- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subgroup
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- Óptica y Fotónica
Spectral reflectance, regular or specular, of materials
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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LABORATORIO DE ESPECTROSCOPIA RAMAN, FOTOLUMINISCENCIA Y DE MÉTODOS ESPECTRALES E HIPERESPECTRALES GEO3BCN - Barcelona |
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LABORATORIO DE FOTOMETRÍA, RADIOMETRÍA Y FIBRAS ÓPTICAS IO - Madrid |
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Deposición de recubrimientos y reflectometría en ultravioleta lejano IO - Madrid |
Service general data
- Support unit: LABORATORIO DE ESPECTROSCOPIA RAMAN, FOTOLUMINISCENCIA Y DE MÉTODOS ESPECTRALES E HIPERESPECTRALES
- Institute: GEOCIENCIAS BARCELONA
- Locality: Barcelona (Barcelona)
- Service's web: http://www.geo3bcn.csic.es/
El Laboratorio de Espectroscopía Raman y Fotoluminiscencia está especializado en el análisis de las propiedades vibracionales y luminiscentes de sólidos. La Espectroscopía Raman permite obtener información sobre las vibraciones atómicas en sólidos cristalinos y amorfos. La Fotoluminiscencia permite obtener información sobre la estructura electrónica de los cristales y de sus impurezas, strain, etc. Asimismo, pueden realizarse medidas de absorción óptica. El Laboratorio posee un espectrómetro triple T64000 para las medidas Raman y un espectrómetro simple HR1000 para realizar medidas de fotoluminiscencia y absorción óptica. Se dispone también de distintos láseres : láser de Ar+ de 20W, laser de He-Ne, laser Titanio-Zafiro, dos láseres de He-Cd y laser de Nd:YAG, así como de diversos criostatos y platinas calefactoras para realizar las medidas en función de la temperatura y de una celda de yunque de diamante para realizar medidas bajo presión hidrostática.
Spectral reflectance, regular or specular, of materials
Benefit description
Laboratory acquisition of hyperspectral images (reflectance from 400 to1000 nm).| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Imágenes hiperespectrales (Reflectancia en 900 - 1700 nm) | 53.49 € | 58.58 € | |
| Imágenes hiperespectrales (reflectancia en 400 - 1000 nm) | 102.82 € | 112.61 € |
Service general data
- Support unit: LABORATORIO DE FOTOMETRÍA, RADIOMETRÍA Y FIBRAS ÓPTICAS
- Institute: INSTITUTO DE OPTICA DAZA DE VALDES
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.io.csic.es
Es el Laboratorio de referencia a nivel regional, nacional e internacional para las magnitudes relacionadas con la medida de radiación óptica. Los certificados de calibración emitidos son reconocidos por ENAC. El Laboratorio está integrado en la Red de Laboratorios de la Comunidad de Madrid desde 2001. Se dispone de las técnicas instrumentales necesarias para llevar a cabo el estudio de: - Características fotométricas y radiométricas de fuentes de radiación - Caracterización de detectores de radiación óptica. - Propiedades ópticas de materiales. • Caracterización de instrumentos de medida de radiación óptica • Propiedades de transmisión de fibras ópticas. Propiedades no lineales de fibras • Caracterización de instrumentos de medida de propiedad
Spectral reflectance, regular or specular, of materials
Benefit description
Quantity: regular reflectance. Instruments or artifacts: Samples whose reflectance is predominantly specular, with negligible diffuse reflectance. Measurement method: Spectrophotometer. Measurment conditions: Wavelength from 220 nm to 2500 nm. Geometry: incidence angle variable (7,5º-70º)| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Variante intervalo 1 | 470.68 € | 484.54 € | |
| General completa | 545.23 € | 597.16 € | |
| Variante intervalo 2 | 510.01 € | 525 € |
Other services
- Responsividad luminosa de Iluminancimetros
- Responsividad de luminancia de luminancimetros
- Responsividad espectral de detectores de banda ancha (300 nm - 1600 nm y líneas láser)
- Transmitancia-Absorbancia espectral de materiales
- Reflectancia espectral difusa de materiales
- Temperatura de color correlacionada de fuentes de radiación
- Color de superficies
- Intensidad Luminosa de una fuente de luz
- Flujo Luminoso de una fuente de luz
- Irradiancia espectral
- Longitud de onda de bandas de absorción en filtros de holmio y didimio
- Calibración de espectrorradiómetros
- Calibración de radiómetros UV (365 nm)
- Calibración de espectrómetros, analizadores de espectros ópticos (OSA) y medidores de longitud de onda
- Calibración de atenuadores ópticos para fibra óptica
- Calibración de fuentes láser de fibra óptica
- Calibración de medidores de potencia
- Calibración de OTDRs
- Calibración de equipos de medida de atenuación espectral en fibra óptica
- Calibración de equipos de medida de dispersión cromática en fibra óptica
- Atenuación espectral en fibra óptica
- Calibración de medidores de PMD
- Dispersión cromática en fibra óptica
- Medida de Circuitos fotónicos integrados
- Patrón de luminancia
- Reflectancia espectral bidireccional- BRDF
- Interrogadores de redes de Bragg
- Dispersión del modo por polarización (PMD)
- Longitud de fibras ópticas y líneas recirculantes
- Longitud de onda de corte de fibra óptica
- Pérdidas de retorno en fibra óptica
- Factor de reflectancia 0º : 45º
- Formación en Metrología de Fibras Ópticas
- Calibración de células de absorción de referencia
- Curso de introducción a las magnitudes fotométricas y radiométricas y equipos de medición de las mismas
- Calibración de patrones de reflectancia multiángulo
- Pérdidas de inserción en fibras ópticas y dispositivos de fibra óptica
- Reflectancia difusa de materiales en el infrarrojo
- Intercomparaciones sobre magnitudes ópticas
Service general data
- Support unit: Deposición de recubrimientos y reflectometría en ultravioleta lejano
- Institute: INSTITUTO DE OPTICA DAZA DE VALDES
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.io.csic.es
Dispone del equipo necesario para hacer las siguientes preparaciones y medidas: - Deposición de láminas delgadas y multicapas mediante las técnicas en vacío de evaporación y de sputtering, que se pueden combinar en una multicapa. - Reflectómetría en el ultravioleta lejano y extremo en el intervalo espectral de 50 a 200 nanómetros.
Spectral reflectance, regular or specular, of materials
Benefit description
The reflectometer/transmisometer covers the spectral range of 50 to 200 nanometers (nm). The equipment allows measuring the specular reflectance and transmittance of flat samples in the approximate angular range of 5º to 85º. The maximum dimensions of the samples are 50.8x50.8 mm and preferably not thicker than 3 mm. The equipment has a Rochon polarizer for wavelengths longer than 130 nm. It also has a transmittance polarizer based on a coating developed at GOLD laboratory that approximately covers the range 120-130 nm. For measurements at wavelengths shorter than 120 nm, light impinging on the sample is partially polarized. The reflectometer/transmissometer allows the measurement in two planes of incidence that are perpendicular to each other, which makes it possible to obtain reflectance or transmittance that is equivalent to non-polarized light. The reflectometer is connected in vacuum with two coating deposition chambers, one operating by evaporation and the other by sputtering, so that the reflectance and transmittance of these films or multilayers can be measured in situ, i.e., before exposing them to the atmosphere. The reflectometer is located in an ISO-8 clean room.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Reflectancia/transmitancia en ultravioleta lejano-extremo | 65.02 € | 71.22 € |