Microscopía electrónica de transmisión

El Servicio de Microscopia Electrónica de Transmisión es un servicio general cuya actividad consiste en la caracterización microestructural y elemental de materiales mediante las técnicas CTEM, HRTEM, SAED, STEM, EDX. Disponemos de un equipo TEM/STEM (JEOL 2100F) operando a 200KV con un cañón de emisión de campo (FEG), obteniendo una resolución de punto de 0.19 nm. El equipo lleva además acoplado un detector EDX (INCA x-sight de Oxford Instruments), lo que le permite la posibilidad de análisis químico semicuantitativo. Al estar incorporada una unidad STEM, pueden adquirirse imágenes de contraste z (HAADF), así como la posibilidad de obtener análisis químicos de zonas de unos pocos nanómetros. Este Servicio presta su apoyo analítico al personal investigador del CSIC, así como a Universidades, Centros de Investigación y Empresas u Organismos Privados que así lo soliciten.