- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Transmisión
Microscopía Electrónica de Transmisión : EELS ( Espectroscopia por pérdida de energía)
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE ICMS - Sevilla |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Localidad: Sevilla (Sevilla)
- Web del servicio: http://www.lane.icmse.csic.es/
El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala
Microscopía Electrónica de Transmisión : EELS ( Espectroscopia por pérdida de energía)
Descripción de la prestación
TEM: EELS (espectroscopía de pérdida de energía de electrones) La técnica EELS permite analizar la perdida de energía de electrones debido a las interacciones inelásticas con la muestra. Permite obtener informaciones como la composición elemental y la estructura electrónica local. El microscopio está equipado con un filtro de energías Gatan (GIF Quantum SE) que permite la adquisición de espectros de pérdidas de energía de los electrones con un detector CCD 2kx2k. La resolución en energía medida a partir de la anchura a media altura del pico elástico es de 0.65 eV. Se pueden realizar análisis elementales de áreas seleccionadas, análisis puntuales, en línea y análisis espectro-imagen con alta resolución lateral usando el modo STEM. Igualmente se dispone de un detector de campo oscuro anular integrado. Los espectros EELS se registran en 2048 canales, con una dispersión en energía variable (de 0.05 a 1 eV/canal) y con una apertura de entrada al filtro también variable (2.5 or 5 mm). Estos parámetros se ajustan para optimizar los experimentos.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | 159.96 € | 183.95 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Spectrum imaging
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF