- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Transmisión
Microscopía Electrónica de Transmisión: Spectrum imaging
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE ICMS - Sevilla |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Localidad: Sevilla (Sevilla)
- Web del servicio: http://www.lane.icmse.csic.es/
El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala
Microscopía Electrónica de Transmisión: Spectrum imaging
Descripción de la prestación
TEM: Espectro-Imagen El análisis espectro-imagen se realiza en modo barrido (STEM) en un microscopio TEM para obtener matrices de datos que contienen datos espectrales además de la información espacial a partir de imágenes de contraste en Z obtenidas con el detector anular. El microscopio Tecnai F30 está equipado con un filtro en energía Gatan (GIF Quantum SE), que permite la adquisición de espectros de pérdidas de energía de los electrones, así como con un detector Silicon Drift X-Max 80T (Oxford Instruments) para analizar la emisión de rayos-X por dispersión de energías (EDX). Las señales HAADF, EELS y EDX pueden ser adquiridas simultáneamente ó de manera independiente a través del software DigiScan.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 159.96 € | 183.95 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía Electrónica de Transmisión : EELS ( Espectroscopia por pérdida de energía)
- Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF