Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF

El servicio de microscopía electrónica se creó en el año 2008 y consta de un microscopio electrónico de barrido (SEM) QUANTA FEI 200 FEG-ESEM y un microscopio electrónico de transmisión (TEM) JEOL JEM-1210. El FEI Quanta 200 FEG está equipado con un cañón de emisión de campo (FEG) y puede trabajar en modo de alto vacío (HV), de bajo vacío (LV) y ambiental (ESEM). El equipo consta de un analizador de energía dispersiva de rayos X (EDX) y de un sistema de nano-litografía por haz de electrones (e-beam RAITH). El JEOL JEM1210 (120KV) es un microscopio electrónico de transmisión con una resolución de 3.2 Å punto a punto. Está equipado con un portamuestras analítico de doble inclinación (Inclinación X = ± 60o, Inclinación Y = ± 30o) modelo GATAN 646. En 2011 se instaló una cámara digital GATAN, ORIUS 831 SC 600, adecuada para el registro de imágenes y de patrones de difracción.

El servicio integra técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía electrónica de transmisión (TEM) y un laboratorio para la preparación de muestras de. Dispone de: - Un microscopio SEM de emisión de campo de cátodo frío Hitachi S-4800, equipado con detector EDX y capacidad STEM-in-SEM, que permite obtener imágenes de alta resolución, análisis elementales y mapas químicos. - Dos TEM; un JEOL 2100Plus de 200 kV con detector EDX Oxford X-Max 80T y un Tecnai F30 de emisión de campo con modos TEM y STEM, detectores HAADF, EDX y filtro de energía (GIF), posibilitando estudios de alta resolución, difracción electrónica, EELS, EFTEM, espectro-imagen y tomografía electrónica, que permite la caracterización microestructural y química de materiales a escala nanométrica. -El laboratorio de preparación cuenta con sistemas de metalización, evaporación de carbono, corte, pulido mecánico y adelgazamiento iónico, para la obtención de muestras electrón-transparentes.