónica de barrido (SEM): Bajo voltaje

El servicio comprende la microscopía electrónica de barrido (SEM), junto con un laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM. --El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales. El equipo disponible es un SEM-FEG Hitachi-S4800 (0.5-30 kV), con analizador EDX Bruker-X Flash-4010 (resolución 133 eV en el MnKα) y un detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM). --El laboratorio de preparación de muestras dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco y ultrasónica, pulidora, “disc-grinder”, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador