- Áreas de investigación
-
- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
-
- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
-
- Transmisión
Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
|
Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE ICMS - Sevilla |
|||
|
Microscopía Electrónica de Transmisión CICCARTUJA - Sevilla |
|||
|
CNB - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Localidad: Sevilla (Sevilla)
- Web del servicio: http://www.lane.icmse.csic.es/
El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala
Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
Descripción de la prestación
TEM de alta resolución Se realiza microscopía electrónica en modo transmisión sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. En condiciones de apertura objetiva grande se realizan imágenes con altos aumentos hasta el límite de resolución del microscopio (HRTEM). Resolución: 0.102 nm entre lineas y 0.205 nm entre puntos. Prestaciones: imágenes de alta resolución que identifican la estructura atómica de dominios cristalinos. Se dispone de portamuestras de uno y dos ángulos de giro (+/- 40 grados en alfa y +/- 30 grados en beta). El microscopio opera con cañón de emision de campo de 300 kV (FEG Schottky) y está equipado con una cámara CCD Gatan Ultrascan 2kx2k. Se puede bajar el voltaje de aceleración para estudiar muestras sensibles al haz de electrones.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | hora uso microscopio | 159.96 € | 183.95 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía Electrónica de Transmisión : EELS ( Espectroscopia por pérdida de energía)
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Spectrum imaging
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Microscopía Electrónica de Transmisión
- Instituto: CENTRO DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS ISLA DE LA CARTUJA
- Localidad: Sevilla (Sevilla)
- Web del servicio: http://www.icms.us-csic.es/es/electrones
El servicio realiza microscopía electrónica en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución. Puede trabajar sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. Proporciona imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. Proporciona también análisis elemental EDX. El servicio no dispone de certificaciones ni acreditaciones. Dispone de un equipo TEM de 200 kV Jeol2100 Plus dotado de cámara CCD y de un detector EDX SDD X-Max 80T (Oxford Instruments). No dispone de modo STEM. Tiene una resolución de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos.
Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
Descripción de la prestación
TEM: alta resolución Se realiza microscopía electrónica en modo transmisión sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. En condiciones de apertura objetiva grande se realizan imágenes subiendo los aumentos hasta el límite de resolución del microscopio (HRTEM). Resolución: 0.23 nm entre puntos y 0.14 nm entre líneas. Prestaciones: Imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. Se dispone de portamuestras de uno y dos ángulos de giro. El microscopio opera con filamento de hexaboruro de lantano (LaB6).| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | hora uso microscopio | 66.75 € | 82.64 € |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: CRIOMICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
- Instituto: CENTRO NACIONAL DE BIOTECNOLOGIA
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.cnb.csic.es/
El servicio de microscopía criomicroscopía electrónica (crioME), un esfuerzo conjunto del Centro Nacional de Biotecnología (CNB - CSIC) y el Centro de Investigaciones Biológicas (CIB- CSIC), se centra en la preparación de muestras y recogida de imágenes para crioME. El servicio alberga un microscopio electrónico equipados para crioME de material biológico sin teñir: Un FEI TALOS Arctica equipado con un cargador automático y con un detector de electrones directa Falcon 4i es ideal para la recogida de gran cantidad de datos de alta resolución. Además, el servicio ofrece el uso de un 120kV Jeol 1400 equipado con una cámara CCD, para muestras teñidas a temperatura ambiente. El servicio también alberga equipos diferentes para la vitrificación de muestras, un Vitrobot FEI, un Leica EM CPC, un Leica GP2 y un equipo de High pressure freezing. Además, contamos con un servicio de criomicroscopía correlativa equipado con un microscopio FIB-SEM CrossBeam 500.
Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
Descripción de la prestación
Colocación de las rejillas vitrificadas en el portamuestras. Introducción del portamuestras en el microscopio. Ajustes del microscopio. Visualización de las muestras en busca de la rejilla adecuada. Preparación del microscopio para la toma automática de imágenes. Toma y recogida de las imágenes.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Talos Arctica | €/ sesion | 865.6 € | 948.04 € |