- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subgroup
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- Óptica y Fotónica
In-situ reflectance and transmittance of materials (350-1700 nm)
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
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UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS IETCC - Madrid |
Service general data
- Support unit: UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIAS DE LA CONSTRUCCION EDUARDO TORROJA
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.ietcc.csic.es/
La Unidad de Ensayos gestiona una serie de técnicas instrumentales y de caracterización fisico-quimicas para el ensayo y análisis de materiales de construcción. Tanto de los constituyentes como de los productos. Principalmente se analizan materiales en base cemento, como morteros y hormigones, y los constituyentes de estos.Cada una de las técnicas son de carácter general y se aplican a diferentes lineas de investigación. Es necesaria la utilización de diferentes técnicas para el análisis de los materiales, ya que su estudio incluye su fabricación, caracterización, durabilidad y vida en servicio; así como el análisis de su potencial deterioro debido a su interacción con el medioambiente así como con otros factores
In-situ reflectance and transmittance of materials (350-1700 nm)
Benefit description
Measurement of reflectance and/or transmittance of solid samples in the range from 350 to 1700 nm. Portable spectrophotometer with fiber optic cables that allows in-situ measurements. Accesories: fixture for transmittance measurements with collimating lenses; reflectance probe with 7 illuminating fibers wrapped around 1 central read fiber; reflectance probe holder for measurements at 90° and 45°; 50 mm integrating sphere for total reflectance measurements at 8°and optional exclusion of specular component.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Medidas de reflectancia y transmitancia in-situ | € / muestra | 124.95 € | 136.85 € |
Other services
- Análisis elementos: ICP-OES
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Conductividad
- Metalización (Sputtering)
- pH
- Porosidad
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución (SEM)
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Preparación metalográfica
- Calorimetría diferencial de barrido (DSC)
- Análisis Elementos: Métodos Clásicos de Análisis (Gravimetría, Volumetría y Electrogravimetría)
- Tratamiento de muestras: metalizado por evaporación
- Determinación de propiedades fisico-químicas mediante potenciometría
- Cromatografía líquida