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Resultados de la búsqueda
Caracterización de superficies mediante microscopia de fuerzas.
Current sensing AFM allows detailed analysis of the conductivity of samples along with normal
topography analysis from AFM. To do CSAFM, you need a…
C-AFM permite el análisis en detalle de la conductividad de las muestras junto con el análisis topográfico normal obtenido con AFM normal. Para…
Atomic Force Microscopy (AFM) is a powerful imaging technique that provides high-resolution surface topography at the nanoscale. It provides three-…
La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una potente técnica de obtención de imágenes que proporciona una topografía de superficies de alta…
Surface potential measurement, also called Kelvin force microscopy, is based on "tapping" mode and is necessary to have a conductive tip.…
La medida de potencial superficial, también llamado sonda Kelvin (KFM), está basado en el modo "tapping" y es necesario disponer de una punta…
The detection scheme of scanning electrochemical microscopy (SECM) bases on the positioning of a microelectrode (the SECM tip or probe) in close…
El esquema de detección del microscopio electroquímico de barrido (SECM) se basa en el posicionamiento de un microelectrodo (punta SECM o sonda) muy…
Tapping AFM also called Acoustic AFM is an intermittent contact mode of AFM in which the cantilever is driven by an alternating current. This…