Microscopía electrónica de barrido (transferido al servicio Unidad de Apoyo II)

Objetivo Dar apoyo a la investigación científica tanto interna (del ICP) como externa (de otros centros del CSIC, OPIs, universidades y empresas) mediante la técnica de Microscopía de Electrónica de Barrido (SEM). El equipo Se dispone de un microscopio electrónico de barrido de sobremesa de la marca Hitachi y modelo TM-1000, que incluye un sistema de microanálisis mediante un espectrómetro de rayos X de energía dispersiva (EDS). Características y prestaciones generales del equipo TM-1000: • Mínimo-máximo número de aumentos: 25 - 10000 • Amplia versatilidad en tamaño y naturaleza de las muestras: en polvo o voluminosas (insectos, plantas, membranas, monolitos catalíticos, etc.) • Detector de electrones retrodispersados (backscattering) para generar imágenes • No requiere recubrimiento metálico de la superficie de la muestra para hacerla conductora • Detector de rayos X (EDS) para análisis químico, ya sea general o puntual • Manejo sencillo, cóm