- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subgroup
-
- Transmisión
TEM: High Resolution TEM
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE ICMS - Sevilla |
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Microscopía Electrónica de Transmisión CICCARTUJA - Sevilla |
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CNB - Madrid |
Service general data
- Support unit: Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Locality: Sevilla (Sevilla)
- Service's web: http://www.lane.icmse.csic.es/
El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala
TEM: High Resolution TEM
Benefit description
TEM High resolution TEM Electron microscopy is performed in transmission mode on electron-transparent samples prepared ad-hoc for this purpose. In conditions of large objective aperture images are taken at high magnification up-to the resolution limit of the microscope (HRTEM). Resolution: 0.102 nm line and 0.205 nm point-to-point. Features: high-resolution images which identify the atomic structure of crystalline domains. Available sample holders: Single and double tilt (+/- 40 degrees in alpha y +/- 30 degrees in beta). The microscope operates with a 300 kV Field Effect Gun (FEG Schottky) and is equipped with a Gatan Ultrascan 2kx2k CCD camera. Acceleration voltage can be decreased for the study of electron beam sensitive materials.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | hora uso microscopio | 159.96 € | 183.95 € |
Other services
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía Electrónica de Transmisión : EELS ( Espectroscopia por pérdida de energía)
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Spectrum imaging
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF
Service general data
- Support unit: Microscopía Electrónica de Transmisión
- Institute: CENTRO DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS ISLA DE LA CARTUJA
- Locality: Sevilla (Sevilla)
- Service's web: http://www.icms.us-csic.es/es/electrones
El servicio realiza microscopía electrónica en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución. Puede trabajar sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. Proporciona imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. Proporciona también análisis elemental EDX. El servicio no dispone de certificaciones ni acreditaciones. Dispone de un equipo TEM de 200 kV Jeol2100 Plus dotado de cámara CCD y de un detector EDX SDD X-Max 80T (Oxford Instruments). No dispone de modo STEM. Tiene una resolución de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos.
TEM: High Resolution TEM
Benefit description
TEM: High resolution TEM Electron microscopy is performed in transmission mode on electron-transparent samples prepared ad-hoc for this purpose. In conditions of large objective aperture images are taken at high magnification up-to the resolution limit of the microscope (HRTEM). Resolution: 0.14 nm between lines and 0.23 nm point-to-point. Features: High-resolution images which identify crystalline domains. Available sample holders: Single and double tilt. The microscope operates with LaB6 filament.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | hora uso microscopio | 66.75 € | 82.64 € |
Service general data
- Support unit: CRIOMICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
- Institute: CENTRO NACIONAL DE BIOTECNOLOGIA
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.cnb.csic.es/
El servicio de microscopía criomicroscopía electrónica (crioME), un esfuerzo conjunto del Centro Nacional de Biotecnología (CNB - CSIC) y el Centro de Investigaciones Biológicas (CIB- CSIC), se centra en la preparación de muestras y recogida de imágenes para crioME. El servicio alberga un microscopio electrónico equipados para crioME de material biológico sin teñir: Un FEI TALOS Arctica equipado con un cargador automático y con un detector de electrones directa Falcon 4i es ideal para la recogida de gran cantidad de datos de alta resolución. Además, el servicio ofrece el uso de un 120kV Jeol 1400 equipado con una cámara CCD, para muestras teñidas a temperatura ambiente. El servicio también alberga equipos diferentes para la vitrificación de muestras, un Vitrobot FEI, un Leica EM CPC, un Leica GP2 y un equipo de High pressure freezing. Además, contamos con un servicio de criomicroscopía correlativa equipado con un microscopio FIB-SEM CrossBeam 500.
TEM: High Resolution TEM
Benefit description
Placing vitrified grids in the sample holder. Introduction of the specimens in the microscope. Microscope settings. Viewing samples for chosing the proper grid. Preparation of the microscope for automatic image collection. Image collection.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Talos Arctica | €/ sesion | 865.6 € | 948.04 € |